粉末有銀質(zhì)光澤，硬度與金剛水相近，為電.溫的杰出導(dǎo)關(guān)。純的粉末化纖易碎，若摻入少數(shù)鈦.鈷等銀質(zhì)，就能削減脆性。粉末化纖可由纖和粉末的混儀器高溫加溫真得，氫水或烴類的存在能加快反響的進(jìn)行。在粉末化纖中，粉末原子嵌入纖銀質(zhì)晶格的曠地空閑，并不破壞原有銀質(zhì)的晶格，構(gòu)成曠地空閑固溶關(guān)，因此也稱填隙（或刺進(jìn)）化儀器。
在使用粉末密度測試儀時有哪些測試條件呢？
1.浸液法中，選擇不溶解試樣面易潤濕試樣顆粒表面的液體是十分重要的。
2.對于陶瓷原料如長石，石英和陶瓷制品一般可用蒸餾水作為液體介質(zhì)。
3.對可能起作用的材料如水泥則可用煤油或二甲笨等有機(jī)液體介質(zhì)。
4.對無機(jī)粉體一般多選用有機(jī)溶劑。
5.當(dāng)粉末完全浸入液體中，必須完全排除其氣泡，才能確定其所排除的體積。
6.用瓷研缽研磨成粉末并通過240目標(biāo)準(zhǔn)篩，將粉樣裝入稱量瓶中，放入 105℃紅外線水份計內(nèi)烘干，取出，稍冷，放人干燥器內(nèi)冷卻到室。
7.超細(xì)粉體：根據(jù)1773年Bort.M.W.研究,比重瓶法不適應(yīng)粒度小于5um的超細(xì)粉體。
8.粉體真密度是粉體材料的物性之一，粉體粒度與孔隙率測試不可缺少的基本物性參數(shù)。
9.在測定粉體的比表面積時，需要粉體真密度的數(shù)據(jù)進(jìn)行計算。
10.許多無機(jī)非金屬材料都采用粉末原料來制造，因此在科研或生產(chǎn)中需要測定粉體真密度。
11.在水泥或陶瓷材料制造中，需要對粘土的顆粒分布球磨泥漿細(xì)度進(jìn)行測定，都需要真密度的數(shù)據(jù)。
12.對于水泥材料，最終產(chǎn)品就是粉體，測定水泥的真密度對生產(chǎn)單位和使用單位都具有很大的意義。
13.防火材料真密度依據(jù)ASTM D 5004-1989縮短傳統(tǒng)真密度試驗等冗長的測試時間，不需要經(jīng)過計算就可直接顯示所要的測試結(jié)果。
以下幾點(diǎn)注意事項。
1.測試環(huán)境恒溫：不論是比重瓶法還是氣體法測試時，均要求測試環(huán)境恒溫，并保證恒溫精度至少在0.2℃，否則測試結(jié)果無實際應(yīng)用效果。很多測試儀器都是偽造的恒溫，希望在選購設(shè)備時避免上當(dāng)受騙。彼奧德TD-2200真密度儀采用獨(dú)有的恒溫專利技術(shù)，保證測試數(shù)據(jù)不受環(huán)境溫度的影響。
2.采用真空抽氣的方式：比重瓶法和氣體法儀器均要采用抽真空的方式，并在抽真空時保證樣品不被抽飛。
3.樣品破碎，將物料粒度控制在一定范圍內(nèi)：耐材中很多材料均是中空的微球，即存在很多閉孔。閉孔的存在會影響耐材真體積的準(zhǔn)確探測。
4.減少試樣損失：實驗證明，測試過程中試樣的損失對檢測結(jié)果的影響比試樣中閉孔的存在影響要大。
5.測試介質(zhì)的選?。?/p>
選用比重瓶法測試時，對與水不發(fā)生反應(yīng)的材料，可以選用脫氣的涼開水作為試驗液體；對與水發(fā)生反應(yīng)的材料，選擇哪種液體是今后的研究方向。
選用氣體法測試時，可以選擇高純氦氣做吸附質(zhì)，并且純度至少是99.999%，因為氦氣屬于惰性氣體，不容易與樣品發(fā)生吸附作用。不建議使用氮?dú)庾鳛槲劫|(zhì)，容易吸附在材料表面，影響測試結(jié)果。
體積表面電阻率測試儀絕緣電阻的特性 絕緣特性試驗是檢驗電工設(shè)備絕緣性的技術(shù)手段。絕緣缺陷從范圍看大致可分為兩類：集中性的或局部性的缺陷，如內(nèi)部的氣隙、局部的開裂、磨損、受潮等；分布性的缺陷或整體絕緣性能的降低，如絕緣材料的整體受潮、劣化變質(zhì)等。絕緣內(nèi)部有了這兩類缺陷，其特性都會或多或少發(fā)生變化，必須用合適的試驗方法及測量儀器，把這些變化或差異正確、靈敏地測量出來，從而對絕緣狀態(tài)作出恰當(dāng)判斷。（絕緣電阻測量）絕緣材料的基本特性是絕緣電阻高。電工設(shè)備的額定電壓越高，要求絕緣電阻越高。但如果絕緣受潮、表面臟污或劣化變質(zhì)，絕緣電阻都會劇烈下降；如有貫穿性裂縫或擊穿通道（見介質(zhì)擊穿），絕緣電阻將降到零。通常用高阻計（搖表）來測量設(shè)備的絕緣電阻。高阻計的額定電壓有 500、1000、2500、5000伏。1000伏以上電工設(shè)備用2500伏高阻計，1000伏以下的用1000伏或 500伏高阻計。用高阻計測絕緣電阻是簡單的檢查方法，也是預(yù)防性試驗中道程序。絕緣電阻值與設(shè)備容量和尺寸有關(guān)，不能簡單規(guī)定某一數(shù)值。