穿越涂層型高精度超聲波測(cè)厚儀，適用于各種材料的穿越涂層高精測(cè)量需求，可應(yīng)用于鋼、鑄鐵、鋁、銅、鋅、石英、玻璃、聚乙烯、PVC，灰口鑄鐵、球墨鑄鐵等材質(zhì)的被測(cè)物體厚度測(cè)量。
只需要將探頭放置于被測(cè)物體一側(cè)的接觸面上，既可以迅速準(zhǔn)確測(cè)量出被測(cè)物體厚度。
穿越涂層超聲波測(cè)厚儀的測(cè)量原理
按超聲波脈沖反射原理設(shè)計(jì)的測(cè)厚儀可對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量，也可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。
可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。
穿越涂層測(cè)厚：無(wú)需清除被測(cè)物體表面的油漆，塑料等附著物即可測(cè)量基體厚度；
兩種穿越涂層測(cè)厚模式：薄涂層模式，厚涂層模式；
探頭自動(dòng)識(shí)別與匹配自主技術(shù)：
可對(duì)不同廠家生產(chǎn)的各種型號(hào)探頭自動(dòng)進(jìn)行靈敏度與頻率等參數(shù)測(cè)試識(shí)別，自動(dòng)調(diào)整主機(jī)測(cè)量設(shè)置，達(dá)到很好的測(cè)量效果
探頭零點(diǎn)自動(dòng)校準(zhǔn)；
多種實(shí)用測(cè)量模式：標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量模式，最大值測(cè)量模式，最小值測(cè)量模式，差值測(cè)量模式，平均值測(cè)量模式，高溫測(cè)量模式（配高溫探頭）；
適用于管材厚度測(cè)量；
人性化數(shù)據(jù)保存模式：可分組保存并可選擇每組保存數(shù)據(jù)量，無(wú)需保存每個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，簡(jiǎn)化操作；
大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：數(shù)據(jù)存儲(chǔ)量可達(dá)2000組；適合測(cè)量灰口鑄鐵等粗晶粒材料（需另選購(gòu)專用粗晶探頭）。
適合測(cè)量高溫材料，最高可到300度（需另選購(gòu)專用高溫探頭）。
涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)單的來(lái)說(shuō)就是開(kāi)機(jī)-基底校準(zhǔn)-有數(shù)值按ZERO歸零，再次測(cè)試基地，如果顯示數(shù)值為o，就可以開(kāi)始測(cè)量產(chǎn)品。以下是常規(guī)的客戶需要用到的三個(gè)步驟：
1)校準(zhǔn)-基底校準(zhǔn) 把儀器穩(wěn)當(dāng)?shù)?，貼合的放在兩個(gè)(鐵基只有一個(gè))基底上測(cè)試如果測(cè)試結(jié)果都是0，那么可直接拿校準(zhǔn)片進(jìn)行測(cè)試，或者直接測(cè)試客戶產(chǎn)品;如果測(cè)試基底結(jié)果是有數(shù)值的，按“ZERO(開(kāi)關(guān)機(jī)鍵左邊)”鍵歸零后再測(cè)試基底(不能放在校準(zhǔn)片上校準(zhǔn)，否則出現(xiàn)負(fù)數(shù))，測(cè)試基底顯示為0說(shuō)明校準(zhǔn)成功。如果仍然有數(shù)值，可重復(fù)以上歸零步驟，直到校準(zhǔn)值為0. 例子：在鐵或者鋁基底上測(cè)試3.0(或其他任何數(shù)值)，然后按“ZERO”歸零后再放在對(duì)應(yīng)的鐵或者鋁的基底上測(cè)試，如果是0，說(shuō)明校準(zhǔn)成功，有數(shù)值請(qǐng)重復(fù)以上步驟，直到測(cè)試基底為0 (一般情況下完成基底校準(zhǔn)就可以正常測(cè)試產(chǎn)品了，有些客戶需要進(jìn)一步驗(yàn)證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，可完成接下來(lái)“校準(zhǔn)片校準(zhǔn)/修正”步驟) 2)校準(zhǔn)片-校準(zhǔn)/修正 測(cè)試校準(zhǔn)片，數(shù)值在偏差范圍內(nèi)，可直接測(cè)試客戶的產(chǎn)品 測(cè)試校準(zhǔn)片，數(shù)值偏差較大，按“上鍵”“下鍵”(開(kāi)關(guān)機(jī)鍵上下兩個(gè)鍵)修正數(shù)值為校準(zhǔn)片的數(shù)值(或接近校準(zhǔn)片數(shù)值)，然后再放在對(duì)應(yīng)數(shù)值的校準(zhǔn)片測(cè)試(不能直接測(cè)基底，否則會(huì)出現(xiàn)負(fù)數(shù))。以上步驟可重復(fù)多次修正，直到數(shù)值為正常誤差內(nèi)即可?！ ±樱盒?zhǔn)片數(shù)值是50，儀器測(cè)出來(lái)是40，按上鍵修正數(shù)值為“50”，然后再放在50校準(zhǔn)片上測(cè)試(不能放在基底上)，如果數(shù)值在偏差范圍內(nèi)，說(shuō)明數(shù)值校準(zhǔn)成功，可直接測(cè)試客戶產(chǎn)品; 如果校準(zhǔn)片數(shù)值是50，儀器測(cè)出來(lái)是60，按下鍵修正數(shù)值為“50”，再測(cè)試校準(zhǔn)片?！ ?)恢復(fù)出廠設(shè)置 膜厚儀 當(dāng)操作有誤不知如果修正時(shí)，可同時(shí)按住“左上鍵”“右上鍵”(熊貓的兩個(gè)突出的半圓)會(huì)出現(xiàn)英文提示是否校準(zhǔn)，通過(guò)上下鍵選擇“YES”，然后按“單位切換鍵”(開(kāi)關(guān)機(jī)鍵右邊)，確認(rèn)恢復(fù)出廠設(shè)置，之后按校準(zhǔn)步驟校準(zhǔn)即可正常使用。
測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
這類(lèi)儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。
注意事項(xiàng)
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng):
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
不同種類(lèi)的測(cè)厚儀的應(yīng)用
1、激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。
它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。
它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。
主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
3、紙張測(cè)厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
4、薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
5、涂層測(cè)厚儀:用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
6、超聲波測(cè)厚儀:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
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