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覆層測厚儀的功能特點及技術(shù)交流

時間:2020-04-21    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     

覆層測厚儀的功能特點

    覆層測厚儀是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量??蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。


    由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準: GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889─95《磁阻法測厚儀》。

 


    覆層測厚儀主要功能:


    可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正:


    具有兩種測量方式地:連續(xù)測量方式(continue)和單次測量方式(single);


    具有兩種工作方式:直接方式和成組方式;


    具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量;


    設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值地(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV);


    具有打印功能,或打印測量值、統(tǒng)計值;


    具有欠壓指示功能;


    操作過程有蜂鳴聲提示;


    具有錯誤提示功能;


    具有自動關(guān)機功能。


    覆層測厚儀技術(shù)參數(shù):


    測頭類型:F。


    測量原理:磁感應(yīng)。


    測量范圍:0-1250um。


    低限分辨力:1?m(10um以下為0.1um)。


    探頭連接方式:一體化。


    示值誤差:一點校準(um)±[3%H 1]。


    兩點校準(um): ±[(1~3)%H 1]。


    測量條件:小曲率半徑(mm) 凸 1.5 凹9。


    基體小面積的直徑(mm):ф7。


    小臨界厚度(mm):0.5。


    溫濕度:0~40℃,20%RH~90%RH。


    統(tǒng)計功能:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、


    標準偏差(S.DEV)。


    工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)。


    測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)上下限設(shè)置。


    存儲能力:15 個測量值。


    打印/連接計算機:可選配打印機/不能連接電腦。


    關(guān)機方式:自動。


    電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池。


    外形尺寸:150×55.5×23mm。


    重量:150g。


    基本配置:主機。


    標準片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)。


    鐵基體。


    充電器。


    可選附件。


    TA230打印機。


    基本配置:


    TT220主機 一臺


    標準樣片 1盒


    標準基體 1塊


    充電器 1個


    覆層測厚儀優(yōu)點:


    測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;


    精度高 :本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上為數(shù)不多能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高;


    穩(wěn)定性:測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品;


    功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。


    覆層測厚儀功能特點:


    采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。


    基本原理:


    本儀器采用了磁性測厚法,可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。  基本工作原理是:當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計算覆層的厚度。


    特點:


    性價比優(yōu)勢:同類進口產(chǎn)品中具有很高的價格性能比。


    服務(wù)優(yōu)勢:具有zui多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的。


    探頭:配備有世界上zui優(yōu)秀的檢測探頭。


    簡介:


    該儀器應(yīng)用于噴涂電鍍、涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)中的表面涂層及各種薄膜厚度的測量,CMI 200型測厚儀是高科技電子技術(shù)和軟件的zui佳組合,多功能、耐用的設(shè)計,專為適應(yīng)zui惡劣的工作環(huán)境而制造,典型應(yīng)用于表面處理工業(yè)。


    參數(shù):


    測量方法:磁感應(yīng)或渦流式


    分辨率:0.1μm/0.01mil


    適用標準:磁感應(yīng)遵守ASTM B499 & B530;DIN 50981;ISO 2178BS 5411 PART9&11有關(guān)規(guī)定。渦流式遵守ASTM B244 & B259;DIN 50984;ISO 2360BS 5411 PART3有關(guān)規(guī)定


    存儲量:12,400條讀數(shù)


    低鐵和無鐵層厚度:12 mils(305μm)


    尺寸及重量:14.9X7.94X3.02 CM;重量:260克(含電池)


    單位:英制和公制,可轉(zhuǎn)換


    電池:9伏干電池或充電電池


    統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示:讀取次數(shù),平均值,標準差,zui高值,zui低值,由打印機或連續(xù)輸出支持的直方圖和CPK圖


    接口:RS-232串行輸出端口


    顯示:1/2英寸背光液晶顯示屏


    鍵區(qū):密封膜?;?9鍵;增強-16鍵


    掃描特征:在指定掃描時間內(nèi)自動平均讀數(shù)(或可提供實際高低值)


    品牌及產(chǎn)地:英國牛津;產(chǎn)地:美國


    標準配置:主機和指定型號的探頭·9伏干電池·標準膜片2片·操作手冊


    應(yīng)用范圍:


    磁感應(yīng):鐵/鋼等磁性基材上的非磁性涂層,例如鋅、鉻、鎘、錫、銅、聚四氟乙烯、環(huán)氧樹脂、油漆、粉末涂料或亞鐵基底的搪瓷上的琺瑯。


    渦流:鋁/銅等導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電性涂層,例如陽極電鍍、油漆、琺瑯/瓷釉、粉末涂料或在非亞鐵基底上的環(huán)氧化物。

標簽: 覆層測厚儀
覆層測厚儀 覆層測厚儀的功能特點_覆層測厚儀

覆層測厚儀有哪些使用參數(shù)?

