涂層測(cè)厚儀主要是利用磁感應(yīng)原理或者電渦流測(cè)量原理等來(lái)測(cè)量導(dǎo)磁材料上的非磁性涂層厚度。涂層測(cè)厚儀測(cè)量方便快捷，并且測(cè)量誤差小、可靠性高，在產(chǎn)品進(jìn)行涂層加工時(shí)可以有效保證產(chǎn)品質(zhì)量，因而廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工和檢測(cè)行業(yè)。
涂層測(cè)厚儀的使用
推動(dòng)指輪時(shí)，不要觸動(dòng)按鈕；盡量保證測(cè)量點(diǎn)與兩支撐點(diǎn)在同一平面上；在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將偏大。要多次測(cè)量求取平均值；測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí)，一定要利用儀器測(cè)嘴的V型口；測(cè)量含碳量高或經(jīng)過(guò)熱處理后的硬質(zhì)鋼上涂層時(shí)，測(cè)值會(huì)偏大；基體厚度小于臨界厚度時(shí)，測(cè)值會(huì)偏大；在凸凹測(cè)量會(huì)對(duì)測(cè)值有影響，在凸面時(shí)測(cè)值偏大、凹面時(shí)測(cè)值偏??；
影響因素
1）磁性測(cè)厚法。所謂磁性測(cè)厚法是適用于測(cè)量導(dǎo)磁材料上的非磁性涂層的厚度，其針對(duì)的導(dǎo)磁材料有鋼、鐵、銀、鎳等金屬材料；
2）渦流測(cè)厚法。它是利用測(cè)頭線圈上產(chǎn)生的電磁場(chǎng)在靠近導(dǎo)體的過(guò)程中形成渦流，而形成的渦流大小會(huì)直接以反射阻抗作用體現(xiàn)出來(lái)，最終反映出導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層厚度的大小。該方法相比于磁性測(cè)厚法的精度要略低，適用于測(cè)量非導(dǎo)電涂層的厚度；
3）超聲波測(cè)厚法。因?yàn)槠湓靸r(jià)高昂，并且測(cè)量精度并不高，所以超聲波測(cè)厚方法目前在國(guó)內(nèi)還沒(méi)有被有效應(yīng)用，在國(guó)外也只有個(gè)別企業(yè)在利用超聲波進(jìn)行測(cè)厚，主要是因?yàn)檫@種測(cè)量方式可以測(cè)量磁性測(cè)量和渦流測(cè)量所無(wú)法測(cè)量的多層涂層的厚度；
4）電解測(cè)厚法。這種方法需要破壞涂層進(jìn)行電解測(cè)量，測(cè)量工序復(fù)雜，并且測(cè)量精度不高，因此應(yīng)用并不廣泛；
5）放射測(cè)厚法。這種測(cè)量?jī)x器價(jià)格非常昂貴，只有在一些特殊場(chǎng)合才會(huì)用到。
涂層測(cè)厚儀的維護(hù)與保養(yǎng)
保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離yong久磁鐵或電磁鐵，遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)；切勿猛烈碰撞測(cè)厚儀使用完后指輪一定要反時(shí)針旋轉(zhuǎn)到二分之一刻度以上的位置再放置在存放點(diǎn)；
涂層測(cè)厚儀維修
針對(duì)轉(zhuǎn)盤停不住：可調(diào)整卡位銷；針對(duì)轉(zhuǎn)盤推不動(dòng)：檢查驅(qū)動(dòng)發(fā)條、齒輪組；針對(duì)測(cè)值不準(zhǔn)：要用專用工具調(diào)整彈簧；齒輪組卡位：清洗齒輪組；
影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素，主要有基質(zhì)金屬磁特性、基本金屬的厚度、賤金屬電氣性能、邊緣效應(yīng)、曲率、變形的試樣、表層粗糙度等等。接下來(lái)我們就來(lái)具體的介紹影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素。
影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素：
1、基質(zhì)金屬磁特性
磁法厚度受基體金屬磁性變化(實(shí)際上，低碳鋼磁可以被認(rèn)為是一個(gè)細(xì)微的變化，為了避免影響熱處理、冷加工的因素，應(yīng)使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)的涂層厚度量測(cè)儀校準(zhǔn);也可以用于涂層試件校準(zhǔn)。
2、基本金屬的厚度
每一種儀器有一個(gè)臨界厚度的賤金屬。大于厚度量測(cè)不受厚度的賤金屬。
3、賤金屬電氣性能
對(duì)涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度有影響的導(dǎo)電性基體金屬和賤金屬的電導(dǎo)率有關(guān)，其材料組成和熱處理。使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)儀器校準(zhǔn)。
4、邊緣效應(yīng)
涂層測(cè)厚儀靈敏度來(lái)突然改變的標(biāo)本的表層形狀。所以靠近試樣在邊緣或角落措施是不可靠的。
5、曲率
標(biāo)本的曲率量測(cè)。這種影響是總是隨著曲率半徑減小顯著增加。結(jié)果，彎曲試樣表層的量測(cè)是不可靠的。
6、變形的試樣
量測(cè)頭可以使軟涂層試樣變形，因此可靠的量測(cè)數(shù)據(jù)在標(biāo)本。
7、表層粗糙度
基質(zhì)金屬和表層粗糙度量測(cè)的涂層。粗糙度增加，效果增加。粗糙表層會(huì)引起系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差，每次量測(cè)，應(yīng)該增加數(shù)量的量測(cè)在不同的位置，克服隨機(jī)誤差。
如果矩陣金屬粗糙，還必須相似矩陣沒(méi)有涂層粗糙的金屬樣品需要幾個(gè)零位校準(zhǔn)的涂層測(cè)厚儀;或者沒(méi)有腐蝕到金屬基體溶液去除蓋，校對(duì)零再次。
8、磁場(chǎng)
在各種各樣的強(qiáng)磁場(chǎng)產(chǎn)生的電氣設(shè)備，會(huì)嚴(yán)重干擾磁法的厚度。
9、膠粘材料
該儀器到妨礙測(cè)頭與密切接觸表層的涂層附著力的材料，因此，必須轉(zhuǎn)移到材料，確保儀器量測(cè)頭和被直接接觸表層的測(cè)試。
10、量測(cè)頭的壓力
壓力強(qiáng)加的探針在樣品尺寸會(huì)影響量測(cè)的讀數(shù)，因此，保持壓力恒定。
11、量測(cè)頭取向
有一個(gè)影響量測(cè)探頭布置方式。在量測(cè)中，應(yīng)保持垂直探針與樣品表層。
測(cè)厚儀其實(shí)是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中廣泛運(yùn)用。這類涂層測(cè)厚儀，根據(jù)其測(cè)量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個(gè)種類：運(yùn)用α 射線、β 射線、y 射線穿透特性的放射性厚度計(jì);選用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)以及選用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有電容式厚度計(jì)等。
