高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高低溫的可靠性試驗(yàn)，是對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫交變循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

　　高低溫試驗(yàn)箱的溫度校準(zhǔn)有以下方法，在實(shí)際工作中需要根據(jù)實(shí)際情況選擇合適的方法，下面小編便對這幾種校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹。

　　一、在無負(fù)載條件下開展校準(zhǔn)：

　　此方法的優(yōu)點(diǎn)是：高低溫試驗(yàn)箱的整個工作區(qū)域都得到了校準(zhǔn)、測試樣品變得更時不需要重新校準(zhǔn)、能夠?qū)Ω叩蜏卦囼?yàn)箱的適用性做出有效的評估。而它的主要缺點(diǎn)是：不能評估測試樣品對試驗(yàn)箱所造成的影響。

　　二、在有負(fù)載條件下開展校準(zhǔn)：

　　此方法的優(yōu)點(diǎn)是：能夠比較準(zhǔn)確地評估測試樣品對試驗(yàn)箱性能的影響、易于得到測試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。而它的主要缺點(diǎn)是：當(dāng)更換測試樣品時，需要重新校準(zhǔn)。

　　三、在使用過程中的實(shí)時測量：

　　此方法不僅具有1和2所述的方法具有的優(yōu)點(diǎn)，而且能夠得到測試樣品在環(huán)境試驗(yàn)過程中全面的環(huán)境參數(shù)，往往在對環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗(yàn)時采用。它的主要缺點(diǎn)是：每次環(huán)境試驗(yàn)都需要使用測量設(shè)備，通常在試驗(yàn)箱校準(zhǔn)時采用無負(fù)載條件下的校準(zhǔn)方法，本文為了便于評估試驗(yàn)箱的溫度性能，也采用了此方法進(jìn)行分析。