涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
選型方法
用戶可以根據(jù)測量的需要選用不同的測厚儀，磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測非平面的外形。
更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測厚儀來測，測量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細(xì)的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。
兩用型
儀器由德國生產(chǎn)，集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
如:
鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。
各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
儀器符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗及質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器特點(diǎn)
采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測量方式進(jìn)行精確測量。
符合人體工程學(xué)設(shè)計的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。
采用手機(jī)菜單式功能選擇方式，操作十分簡便。
可設(shè)定上下限值，測量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時，儀器會發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
穩(wěn)定性極高，通常不必校正便可長期使用。
技術(shù)規(guī)格
量 程: 0~2000μm ,
電 源: 兩節(jié)5號電池
標(biāo)準(zhǔn)配置
常規(guī)型
對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。
這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。
β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進(jìn)了一步。
測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
涂層測厚儀測量結(jié)果不準(zhǔn)確主要是由下面幾種原因引起：
1、強(qiáng)磁場的干擾。
當(dāng)儀器在強(qiáng)電磁場附近工作時，測量會受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。
2、人為因素。
在使用儀器測量過程中如果用戶對測厚儀不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。所以初次使用本儀器時，要掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。
3、在系統(tǒng)矯正時沒有選擇合適的基體。
基體最小平面為7mm，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。
4、附著物質(zhì)的影響。
涂層測厚儀對妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)矯正時，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
5、儀器發(fā)生故障。
技術(shù)人員修理或返廠維修。
金屬涂層測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。測試過程應(yīng)注意幾點(diǎn)：
1.在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
2.測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3.測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4.測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
5.測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
6.測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7.在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
8.在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
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