X射線熒光分析技術(shù)作為一種快速分析手段，為我國的相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法（例如：發(fā)射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質(zhì)譜等），XRF具有無需對樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。
X射線熒光光譜儀的工作原理：
X射線是用高速電子轟擊原子的內(nèi)層電子，使之處于高激發(fā)狀態(tài)，同時外層的電子躍遷到缺少電子的內(nèi)層軌道。在此過程中會伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大，波長小，肉眼不可見，稱之為X射線。
X射線熒光的波長是以受激物質(zhì)（待測物質(zhì)）的原子序數(shù)為特征的，原子序數(shù)越大的物質(zhì)波長越短。各種不同的元素都有本身的特征X射線熒光波長，這是用X射線熒光原理的X射線熒光光譜儀進(jìn)行定性分析的依據(jù);而元素受激發(fā)射出來的特征X射線熒光的強度則取決于該元素的含量，這是定量分析的依據(jù)。
X射線熒光光譜儀的主要組成部分是一次X射線源和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測器和記錄顯示儀器。一次X射線源用X光管，它產(chǎn)生的一次X射線轟擊樣品表面，使樣品激發(fā)出二次X射線。二次X射線經(jīng)平行光管變成一束平行光以后，投射到與平行光束呈夾角θ的分光晶體晶面上。射線在分光晶體面上的反射角與平行光束的夾角為2θ。分光晶體在分析過程中是回轉(zhuǎn)的，即θ是連續(xù)變化的，θ的變化會使反射光的波長隨之變化，故2θ的具體值是定性分析的依據(jù)。這種變化波長的反射線投射到與分光晶體聯(lián)動的檢測器上，檢測器便輸出一個與平面分光晶體反射線強度成比例的信號，它是定量分析的依據(jù)。記錄顯示儀表的記錄紙移動的距離與2θ有關(guān)，所以記錄下來的曲線就是熒光光譜圖，其橫坐標(biāo)是波長，縱坐標(biāo)是光強。分析光譜圖就可以得到定性分析和定量分析結(jié)果。
拉曼光譜儀能夠?qū)ξ镔|(zhì)成分和結(jié)構(gòu)進(jìn)行定性判定與定量分析，作為一種新興發(fā)展起來的分析手段擁有快速、無損、實時、可重復(fù)等特點，成為了分析化學(xué)領(lǐng)域的研究熱點。拉曼光譜儀光譜預(yù)處理有三個主要步驟：平滑去噪、X軸校正和基線處理。
第一、平滑去噪 在拉曼光譜儀測量中，由于外界干擾、儀器本身噪音等的存在，致使測得的光譜數(shù)據(jù)中含有隨機噪音，普圖上有毛刺，影響譜圖的質(zhì)量，增加了后續(xù)分析和檢測的誤差。拉曼光譜儀通過對測量得到的圖譜進(jìn)行平滑處理可降低噪音、提高音噪比，因此光譜平滑是光譜分析中常用的預(yù)處理方法?！ 〉诙?、X軸校正 X軸校正是拉曼光譜儀分析應(yīng)用研究中重要的一個環(huán)節(jié)，也常常是比較容易忽略的一個問題，通常情況下拉曼光譜X軸單位是拉曼位移，也就是斯托克斯與反斯托克斯散射光頻率與激發(fā)光源頻率之差。反斯托克斯散射強度要弱于斯托克斯散射強度，拉曼光譜分析中，通常只需要測定斯托克斯散射。拉曼光譜儀的拉曼位移是由分子振動能級的變化產(chǎn)生的，它的能級之間的能量變化由化學(xué)鍵的不同或者基態(tài)的振動方式的不同決定?！ 〉谌⒒€處理 拉曼光譜儀基線處理的主要目的是消除背底熒光，用激光照射樣品時除了激發(fā)出拉曼散射光外同時還經(jīng)常會激發(fā)出熒光。樣品分子的特征振動頻率與激光頻率相同并且熒光效率較高時，它就會吸收激光分子而發(fā)射出熒光。通常情況下，熒光的強度遠(yuǎn)大于拉曼光，使得拉曼信號完全淹沒在熒光背景噪聲中，導(dǎo)致得到的光譜數(shù)據(jù)難以正常利用。因此在拉曼光譜檢測中隊熒光采取一定的抑制措施是十分必要的?！ r格適中的拉曼光譜儀都具有高靈敏度、高分辨率、寬光譜范圍的特點，它采用光譜原理進(jìn)行測量數(shù)據(jù)分析，數(shù)據(jù)結(jié)果清晰明了。做好拉曼光譜儀的光譜預(yù)處理，最大化的消除干擾因素帶來的影響，提高實驗數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
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