涂鍍層測(cè)厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來(lái)自?xún)x器本身的也有來(lái)自被測(cè)工件的，還有就是來(lái)自自然環(huán)境的影響，下面為大家介紹一下排除這些故障的方法。
1、示值顯示不穩(wěn)定
導(dǎo)致涂鍍測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來(lái)自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測(cè)厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍層測(cè)厚儀，還有工件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不溫度的原因，工件表面粗糙度過(guò)大、表面附著物太多。排除故障的要點(diǎn)就是要將粗糙度比較大的工件打磨平整，出去附著物即可，再有就是選擇適合的涂鍍層測(cè)厚儀。
2、測(cè)量結(jié)果誤差太多
測(cè)量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過(guò)小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過(guò)小、表面粗糙度過(guò)大、磁場(chǎng)干擾探頭的放置方法等。
3、不顯示數(shù)字
造成涂鍍層測(cè)厚儀不顯示數(shù)字的簡(jiǎn)單原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量還是不顯示數(shù)值。
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型:
1.超聲波測(cè)厚法:
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)；
脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國(guó)外個(gè)別廠(chǎng)家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。
但一般價(jià)格昂貴測(cè)量精度也不高。
2.磁性測(cè)厚法：
可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。
廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。此種方法測(cè)量精度高。
根據(jù)原理涂鍍層測(cè)厚儀可分幾種類(lèi)型？
3.電解測(cè)厚法:
此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩。
4.渦流測(cè)厚法:
渦流方法適合測(cè)量電導(dǎo)率低的薄層金屬厚度,選用合適的低頻；
采用鐵心線(xiàn)圈或考慮相位信息與提離的關(guān)系后,該方法可有效監(jiān)控非鐵磁性金屬薄層的厚度變化。
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量.此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。
渦流技術(shù)是一種成熟的鍍層厚度測(cè)量技術(shù),可以用來(lái)測(cè)量金屬表面的非金屬層的厚度；
也可以用來(lái)測(cè)量鍍?cè)阼F磁性金屬物質(zhì)表面的非鐵磁性金屬鍍層的厚度。
金屬表面的非金屬層厚度的測(cè)量應(yīng)用的是渦流的提離效應(yīng);測(cè)量鍍?cè)阼F磁性金。
5.放射測(cè)厚法:
此種儀器價(jià)格非常昂貴,適用于一些特殊場(chǎng)合。
涂鍍層厚度儀是專(zhuān)業(yè)測(cè)量金屬表面涂層厚度的儀器儀表。
涂鍍層厚度測(cè)量是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段，現(xiàn)在已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)。
在全球經(jīng)濟(jì)一體化的大環(huán)境下，為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)涂鍍層厚度有了明確要求。
涂鍍層厚度的測(cè)量方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)熒光法、β射線(xiàn)反向散射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等多種測(cè)量方法。
其中楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法等五種測(cè)量方法屬于有損檢測(cè)方法，不但測(cè)量手段繁瑣，而且速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線(xiàn)法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。
β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著我國(guó)測(cè)量技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，我國(guó)的涂鍍層測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。
涂層測(cè)厚儀結(jié)合了磁性測(cè)厚和渦流測(cè)厚兩種測(cè)厚原理，能夠精準(zhǔn)測(cè)量鐵磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層厚度，和非磁性金屬基體表面的非導(dǎo)電涂層厚度；
是一款鐵鋁兩用的涂層測(cè)厚儀，廣泛應(yīng)用于金屬加工業(yè)、五金件行業(yè)、船舶業(yè)、航天航空業(yè)等領(lǐng)域。
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