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《(20~150)kV X射線束半值層儀校準(zhǔn)規(guī)范》征求意見稿

時(shí)間:2020-08-18    來源:中國(guó)計(jì)量協(xié)會(huì)    作者:儀多多商城     
【導(dǎo)讀】由中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院等單位起草的《(20~150)kV X射線束半值層儀校準(zhǔn)規(guī)范》已完成征求意見稿。

  由中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院等單位起草的《(20~150)kV X射線束半值層儀校準(zhǔn)規(guī)范》已完成征求意見稿。

  節(jié)選該規(guī)范部分內(nèi)容:

  本規(guī)范適用于放射診斷(20~150)kV X射線的半值層厚度檢測(cè)儀的校準(zhǔn),其半值層范圍(0.1~14)mmAl。

  引用文件:《GB/T 19629-2005醫(yī)用電氣設(shè)備 X射線診斷影像中使用的電離室和(或)半導(dǎo)體探測(cè)器劑量計(jì)》、《IEC 61267-2005 醫(yī)用診斷X射線設(shè)備–測(cè)量特性使用的輻射條件(Medical diagnostic X-ray equipment – Radiation conditions for use in the determination of characteristics)》、《IAEA TRS 457放射診斷劑量學(xué):國(guó)際規(guī)定(Dosimetry in Diagnostic Radiology:An International Code of Practice)》等等。

  半值層儀由探測(cè)器、減弱過濾和測(cè)量單元(或靜電計(jì))三大部分組成。其原理是通過測(cè)量穿過不同厚度的附加過濾片射線強(qiáng)度,計(jì)算初始輻射強(qiáng)度減弱一半時(shí)的濾片厚度,得到半值層的值。

  測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)及其他測(cè)量設(shè)備

  千分尺:測(cè)量范圍(0~25)mm,精度優(yōu)于0.01mm。

  標(biāo)準(zhǔn)診斷水平劑量計(jì):測(cè)量范圍 (6×10-5~1) Gy/min,年穩(wěn)定性不超過±1%,其電離室在輻射質(zhì)RQR 3~RQR 10(和/或RQA 3~RQA 10)及RQR-M1~

  RQR-M4范圍的能量響均不超過±2.6%。

  衰減過濾片:由純度優(yōu)于99.9%、均勻性優(yōu)于0.01mm的不同厚度鋁片組成,其組合厚度應(yīng)滿足(0.05~37)mmAl。用于40kV以上測(cè)量時(shí),均勻性優(yōu)于10μm,40kV以下時(shí)優(yōu)于5μm。

  溫度計(jì):測(cè)量范圍(0~50)℃,最小分度值不大于0.1 ℃。

  氣壓計(jì):測(cè)量范圍(80~106)kPa,最小分度值不大于0.1 kPa。

  定位系統(tǒng):探測(cè)器的定位夾具應(yīng)使用低原子序數(shù)材料做成,定位裝置應(yīng)便于探測(cè)器和面積準(zhǔn)直器的調(diào)節(jié),可采用光學(xué)、激光等方法定位探測(cè)器和準(zhǔn)直器,定位偏差不超過±1 mm。

  輻射場(chǎng)

  X射線輻射源的管電壓范圍(20~150)kV,管電壓誤差不超過±2.0%。

  (40~150)kV的管電壓誤差不超過±2.0%,(20~40)kV的管電壓誤差不超過±0.5kV。常規(guī)診斷管電壓誤差不超過±2.0%,乳腺管電壓誤差不超過±0.5kV。

  輻射場(chǎng)的輻射質(zhì)應(yīng)與附錄A一致。

  輻射場(chǎng)為準(zhǔn)直束輻射場(chǎng),在測(cè)試平面,推薦射野10 cm×10 cm或φ10 cm。

  

1.jpg


  半值層標(biāo)準(zhǔn)值測(cè)試示意圖見圖1,測(cè)試平面與焦點(diǎn)間距離d1推薦為1000 mm,測(cè)試平面與系列過濾片距離d2推薦為500mm,測(cè)試平面上射野推薦為10 cm×10 cm或φ10 cm。按照附錄A 中IEC 61267推薦的系列輻射質(zhì)建立輻射場(chǎng)或采用不同靶材和附加過濾的乳腺輻射質(zhì)建立輻射場(chǎng)。在每個(gè)輻射質(zhì),用標(biāo)準(zhǔn)診斷水平劑量計(jì)測(cè)量射線穿過不同厚度的鋁片的射線強(qiáng)度,通過作圖法或最小二乘法擬合,確定射線強(qiáng)度減弱到初始值一半時(shí)的Al片厚度,該厚度即為該輻射質(zhì)的半值層(HVL)。

  

2.jpg


  示值誤差可由相對(duì)示值誤差或示值誤差表示。被校儀器校準(zhǔn)示意圖見圖2,測(cè)試平面與焦點(diǎn)間距離d推薦為1000 mm,測(cè)試平面上射野推薦為10 cm×10 cm或φ10 cm。將被校儀器探測(cè)器置于測(cè)試平面,探測(cè)器中心位于射線束軸上,且其中軸線與射線束軸垂直。




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