    覆層測厚儀是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量??蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準: GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。



    覆層測厚儀參數(shù)

    測頭類型:F。

    測量原理:磁感應(yīng)。

    測量范圍:0-1250um。

    低限分辨力:1?m(10um以下為0.1um)。

    探頭連接方式:一體化。

    示值誤差:一點校準(um)±[3%H 1]。

    兩點校準(um): ±[(1~3)%H 1]。

    測量條件:zui小曲率半徑(mm) 凸 1.5 凹9。

    基體zui小面積的直徑(mm):ф7。

    zui小臨界厚度(mm):0.5。

    溫濕度:0~40℃,20%RH~90%RH。

    統(tǒng)計功能:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、

    標準偏差(S.DEV)。

    工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)。

    測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)上下限設(shè)置。

    存儲能力:15 個測量值。

    打印/連接計算機:可選配打印機/不能連接電腦。

    關(guān)機方式:自動。

    電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池。

    外形尺寸:150×55.5×23mm。

    重量:150g。

    基本配置:主機。

    標準片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)。

    鐵基體。

    充電器。

    可選附件。

    TA230打印機。


    覆層測厚儀基本原理

    本儀器采用了磁性測厚法,可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。  基本工作原理是:當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計算覆層的厚度。


    覆層測厚儀基本配置

    TT220主機 一臺

    標準樣片 1盒

    標準基體 1塊

    充電器 1個


    覆層測厚儀主要功能

    可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正:

    具有兩種測量方式地:連續(xù)測量方式(continue)和單次測量方式(single);

    具有兩種工作方式:直接方式和成組方式;

    具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量;

    設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值地(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV);

    具有打印功能,或打印測量值、統(tǒng)計值;

    具有欠壓指示功能;

    操作過程有蜂鳴聲提示;

    具有錯誤提示功能;

    具有自動關(guān)機功能。


    覆層測厚儀優(yōu)點

    測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;

    精度高 :簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上為數(shù)不多能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高;

    穩(wěn)定性:測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品;

    功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。


    涂層測厚儀的使用步驟

    正確裝上電池,注意電池極性。

    市場上流通的涂層測厚儀功能都簡單,就是只能測厚度值,所以開機基本上都可以直接使用,不需要設(shè)置。

    測厚儀出廠的時候都附帶基準片,基準片是用來標定的。當數(shù)值不準的時候要進行數(shù)據(jù)校準。

    在測量之前先測附帶的基準片,如果數(shù)值都準那就不需要再校準。不準的話就要進行校準,各個廠家測厚儀的校準步驟不一樣,按其說明書步驟進行校準即可。

    測量的時候,測厚儀的探頭要放平,放平測量才能得到精確的數(shù)值。

    鐵門的涂層厚度值。


    覆層測厚儀功能上采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。


標簽: 覆層測厚儀
覆層測厚儀 覆層測厚儀有哪些使用參數(shù)?_覆層測厚儀

覆層測厚儀的優(yōu)點有哪些

    覆層測厚儀是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量。


    可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。


    本儀器符合以下標準:GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法JB/T8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG889─95《磁阻法測厚儀》。


    覆層測厚儀優(yōu)點:


    測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;


    精度高:本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上*能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高;


    穩(wěn)定性:測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品;


    功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。


    覆層測厚儀功能特點:


    采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。


    覆層測厚儀基本原理:


    本儀器采用了磁性測厚法,可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。


    基本工作原理是:當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計算覆層的厚度。

標簽: 覆層測厚儀
覆層測厚儀標簽: 覆層測厚儀的優(yōu)點有哪些_覆層測厚儀組合標題:

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