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合金分析儀的工作原理 分析儀工作原理

時(shí)間:2020-05-25    來(lái)源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
  合金分析儀 是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素, 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。

每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運(yùn)行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對(duì)應(yīng)固定的元素名稱。能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了*里層三個(gè)電子軌道即K,L,M上的活動(dòng)情況,其中K軌道*為接近核子,每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。

在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將*里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí),原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中,它們會(huì)釋放出能量,稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過(guò)程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來(lái)的X射線的數(shù)量或者密度,能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。


圖像分析儀詳細(xì)操作方法

    圖像分析儀是對(duì)材料進(jìn)行定量金相研究的強(qiáng)有力工具,也是日常金相檢驗(yàn)的好幫手,可以避免人工評(píng)定帶來(lái)的主觀誤差,從而也避免了扯皮現(xiàn)象。固然在日常金相檢驗(yàn)中,不可能也不必每次都使用圖像分析儀,但當(dāng)產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)異?;蚪鹣嘟M織級(jí)別處于合格與分歧格之間而無(wú)法判別時(shí),則可以借助圖像分析儀對(duì)其進(jìn)行定量分析,得出正確結(jié)果,確保產(chǎn)品質(zhì)量。圖像分析儀在金相分析中的應(yīng)用,拓展了金相檢驗(yàn)的檢測(cè)項(xiàng)目,促進(jìn)了檢測(cè)水平的進(jìn)步,對(duì)于進(jìn)步檢測(cè)職員的素質(zhì)也是十分有益的。    操作規(guī)程:    1)打開總電源、光學(xué)顯微鏡電源、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)電源、打印機(jī)電源;    2)將分散好的顆粒樣品的載玻片或固體樣品放在顯微鏡下,選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù),并準(zhǔn)焦清楚;    3)打開CCD控制器開關(guān);    4)啟動(dòng)圖像分析系統(tǒng):在計(jì)算機(jī)顯示屏開始桌面上,雙擊相應(yīng)的快捷方式啟動(dòng)系統(tǒng),進(jìn)入圖像分析窗口;    5)采圖:點(diǎn)擊攝像機(jī)圖案欄,將顯微鏡視域中的圖像采集到計(jì)算機(jī)屏幕上;    6)定標(biāo):根據(jù)所選擇地不同放大倍數(shù)的物鏡,選擇不同的定標(biāo)尺度,確定像素點(diǎn)長(zhǎng)度;    7)存圖:點(diǎn)擊右鍵;    8)分割處理:選擇分割處理標(biāo)題欄,執(zhí)行圖像分割處理程序;    9)測(cè)量:執(zhí)行數(shù)據(jù)冊(cè)來(lái)那個(gè)程序;    10)打?。?nbsp;   11)分析過(guò)程中如發(fā)生停電等事故,立即關(guān)斷電源,帶來(lái)電后重新開始分析;    12)關(guān)機(jī)時(shí),先關(guān)掉CCD控制器,再按和開機(jī)步驟相反的順序關(guān)各個(gè)電源。

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圖像分析儀 圖像分析儀詳細(xì)操作方法_圖像分析儀

濁度分析儀的測(cè)量原理

  濁度分析儀可使用在不同地方的過(guò)濾裝置上測(cè)量原水或純凈水的濁度,是供水廠、電廠、工礦企業(yè)、實(shí)驗(yàn)室及野外實(shí)地對(duì)水樣渾濁度的不可或缺的儀器。是目前市場(chǎng)上比較好的一款濁度測(cè)量?jī)x器,濁度分析儀內(nèi)置微處理器,配置先進(jìn),功能強(qiáng)大,能基于880nm的紅外線光源透過(guò)光學(xué)透鏡并穿透樣品液,按ISO7072標(biāo)準(zhǔn)測(cè)90°方向的散射光原理進(jìn)行工作,下面小編就詳細(xì)的為您介紹一下濁度分析儀的測(cè)量原理。

