使用地物光譜儀的注意事項(xiàng)
萊森光學(xué)（深圳）有限公司iSpecField-NIR/WNIR便攜式地物光譜儀光譜范圍250-1700nm/250-2500nm，獨(dú)有的光路設(shè)計(jì)，可以實(shí)時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn)暗電流， 采樣了固定全息光柵一次性分光，測(cè)試速度快，最短積分時(shí)間最短可達(dá)30微秒，測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍廣，同時(shí)采用雙路高像素探測(cè)器同步測(cè)量，光譜數(shù)據(jù)分辨率高，廣泛應(yīng)用于礦物鑒定、土壤研究、遙感測(cè)量、農(nóng)作物監(jiān)測(cè)、森林研究、海洋學(xué)研究和礦物勘察等各領(lǐng)域。
在使用地物光譜儀進(jìn)行野外光譜測(cè)量時(shí)應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：
（1）測(cè)量適宜選擇在晴天中午前后進(jìn)行，風(fēng)力不超過(guò)5級(jí)，如果測(cè)試土壤光譜，必須在雨過(guò)3天以后進(jìn)行。
（2）儀器向下正對(duì)著被測(cè)物體，保持一定的距離，探頭為25°視場(chǎng)角，根據(jù)地面視場(chǎng)范圍計(jì)算探頭距離地面高度，以便獲取平均光譜。
（3）進(jìn)行地物光譜測(cè)量前，對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)參考板進(jìn)行定標(biāo)校準(zhǔn)。
（4）測(cè)量時(shí)人應(yīng)該面向陽(yáng)光，避免陰影。天氣較好時(shí)每隔幾分鐘就要用白板校正1次，防止傳感器響應(yīng)系統(tǒng)的漂移和太陽(yáng)入射角的變化影響，如果天氣較差，校正應(yīng)更頻繁。校正時(shí)白板應(yīng)放置水平。
（5）不要穿帶淺色、特色衣帽，會(huì)改變反射物體的反射光譜特征。要注意避免金屬反光，需要用黑布包住反光部位。
光纖光譜儀通常采用光纖作為信號(hào)耦合器件，將被測(cè)光耦合到光譜儀中進(jìn)行光譜分析。由于光纖的方便性，用戶可以非常靈活的搭建光譜采集系統(tǒng)。
光纖光譜儀的優(yōu)勢(shì)在于測(cè)量系統(tǒng)的模塊化和靈活性，已成為光譜測(cè)量學(xué)中使用的重要測(cè)量?jī)x器，被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、生物、化學(xué)、地質(zhì)、食品安全、色度計(jì)算、環(huán)境檢測(cè)、醫(yī)藥衛(wèi)生、LED檢測(cè)、半導(dǎo)體工業(yè)、石油化工等領(lǐng)域。
光纖光譜儀基本配置包括一個(gè)光柵，一個(gè)狹縫，和一個(gè)探測(cè)器。
光纖光譜儀的工作原理是怎樣的呢?用比較簡(jiǎn)單的表述就是，將被測(cè)光耦合到光譜儀中進(jìn)行光譜分析，因?yàn)楣饫w的便利性；
使用儀器的用戶可以非常靈活的搭建光譜采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)測(cè)量系統(tǒng)的模塊化和靈活性。
對(duì)于光纖光譜儀而言，光譜范圍通常在200nm-2200nm之間。由于要求比較高的分辨率就很難得到較寬的光譜范圍；
同時(shí)分辨率要求越高，其光通量就會(huì)偏少。對(duì)于較低分辨率和較寬光譜范圍的要求，300線/mm的光柵是通常的選擇。
如果要求比較高的光譜分辨率，可以通過(guò)選擇3600線/mm的光柵，或者選擇更多像素分辨率的探測(cè)器來(lái)實(shí)現(xiàn)。較窄的狹縫可以提高分辨率，但光通量較小。
直讀光譜儀是一種常用的光譜儀類型，被廣泛用于鑄造、鋼鐵、金屬回收、航天航空、電力、化工、質(zhì)檢等單位中。用戶在操作直讀光譜儀時(shí)需要掌握一定的注意事項(xiàng)，可以更好的使用直讀光譜儀。
1、直讀光譜儀實(shí)用工作曲線的確定
根據(jù)工廠冶煉情況，合金元素的含量范圍不同，確保分析精密度，須采用不同鋼種標(biāo)鋼分別制作工作曲線。做工作曲線的標(biāo)鋼數(shù)量應(yīng)該滿足分析合金的需要。
由于分析試樣是從爐中快速取樣，與標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織結(jié)構(gòu)、冶金履歷不一致，為了消除可能產(chǎn)生的偏高或偏低的系統(tǒng)誤差可采用控制試樣法。一般組織結(jié)構(gòu)的不同不會(huì)使工作曲線斜率改變，大體上只有平行移動(dòng)。因此用和分析試樣的組織結(jié)構(gòu)和冶金履歷一致的控制試樣來(lái)校正曲線的上下平移，能減少系統(tǒng)誤差。
2、直讀光譜儀選好控制試樣
光電光譜分析大都采用控制試樣法，這就會(huì)遇到有關(guān)控制標(biāo)鋼來(lái)源、化學(xué)成分的確定及使用等一系列問(wèn)題。對(duì)一些新開(kāi)展光電光譜分析工作的單位尤需注意。
初開(kāi)展工作中，可以在生產(chǎn)中選取一些樣品，經(jīng)可靠的化學(xué)分析方法多次分析，得到準(zhǔn)確結(jié)果作為控制試樣。用此樣控制作光譜的試樣分析，同時(shí)與化學(xué)分析進(jìn)行對(duì)照(這個(gè)階段叫平行分析。積累一批數(shù)據(jù)以后，驗(yàn)證相互偏差不大，光譜分析便可正式投產(chǎn))。
高低標(biāo)樣，控制樣品中的低含量元素，單靠從生產(chǎn)中選取是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足生產(chǎn)需要的，可以從軋材中選取和進(jìn)行專門冶煉。
不論是生產(chǎn)中、軋材中和專門冶煉得到的控制標(biāo)鋼，必須事先進(jìn)行均勻性檢查、化學(xué)分析和平行分析對(duì)照階段。在爐中分析時(shí)，應(yīng)盡量選用同鋼種的標(biāo)樣做控制分析，其元素成份和含量范圍要接近被分析試樣。
3、直讀光譜儀分析試樣操作
分析試樣經(jīng)切割以后、要磨去表面氧化層，用研磨機(jī)磨樣時(shí)，試樣和標(biāo)鋼要同時(shí)操作，要力求操作一致，用力過(guò)大則易使表面氧化。磨紋要求一致，不應(yīng)有交叉紋。試樣磨后不宜放置過(guò)長(zhǎng)，否則造成試料表面氧化，影響分析結(jié)果。一般可采用A12O3中軟，粒度為360的砂輪片磨樣，此外也可用砂紙或砂輪磨樣。
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