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【掃描電子顯微鏡】掃描電子顯微鏡三個常見問題

時間:2020-06-10    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
1.掃描電子顯微鏡精心合理的設(shè)計    掃描電子顯微鏡精心合理的設(shè)計    
   掃描電子顯微鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描,將產(chǎn)生的二次電子用特制的探測器收集,形成電信號運(yùn)送到顯像管,在熒光屏上顯示物體。(細(xì)胞、組織)表面的立體構(gòu)像,可攝制成照片。
   掃描電子顯微鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定,經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后,再於樣品表面噴鍍薄層金膜,以增加二波電子數(shù),掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定,經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后,再于樣品表面噴鍍薄層金膜,以增加二波電子數(shù)。掃描電子顯微鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu),由於它的景深長,1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放樣品圖像富有立體感。掃描電鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu),由于它的景深長,1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放樣品圖像富有立體感。
   掃描電子顯微鏡自動定性分析是根據(jù)能量位置來確定峰位,直接單擊"操作/定性分析"按鈕,即可實(shí)現(xiàn)自動定性分析,在譜的每個峰的位置顯示出相應(yīng)的元素符號。
   掃描電子顯微鏡優(yōu)點(diǎn)是識別速度快,但由于能譜譜峰重疊干擾嚴(yán)重,自動識別極易出錯,比如把某元素的L系誤識別為另一元素的K系,這是它的缺點(diǎn)。為此分析者在儀器自動定性分析過程結(jié)束后,還必須對識別錯了的元素用手動定性分析進(jìn)行修正。所以雖然有自動定性分析程序,但對分析者來說,具有一定的定性分析技術(shù)實(shí)在是必不可少的。
   掃描電子顯微鏡是通過X射線強(qiáng)度來獲取組成樣品材料的各種元素的濃度,根據(jù)實(shí)際情況,人們尋求并提出了測量未知樣品和標(biāo)樣的強(qiáng)度比方法,再把強(qiáng)度比經(jīng)過定量修正換算呈濃度比。掃描電子顯微鏡兩種定量分析方法:無標(biāo)樣定量分析法和有標(biāo)樣定量分析析法。
   電子束只打到試樣上一點(diǎn),得到這一點(diǎn)的X射線譜的分析方法是點(diǎn)分析方法。與此不同的是,用掃描像觀察裝置,使電子束在試樣上做二維掃描,測量特征X射線的強(qiáng)度,使與這個強(qiáng)度對應(yīng)的亮度變化與掃描信號同步在陰極射線管上顯示出來,就得到特征X射線強(qiáng)度的二維分布的像。這種觀察方法稱為元素的面分布分析方法,它是一種測量元素二維分布的非常方便的方法。
 

2.掃描電子顯微鏡的操作是怎樣的呢?

掃描電子顯微鏡的操作是怎樣的呢?

    掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器;

    它廣泛應(yīng)用于觀察各種固態(tài)物質(zhì)的表面超微結(jié)構(gòu)的形態(tài)和組成所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對圖象象元掃掠的工作過程。

    它與電視一樣是由控制電子束偏轉(zhuǎn)的電子系統(tǒng)來完成的;

    只是在結(jié)構(gòu)和部件上稍有差異而已。

    在電子掃描中,把電子束從左到右方向的掃描運(yùn)動叫做行掃描或稱作水平掃描;

    把電子束從上到下方向的掃描運(yùn)動叫做幀掃描或稱作垂直掃描。

    兩者的掃描速度完全不同,行掃描的速度比幀掃描的速度快,對于1000條線的掃描圖象來說,速度比為1000。

    掃描電子顯微鏡利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài);

    即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。

    掃描電子顯微鏡掃描系統(tǒng)由掃描發(fā)生器和掃描線圈組成。

    它的作用是:

    使入射電子束在樣品表面掃描,并使陰極射線顯像管電子束在熒光屏上作同步掃描;