  一、散射法  一束平行光在透明液體中傳播,如果液體中無(wú)任何懸浮顆粒存在,那么光束在直線傳播時(shí)不會(huì)改變方向;若有懸浮顆粒、光束在遇到顆粒時(shí)就會(huì)改變方身(不管顆粒透明與否)。這就形成所謂散射光。顆粒愈多(濁度愈高)光的散射就愈嚴(yán)重。濁度是用一種稱作濁度計(jì)的儀器來(lái)測(cè)定的。濁度計(jì)發(fā)出光線,使之穿過(guò)一段樣品,并從與入射光呈90°的方向上檢測(cè)有多少光被水中的顆粒物所散射。這種散射光測(cè)量方法稱作散射法?! 《?、透射法  通過(guò)發(fā)射高強(qiáng)度的單色光,光束穿過(guò)水樣遇到水中微小顆粒產(chǎn)生散射光,通過(guò)測(cè)量垂直于光束方向的散射光強(qiáng)度計(jì)算水樣濁度(低濁度)。透射式濁度測(cè)量原理:儀器通過(guò)發(fā)射的單色光,光束穿過(guò)水樣遇到水中微小顆粒產(chǎn)生散射光而衰減,,計(jì)算透射光強(qiáng)和光強(qiáng)衰減率從而測(cè)量水樣濁度(高濁度)。推薦校正方法;內(nèi)置氣泡消除系統(tǒng),提高測(cè)量精度和穩(wěn)定性;液晶寬屏,多參數(shù)同屏顯示;多點(diǎn)校準(zhǔn),確保寬測(cè)量范圍內(nèi)的精確性;電流、繼電器等各種變量輸出、系統(tǒng)智能控制;精度高,重復(fù)性好,抗干擾能力強(qiáng);清洗維護(hù)非常簡(jiǎn)單,校正方便。  濁度分析儀測(cè)量主要是根據(jù)散射法和透射法兩種原理,不同的原理有不同特點(diǎn),我們?cè)谑褂玫臅r(shí)候需要注意什么,如何使用濁度分析儀呢?  1、仔細(xì)檢查濁度標(biāo)準(zhǔn)板,如有灰塵、污漬,可用脫脂棉加乙醇、乙醚各半混合液擦凈,比色皿可用清潔劑或洗滌精清洗,然后用清水沖凈,兩個(gè)透光面擦干。儀器預(yù)熱10分鐘?! ?、量程選擇鈕置“100”檔,在試樣槽后方緊靠右插入濁度標(biāo)準(zhǔn)板(有編號(hào)面朝左)?! ?、拉桿推入,光路中不置入符何物體,調(diào)整“調(diào)零”旋鈕,使顯示讀數(shù)為“0”(空氣校零),拉桿拉出,濁度標(biāo)準(zhǔn)確性板置入光路,調(diào)整(校準(zhǔn))旋鈕使顯示讀數(shù)為濁度標(biāo)準(zhǔn)板出廠標(biāo)定值——NTU,在此以后“校準(zhǔn)”旋鈕不能再隨意變動(dòng),取出標(biāo)準(zhǔn)板?! ?、量程“1”;“10”采用30mm比色皿。量程“100”采用5mm比色皿。5mm比色皿緊靠右插入?! ?、在比色皿內(nèi)放入無(wú)濁度水(約3/4高度),放入試樣槽前方,被測(cè)液入入試樣槽后方(大小比色皿均緊靠右側(cè)),推入拉桿,調(diào)節(jié)器節(jié)“零位”鈕使顯示數(shù)為0。拉出拉桿,樣品置入光路,顯示值即為被測(cè)液濁度值NTU?! ?、測(cè)量中“量程”選擇鍵如需轉(zhuǎn)換,除選用不同比色皿外,無(wú)濁度水調(diào)零步驟須重復(fù)一次?! ?、本儀器標(biāo)準(zhǔn)板出廠前已用標(biāo)準(zhǔn)液標(biāo)定,如用戶需重新標(biāo)定,只要用10FTU標(biāo)準(zhǔn)液和零濁度水逆向進(jìn)行以上步驟,重新測(cè)定標(biāo)定值。  需要注意的是在測(cè)量中比色皿兩通光路必須無(wú)任何臟點(diǎn),二側(cè)面和底面無(wú)水漬。如果您想要了解更多有關(guān)于濁度分析儀相關(guān)的內(nèi)容,可以關(guān)注本站。

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