比長(zhǎng)儀以不接觸光學(xué)定位方法瞄準(zhǔn)被測(cè)長(zhǎng)度，主要用于測(cè)量線紋距離的精密長(zhǎng)度測(cè)量工具。

比長(zhǎng)儀一般采用測(cè)量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)定位部件，并以精密線紋尺的刻度或光波波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度，與被測(cè)長(zhǎng)度比較而確定量值。比長(zhǎng)儀主要用于檢定線紋尺，測(cè)量分劃板上的線距和物理、天文類(lèi)照相底片上的光波譜線距離，也可用于測(cè)量孔徑。

比長(zhǎng)儀用途

比長(zhǎng)儀適用于按JC/T603-2004《水泥膠砂干縮試驗(yàn)方法》、JTGE30-2005《公路工程水泥及砼試驗(yàn)規(guī)程》中T0511條規(guī)程、JGJ70-90《建筑砂漿基本性能試驗(yàn)方法》、GB11972-89《加氣砼干縮試驗(yàn)方法》、GB/T14685《建筑用卵石、碎石》的要求測(cè)定水泥膠砂、水泥砂漿試件各齡期的干縮率;也可按JC313-96《膨脹水泥膨脹率試驗(yàn)方法》、JC453-96《自應(yīng)力水泥物物檢方法》的要求測(cè)定該類(lèi)水泥的膨脹率，限制膨脹率及自應(yīng)力值。

比長(zhǎng)儀的分類(lèi)

比長(zhǎng)儀按結(jié)構(gòu)布局分為縱向的和橫向的兩類(lèi)。縱向比長(zhǎng)儀采用線紋尺作為已知長(zhǎng)度，且結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)符合阿貝原則，稱(chēng)為阿貝比長(zhǎng)儀。測(cè)量時(shí),先用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)被測(cè)線條，從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動(dòng)工作臺(tái)，再用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)另一被測(cè)線條，從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個(gè)數(shù)值之差即是被測(cè)兩線條間距離。

橫向比長(zhǎng)儀的被測(cè)長(zhǎng)度和已知長(zhǎng)度是并列布置的，這種布局可以縮短導(dǎo)軌長(zhǎng)度，但要求導(dǎo)軌精度高。采用愛(ài)賓斯坦光學(xué)系統(tǒng),可以補(bǔ)償結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者，稱(chēng)為光電比長(zhǎng)儀;采用激光或其他單色光波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度者，分別稱(chēng)為激光比長(zhǎng)儀和光電光波比長(zhǎng)儀。阿貝比長(zhǎng)儀的測(cè)量精確度為±1～±1.5微米/200毫米，光電比長(zhǎng)儀可達(dá)到±0.5微米/1000毫米，而光電光波比長(zhǎng)儀和激光比長(zhǎng)儀則可達(dá)到±0.2微米/1000毫米。

混凝土比長(zhǎng)儀的使用方法

1、將比長(zhǎng)儀放在平整的工作臺(tái)面上，再將標(biāo)準(zhǔn)桿安上下里外標(biāo)記放入比長(zhǎng)儀V型槽和上下測(cè)頭內(nèi)，調(diào)整千分表刻度盤(pán)上"0"位與等分表指針對(duì)齊(該位置即為0點(diǎn)位置，每次使用前都要這樣標(biāo)定0位)

2、將被測(cè)試體擦凈(一般試體寫(xiě)有標(biāo)號(hào)的一端向上向外)，輕輕放入比長(zhǎng)儀支架V型槽與上下測(cè)頭內(nèi)，并觀察等分表指針讀數(shù)。

3、測(cè)量試體計(jì)數(shù)時(shí)，首先應(yīng)讀表風(fēng)小針針?biāo)甘镜臄?shù)值供應(yīng)商滄州鑫科建筑儀器有限公司，然后再讀大指針?biāo)甘镜臄?shù)值，測(cè)量度體加時(shí)應(yīng)讀大表盤(pán)的外圈黑字?jǐn)?shù)值;減時(shí)讀圈的紅色數(shù)值(如千分表小表針指在1-2格之間，a.大表針指在86刻度上，應(yīng)讀作1.086mm;又如小表針指在0-1格之間，大表針指在68的刻度上，應(yīng)讀作0.068mm雙如標(biāo)準(zhǔn)桿基長(zhǎng)158mm，

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