涂層測(cè)厚儀的故障主要有示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定、測(cè)量差錯(cuò)較大、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)。
致使這些毛病的要素既有來自儀器本身，也有被測(cè)工件的要素；
還有即是來自人為的影響，下面為大家介紹一下涂層測(cè)厚儀常見故障及解決方法
1.示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定
致使涂層測(cè)厚儀示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性；
比方工件本身是不是為導(dǎo)磁性資料，假如是導(dǎo)磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測(cè)厚儀；
假如工件為導(dǎo)電體，咱們就得挑選渦流涂層測(cè)厚儀。
再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素；
測(cè)厚儀的探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)極其靈敏。
有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。
因而，掃除此種毛病的關(guān)鍵即是：
測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí)，所運(yùn)用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的。
如感受測(cè)量成果差錯(cuò)比較大時(shí)，請(qǐng)先用儀器裝備的塑料校準(zhǔn)片做一輪測(cè)驗(yàn)；
如違背答應(yīng)差錯(cuò)較遠(yuǎn)則有也許是儀器本身出了問題，需返廠家檢修。
在體系校按時(shí)沒有挑選適宜的基體。
基體最小平面為7mm，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
2.測(cè)量成果差錯(cuò)大
探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。
而且探頭的放置時(shí)刻不宜過長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。
測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到精確的測(cè)量成果。
別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常；
假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。
3.屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)
最簡(jiǎn)略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值；
可以思考是不是有測(cè)頭及連線有松動(dòng)、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。
小編在實(shí)際作業(yè)中就碰到過因測(cè)頭運(yùn)用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。
4.人為要素
涂層測(cè)厚儀之所以可以測(cè)量到微米級(jí)就由于它可以采納磁通量的細(xì)小改動(dòng)，并把它轉(zhuǎn)化變成數(shù)字信號(hào)。
運(yùn)用者在測(cè)量過程中假如對(duì)儀器不熟悉就也許使探頭違背被測(cè)體，使磁通量發(fā)作改動(dòng)形成錯(cuò)誤測(cè)量。
運(yùn)用者初度運(yùn)用儀器時(shí)，要先認(rèn)真研讀說明書，把握好測(cè)量辦法。
5.儀器本身發(fā)作毛病
長(zhǎng)時(shí)間處于作業(yè)狀況的測(cè)厚儀，極有也許發(fā)作轟動(dòng)、下跌、等意外；
或所在的作業(yè)環(huán)境有磁場(chǎng)攪擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受攪擾至損，又是由于經(jīng)多人次、多地址運(yùn)用；
致使儀器測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠、屏幕數(shù)據(jù)顯現(xiàn)呈亂碼、乃至無(wú)法開機(jī)等；
所以主張盡量確保專人運(yùn)用和保管儀器，發(fā)作毛病及時(shí)返廠修理，不得私行拆機(jī)查看。
涂層測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀都屬于無(wú)損檢測(cè)儀器，即在非破壞材料的情況下對(duì)材料厚度進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，涂層測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀都能夠通過探頭從材料的單面對(duì)材料進(jìn)行接觸式測(cè)量厚度。從而避免了卡尺、千分尺、量規(guī)等需要從雙面卡住測(cè)量厚度的弊端，發(fā)揮了無(wú)損檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)，從而廣泛應(yīng)用于板材制造，管道防腐，電鍍涂裝，機(jī)械零部件制造，航空航天等重要領(lǐng)域。涂層測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀應(yīng)用在不同領(lǐng)域的材料厚度測(cè)量。實(shí)際上涂層測(cè)厚儀偏重于表面覆層的測(cè)量，而超聲波測(cè)厚儀側(cè)重于壁厚和板厚的基材測(cè)量。
不同點(diǎn)：涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀也叫覆層測(cè)厚儀，鍍層測(cè)厚儀，涂鍍層測(cè)厚儀，膜厚儀等多種變通的稱呼，主要用于測(cè)量金屬上的涂層，防腐層，電鍍層，塑料，油漆，塑膠，陶瓷，琺瑯等覆蓋層的厚度，所以國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的正規(guī)命名為覆層測(cè)厚儀。也可以擴(kuò)展應(yīng)用到對(duì)紙張，薄膜，板材等的厚度進(jìn)行間接測(cè)量（間接測(cè)量方法可致電時(shí)代山峰公司咨詢13366901010）。涂層測(cè)厚儀精度比較高一般以u(píng)m為單位，顯示分辨率可以達(dá)到0.01，0.1，1um等精度。涂層測(cè)厚儀的量程范圍：一般在0-1250um；特殊的在0-400um和0-50mm。
涂層測(cè)厚儀目前最主流的有兩種：磁性法和渦流法，也有叫：磁性和非磁性法，鐵基和非鐵基法。
磁性法：鐵基涂層測(cè)厚儀用磁性傳感器測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。
渦流法：非鐵基涂層測(cè)厚儀用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等有色金屬基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層、涂層等。涂層測(cè)厚儀廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
不同點(diǎn)：超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀主要是用來測(cè)量鋼板，鋼管等基材的厚度而不是測(cè)量涂層和鍍層的厚度。超聲波測(cè)厚儀的其他稱呼：超聲測(cè)厚儀（簡(jiǎn)稱UT），超聲波測(cè)量?jī)x，壁厚測(cè)量?jī)x，鋼板測(cè)厚儀等，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)專業(yè)命名為超聲波測(cè)厚儀。而超聲波測(cè)厚儀精度以mm為單位，顯示分辨率一般為：0.1，0.01，0.001mm等精度，超聲波測(cè)厚儀的量程一般為0.75-300mm，特殊的在0.15-20mm；3-500mm。
超聲波測(cè)厚儀的原理：探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達(dá)被測(cè)物體并在物體中傳播，到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭，通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。適合測(cè)量所有導(dǎo)聲材料，如鋼、鐵、金屬，塑料、陶瓷、有機(jī)玻璃等超聲波的良導(dǎo)體。
常見的涂層測(cè)厚儀必須要校準(zhǔn)之后才能使用的原因是：
儀器不能滿足全量程范圍內(nèi)的線性精度，所以要測(cè)量某一范圍內(nèi)的厚度時(shí)，就需要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校，這種操作的缺點(diǎn)是會(huì)因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)片的磨損導(dǎo)致調(diào)校失效，增大誤差。
涂層測(cè)厚儀不用校準(zhǔn)的原因：儀器在全量程內(nèi)解決了線性精度的問題，只要調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，就可以達(dá)到精度要求。
涂層測(cè)厚儀不用校準(zhǔn)的優(yōu)勢(shì)：測(cè)量上，降低系統(tǒng)誤差，保證測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性；操作上，操作更簡(jiǎn)單，無(wú)需繁瑣校準(zhǔn)，只需調(diào)零。
涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
零位穩(wěn)定：
所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
無(wú)需校準(zhǔn)：
多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。
主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
涂層測(cè)厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確。
溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。
所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
獨(dú)特的直流采樣技術(shù)：
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無(wú)可比擬的優(yōu)越和提高。單探頭量程大：0－3mm。
具有藍(lán)牙傳輸功能，可即時(shí)把測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)绞謾C(jī),PAD，PC等智能端，進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)編輯和處理。
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