    改變?nèi)肷涫跇悠繁砻娴膾呙璺?,從而改變掃描像的放大倍?shù)。

    掃描電子顯微鏡應(yīng)用的物理信號可分為:

    1)電子信號,包括二次電子、背散射電子、透射電子和吸收電子。

    吸收電子可直接用電流表測,其他電子信號用電子收集器

    2)特征X射線信號,用X射線譜儀檢測(EDS)。

    圖像顯示系統(tǒng)是將電信號轉(zhuǎn)換為陰極射線顯像管電子束強(qiáng)度的變化;

    得到一幅亮度變化的掃描像,同時用照相方式記錄下來,或用數(shù)字化形式存儲于計算機(jī)中。

    掃描電子顯微鏡提供必需的高真空,保證了電子束的正常掃描,還可以防止樣品受到污染;

    電源系統(tǒng)主要是指各種部件的電源,如加速電壓電源、透鏡電源和光電倍增管電源等;

    雖然是顯微鏡家族中的后起之秀,但由于其本身具有許多獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn),發(fā)展速度是很快的。

    掃描電子顯微鏡可以根據(jù)需要選擇大小不同的視場進(jìn)行觀察;

    同時在高放大倍數(shù)下也可獲得一般透射電鏡較難達(dá)到的高亮度的清晰圖像,觀察樣品的景深大,視場大,圖像富有立體感;

    可直接觀察起伏較大的粗糙表面和試樣凹凸不平的金屬斷口象等;

    使人具有親臨微觀世界現(xiàn)場之感。

    掃描電子顯微鏡可以通過電子學(xué)方法有效地控制和改善圖像質(zhì)量;

    如亮度及反差自動保持,試樣傾斜角度校正,圖象旋轉(zhuǎn);

    或通過Y調(diào)制改善圖象反差的寬容度,以及圖象各部分亮暗適中。

    采用雙放大倍數(shù)裝置或圖象選擇器,可在熒光屏上同時觀察放大倍數(shù)不同的圖象。

標(biāo)簽: 掃描電子顯微鏡
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3.掃描電子顯微鏡的功能及用途說明    掃描電子顯微鏡的功能及用途說明
  掃描電子顯微鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實(shí)的三維效應(yīng)等,對于導(dǎo)電材料,可直接放入樣品室進(jìn)行分析,對于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層。
  具體功能用途歸納如下:
  1、掃描電鏡追求固體物質(zhì)高分辨的形貌,形態(tài)圖像-形貌分析(表面幾何形態(tài),形狀,尺寸);
  2、顯示化學(xué)成分的空間變化,基于化學(xué)成分的相鑒定-化學(xué)成分像分布,微區(qū)化學(xué)成分分析;
  3、利用背散射電子衍射信號對樣品物質(zhì)進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)(原子在晶體中的排列方式),晶體取向分布分析,基于晶體結(jié)構(gòu)的相鑒定。
  4、掃描電子顯微鏡在半導(dǎo)體器件研究中的特殊應(yīng)用:
  1)利用電子束感生電流進(jìn)行成像,可以用來進(jìn)行集成電路中的定位和損傷研究。
  2)利用樣品電流成像,結(jié)果可顯示電路中金屬層的開、短路,因此電阻襯度像經(jīng)常用來檢查金屬布線層、多晶連線層、金屬到硅的測試圖形和薄膜電阻的導(dǎo)電形式。
  3)利用二次電子電位反差像,反映了樣品表面的電位,從它上面可以看出樣品表面各處電位的高低及分布情況,特別是對于器件的隱開路或隱短路部位的確定尤為方便。
  如今,掃描電子顯微鏡已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具、加速電子的電壓和所希望獲得的分辨率決定樣本的厚度。樣本的厚度可以從數(shù)納米到數(shù)微米不等。原子量越高、電壓越低、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測器等部件,一般在數(shù)千伏到3百萬伏特之間。它能發(fā)射并形成速度均勻的電子束,所以加速電壓的穩(wěn)定度要求不低于萬分之一。




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