其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎(chǔ)之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用高性能光電倍增管和我公司自主研制的高速數(shù)字相關(guān)器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關(guān)函數(shù)（即擴散系數(shù)），根據(jù)Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。
它具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點，是納米顆粒粒度測試的shou選產(chǎn)品。
粒度分析儀采用更先進(jìn)的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
粒度分析儀性能特點
先進(jìn)的測試原理 該儀器采用動態(tài)光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點，從而保證了測試結(jié)果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比 探測器采用光電倍增管（PMT），其具有極高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確度；
超高速數(shù)據(jù)采集 核心部件采用我公司自主研制CR256數(shù)字相關(guān)器，它實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關(guān)函數(shù)運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態(tài)光散射信息，為測試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ)；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導(dǎo)致的測試偏差，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。
分析儀器在使用過程中也會出現(xiàn)一定的故障問題，會導(dǎo)致分析儀器產(chǎn)品無法正常使用，那么這個時候分析儀器的檢修該如何進(jìn)行呢？
1、觀察法
通過人的眼睛主觀察、發(fā)現(xiàn)故障的方法稱為觀察法。該方法主要用于檢查零件變質(zhì)損壞、電路板漏焊、虛焊、線間的短路饒焦、斷線和元器件焊錯等。
2、觸模法
通過人的手指或其他部位去觸模元器件，從而發(fā)現(xiàn)元器件是否有過熱或應(yīng)該發(fā)熱而不熱的現(xiàn)象如電源變壓器及電子管等應(yīng)該有發(fā)熱現(xiàn)象、，從而間接地判斷故障部位的方法，稱為觸授法。
3、靜態(tài)測量法
這主要是通過萬用表去測量線路中的直流工作電壓相電流，從而確定故障。遲是排除故障常用的—種方法，它對于測試線性電路尤為重要。
4、動態(tài)觀察法
通過示按器去觀察有關(guān)點的波形，從而尋找故障相排除故障的方法稱為動態(tài)觀實法。
5、跟蹤法
在尋找故障的過程中發(fā)現(xiàn)一點線索，順著線索追查下去的方法稱為跟蹤法。
6、分割法
在查找故障的過程中，通過拔掉部分轉(zhuǎn)括、拔下部分電路板或在電路板上斷線來逐步縮小故障的范圍，最后把故障點孤立出來的方法，稱為分割法。
7、替換法
通過更換電細(xì)線、電路板、電子管或其他每部件，以確定故障在某一范圍的方法稱為替換法。
8、模擬法
在查尋故障過程中，可通過分別測試無故障儀器和行故陽儀器的相同點，將所得的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較來確定故障的方法，稱為模擬法。
9、試探法
在查尋故障的過程中，如經(jīng)測量和分析，幾種原因都能造成此種故障，那么此時，可先試探用一種方法去排除故障，如無效，再改用另一種方法試探去排除故障，這稱為試探法。
10、局部受熱法
儀器由于濕度升高而發(fā)生故障，通常用局部受熱泌夫排除。比如，其一儀器在溫度40℃時，不能正常工作，而溫度降低后又能正常工作。此隊可將儀器恢復(fù)在常溫下工他用電熱吹風(fēng)機或電烙鐵使其局部受池從而發(fā)現(xiàn)故障所在，這稱為局部受熱法。
以上這些方法只是分析儀器調(diào)試或維修中的一些常用方法，實際應(yīng)用時彼此間并不是孤立的，有時需要幾種方法交錯使用，對測試結(jié)果進(jìn)行綜合分析，才能做出正確的判斷。
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