氯離子分析儀 CCL-5
一. 氯離子分析儀概述
《通用硅酸鹽水泥》新標(biāo)準(zhǔn)于2007年發(fā)布的實(shí)施,該標(biāo)準(zhǔn)將代替GB175 GB1344、GB12958三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)?!锻ㄓ霉杷猁}水泥》新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了氯離子含量不大于0.06%的強(qiáng)制性條款,CCL-6型氯離子分析儀,以滿(mǎn)足新標(biāo)準(zhǔn)的要求。
二. 氯離子分析儀主要特點(diǎn):
1、 氯離子分析儀分析速度快,單個(gè)樣品測(cè)定在10分鐘內(nèi)完成。
2、 氯離子分析儀分析精度高、分析結(jié)果偏差小于標(biāo)準(zhǔn)要求的誤差。
3、 氯離子分析儀應(yīng)用范圍廣,可用于水泥成品、半成品及原料的測(cè)定,
氯離子分析儀也可用于水泥,砼無(wú)機(jī)外加劑的測(cè)定。
4、 氯離子分析儀也可用于水泥及其它原料中氯的測(cè)定。
三、氯離子分析儀技術(shù)參數(shù):
1.氯離子分析儀電源:AC220V
2.氯離子分析儀加熱功率:1000W
3.氯離子分析儀氣泵功率:12W
4.氯離子分析儀控溫精度:±0.2%
5.氯離子分析儀計(jì)時(shí)精度:±0.1%
6.氯離子分析儀蒸餾時(shí)間:10-15min
7.氯離子分析儀溫度設(shè)定:250-260℃
8.氯離子分析儀重量:25Kg
差熱分析儀專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試可能對(duì)普通DTA差熱分析儀帶來(lái)?yè)p壞的爆炸性物質(zhì),適用于物理化學(xué)實(shí)驗(yàn)中差熱分析與研究,采用智能溫度控制和采集,進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理并做變化曲線(xiàn)圖,一般在大專(zhuān)院校、科研機(jī)構(gòu)、工礦企業(yè)等單位應(yīng)用的較多?! ∮捎诓顭岱治鰞x屬于精密分析儀器,我們?cè)谑褂脮r(shí)要特別謹(jǐn)慎: 1、實(shí)驗(yàn)室溫度控制在15-25℃,溫度較為恒定的情況下試驗(yàn)結(jié)果精確度和重復(fù)性高。高溫較高的情況下需開(kāi)空調(diào); 2、為確保試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性,使用儀器時(shí)先空燒30分鐘左右。儀器時(shí)間長(zhǎng)時(shí)間不用,再次使用時(shí),無(wú)比空燒(不放任何樣品和參比物)兩到三次,可以將:溫度設(shè)置為600℃、速率設(shè)為5℃∕min、恒溫設(shè)為0min按RUN鍵; 3、試樣用量不宜過(guò)多,也不宜過(guò)少,應(yīng)適宜。一般為20mg左右,如測(cè)試用量另有要求,根據(jù)要求確定用量; 4、粉狀試樣應(yīng)壓實(shí); 5、將差熱分析儀放置在無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾的區(qū)域內(nèi),并將NDTA-III型加熱器放置穩(wěn)固; 6、升溫速率一般情況下選擇(10-20)℃∕min。過(guò)大很使曲線(xiàn)產(chǎn)生漂移,降低分辨力;過(guò)小測(cè)定時(shí)間長(zhǎng); 7、差熱分析儀的表面應(yīng)保持清潔、干燥、避免水或其它腐蝕性液體流進(jìn)機(jī)器內(nèi)部,以免損傷內(nèi)部零件或銹蝕外表面,外表面一旦落上灰塵或粘上水分,應(yīng)用軟布輕輕檫試干凈,禁止觸碰加熱電偶及線(xiàn)路接頭; 8、實(shí)驗(yàn)區(qū)污染嚴(yán)重時(shí),可以將溫度設(shè)置為700℃、速率設(shè)為20℃∕min、恒溫設(shè)為30min按RUN鍵; 9、電源:AC220V50Hz、功耗>2000W; 10、不得使用硬物清潔樣品托及試驗(yàn)區(qū),以免對(duì)儀器造成永久性損害; 11、儀器連接計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)線(xiàn)為232串口線(xiàn),兩端為九孔插頭。其中兩端插頭以一對(duì)一的方式連接,即:一端的第一腳連接至另一端的第一腳,一端的第二腳連接另一端的第二腳,以此類(lèi)推。
合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素, 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線(xiàn)的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線(xiàn)的密度來(lái)確定此元素的量。XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。
每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運(yùn)行在核子周?chē)能壍郎?。而且其電子的?shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。
從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對(duì)應(yīng)固定的元素名稱(chēng)。
能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了*里層三個(gè)電子軌道即K,L,M上的活動(dòng)情況,其中K軌道*為接近核子,每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。
在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線(xiàn)光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將*里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。
這時(shí),原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中,它們會(huì)釋放出能量,稱(chēng)之為二次X射線(xiàn)光子。
而整個(gè)過(guò)程則稱(chēng)為螢光輻射。每種元素的二次射線(xiàn)都各有特征。而X射線(xiàn)光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。
特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來(lái)的X射線(xiàn)的數(shù)量或者密度,能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。