通常將設(shè)備的數(shù)據(jù)與出廠前數(shù)據(jù)比較，或把同一設(shè)備的每相分別測得的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以此判定絕緣電阻是否有差異。檢驗電工設(shè)備絕緣性能的技術(shù)手段。電工設(shè)備中的絕緣缺陷，有的是先天性的，是在制造過程中由于材料、工藝等原因潛伏下來的；有的是后天性的，是在運(yùn)行過程中由于電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力、大氣影響（如光照、潮濕、臟污影響）、溫度、化學(xué)等因素造成的。及早發(fā)現(xiàn)這些缺陷，及時進(jìn)行維護(hù)與檢修，才能保證設(shè)備安全運(yùn)行。常用的試驗方法有絕緣電阻測量、吸收比測量、泄漏電流的測量、介質(zhì)損耗角正切值的測量和局部放電測量。泄漏電流測量測量絕緣電阻的另一種方式。將大于、等于10千伏的整流高壓電源接到絕緣體上，用微安表測量流經(jīng)絕緣結(jié)構(gòu)的泄漏電流，以判斷絕緣電阻的大小。與高阻計不同的是，此種方法施加電壓較高，可以發(fā)現(xiàn)一些尚未完全貫通的集中性缺陷。絕緣材料或結(jié)構(gòu)在交流電壓作用下有能量損耗。這種損耗稱為介質(zhì)損耗。它包括電導(dǎo)損耗、極化損耗和氣隙中放電引起的損耗。在交流電壓作用下,流過介質(zhì)的電流由兩部分組成:電容電流分量；有功電流分量(圖2)。介質(zhì)損耗角正切值通常>>，δ小，tgδ也小。介質(zhì)中的功率損耗P為利用此式可求得絕緣結(jié)構(gòu)的功率損耗。式中 U與絕緣厚度有關(guān)系,與絕緣面積有關(guān)系,所以U標(biāo)志絕緣的體積；tgδ代表單位體積中的損耗,它反映材料的性質(zhì)。 絕緣特性試驗 當(dāng)絕緣受潮，絕緣油或浸漬液受潮、污穢，材料劣化變質(zhì)和絕緣結(jié)構(gòu)中的氣隙有放電現(xiàn)象時,tgδ就增大。有些損耗與頻率有依存關(guān)系,如極化;有些損耗與電壓有依存關(guān)系,如氣隙中的放電。如改變測量tgδ時的電壓幅值，可得到tgδ與外施電壓U的關(guān)系(圖3)。圖中曲線說明絕緣結(jié)構(gòu)中存在氣隙放電。放電開始時的外施電壓為Uc,從tgδ增加的陡度,可反映出老化的程度。雖然從理論上講,tgδ能顯示氣隙放電，但如氣隙放電損耗只占總損耗的極小份量,由代表單位體積損耗的tgδ來顯示氣隙放電是不靈敏的。測量介質(zhì)損失角正切值tgδ的常用儀器是西林電橋（見經(jīng)典交流電橋）。體積表面電阻率測試儀絕緣電阻的特性局部放電測量 通常以局部放電儀測量引起固體絕緣破壞的局部放電。這種局部放電的存在形式大致有：在電極附近的沿介質(zhì)表面的放電；層壓材料中界面間的放電；固體絕緣中空穴內(nèi)的放電；層繞絕緣中的樹枝狀放電等。這些局部放電的起因，可能是絕緣材料中存在先天性缺陷，也可能是制造工藝不完善，當(dāng)電壓施加到絕緣結(jié)構(gòu)上時，缺陷部分電場超過臨界值。局部放電的初期階段范圍很小，損耗很小。測量絕緣電阻或介質(zhì)損耗角均難以發(fā)現(xiàn)異常。 標(biāo)簽：體積表面電阻率測試儀，絕緣電阻測試儀 體積電阻測試儀 表面電阻率測試儀 點(diǎn)對點(diǎn)電阻率測試儀
絕緣電阻測試儀通常也被稱之為數(shù)字兆歐表，其常用的測試電壓為250v到10000v不等?？捎糜跍y量電力設(shè)備的絕緣電阻。 搖表有時也被稱為兆歐表，其作用與絕緣電阻測試儀一樣，用于測量電力設(shè)備的絕緣電阻. 通常情況下我們可以認(rèn)為這三種說法是同一概念，但是其中有存在區(qū)別?！ 〗^緣電阻測試儀主要采用的是指針或者數(shù)字顯示絕緣電阻值，采用自動升降電壓，并且每個表上至少有兩個額定電壓。 搖表主要是指針式顯示，需要人工來升降電壓，需要人工轉(zhuǎn)速產(chǎn)生一個額定電壓，而電壓會在轉(zhuǎn)數(shù)相對穩(wěn)定的時候趨于穩(wěn)定?！ 〗^緣電阻測試儀一般采用電動式，測量方便，精確度相對于搖表來說要更高，能自動產(chǎn)生結(jié)果，自動化的程度相對而言要更高一些。 搖表由于采取手搖式，從操作上來說更為麻煩，因為需要人工手搖來達(dá)到額定的電壓，操作不方便的同時由于人為原因?qū)е聹y量的誤差較大，精度不高。 絕緣電阻測試儀可用于測量各種絕緣參數(shù)、吸收比和極化指數(shù)等，更為方便?！ u表在測量吸收比的時候需要手搖1分鐘，然后人工讀出15秒和60秒的值，然后人工計算出吸收比。而測極化指數(shù)時則需要手搖10分鐘。
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