此外，運(yùn)用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì)，現(xiàn)在還處在研發(fā)、試驗(yàn)期間。涂層測(cè)厚儀可測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如：搪瓷、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精細(xì)測(cè)量，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地運(yùn)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等范疇，是企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量、商查看控、必不可少的查看儀器。
一、作業(yè)原理
膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F 型測(cè)量頭)
當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N 型測(cè)量頭)
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
二、常見毛病及掃除辦法
涂層測(cè)厚儀的毛病主要有示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定、測(cè)量差錯(cuò)較大、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)。致使這些毛病的要素既有來(lái)自儀器本身，也有被測(cè)工件的要素，還有即是來(lái)自人為的影響，下面咱們介紹一下掃除這些毛病的辦法。
1.示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定
致使涂層測(cè)厚儀示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來(lái)自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性，比方工件本身是不是為導(dǎo)磁性資料，假如是導(dǎo)磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測(cè)厚儀，假如工件為導(dǎo)電體，咱們就得挑選渦流涂層測(cè)厚儀。再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素，測(cè)厚儀的探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關(guān)鍵即是：測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí)，所運(yùn)用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的。如感受測(cè)量成果差錯(cuò)比較大時(shí)，請(qǐng)先用儀器裝備的塑料校準(zhǔn)片做一輪測(cè)驗(yàn)，如違背答應(yīng)差錯(cuò)較遠(yuǎn)則有也許是儀器本身出了問(wèn)題，需返廠家檢修。在體系校按時(shí)沒(méi)有挑選適宜的基體。基體最小平面為7mm，最小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
2.測(cè)量成果差錯(cuò)大
探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過(guò)長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到精確的測(cè)量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過(guò)小、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常，假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。
3.屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)
最簡(jiǎn)略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值，可以思考是不是有測(cè)頭及連線有松動(dòng)、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。小編在實(shí)際作業(yè)中就碰到過(guò)因測(cè)頭運(yùn)用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。
4.人為要素
涂層測(cè)厚儀之所以可以測(cè)量到微米級(jí)就由于它可以采納磁通量的細(xì)小改動(dòng)，并把它轉(zhuǎn)化變成數(shù)字信號(hào)。運(yùn)用者在測(cè)量過(guò)程中假如對(duì)儀器不熟悉就也許使探頭違背被測(cè)體，使磁通量發(fā)作改動(dòng)形成錯(cuò)誤測(cè)量。運(yùn)用者初度運(yùn)用儀器時(shí)，要先認(rèn)真研讀說(shuō)明書，把握好測(cè)量辦法。
5.儀器本身發(fā)作毛病
長(zhǎng)時(shí)間處于作業(yè)狀況的測(cè)厚儀，極有也許發(fā)作轟動(dòng)、下跌、等意外，或所在的作業(yè)環(huán)境有磁場(chǎng)攪擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受攪擾至損，又是由于經(jīng)多人次、多地址運(yùn)用，致使儀器測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠、屏幕數(shù)據(jù)顯現(xiàn)呈亂碼、乃至無(wú)法開機(jī)等，所以主張盡量確保專人運(yùn)用和保管儀器，發(fā)作毛病及時(shí)返廠修理，不得私行拆機(jī)查看。
因而，在運(yùn)用測(cè)厚儀測(cè)量的時(shí)分要注意以下幾點(diǎn)：
(1)在測(cè)量的時(shí)分要注意側(cè)頭與測(cè)試外表堅(jiān)持筆直。
(2)在測(cè)量時(shí)要保持壓力的穩(wěn)定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
(3)在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意標(biāo)準(zhǔn)片基體的金屬磁性和外表粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件類似。
(4)在測(cè)量的時(shí)分要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因而在彎曲的試件外表上測(cè)量時(shí)不可靠的。
(5)測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)發(fā)作磁場(chǎng)，假如會(huì)，將會(huì)攪擾磁性測(cè)厚法的測(cè)厚儀。
(6) 在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意基體金屬的臨界厚度，假如大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
(7)在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)驗(yàn)件的要直接接觸，因而超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭鏟除附著物質(zhì)。
(8)測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和接近試件邊際處測(cè)量，由于通常的測(cè)厚儀對(duì)試件外表形狀的遽然改動(dòng)很靈敏。
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