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【膜厚儀】膜厚儀三個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題

時(shí)間:2020-06-11    來(lái)源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
1.膜厚儀的操作使用

膜厚儀的操作使用

    拍擊式均質(zhì)器又名為無(wú)菌均質(zhì)器、拍打式均質(zhì)器,使從固體樣品中提取細(xì)菌的過(guò)程變得非常簡(jiǎn)單,只需將樣品和稀釋液加入到無(wú)菌的過(guò)濾器樣品袋中 ,然后將樣品袋放入均質(zhì)儀中,關(guān)上門(mén)即開(kāi)始和完成樣品的處理。

    減少了樣品的處理和準(zhǔn)備時(shí)間,通常30-60秒的處理時(shí)間是充分的。處理后的樣品溶液可以直接進(jìn)行取樣和分析,沒(méi)有樣品的變化和交叉污染的危險(xiǎn)。

    拍擊式均質(zhì)器是在國(guó)外系列產(chǎn)品技術(shù)基礎(chǔ)上改進(jìn)并放大的先進(jìn)產(chǎn)品,具有均質(zhì)柔和、樣品無(wú)污染、無(wú)損傷、不升溫、不需滅菌處理,不需洗刷器皿的特點(diǎn)。

    此產(chǎn)品廣泛用于動(dòng)物組織、生物樣品、食品、藥品、化妝品,如:肉、魚(yú)、蔬菜、水果、餅干、煙草……稀釋和混合等等的均質(zhì)處理,特別適用于微生物檢測(cè)樣本的制備,樣品無(wú)污染、無(wú)損傷、不升溫、不需滅菌處理。

    拍擊式均質(zhì)器的操作:

    1、先將拍擊式均質(zhì)器放置在牢固且水平的平面上,放置滴液盤(pán)于透明門(mén)的下部,連接好電源線,打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)

    2、將樣品袋平整地放入混合倉(cāng)內(nèi)(應(yīng)先檢查樣品袋是否漏液)。

    3、扳動(dòng)鎖緊手柄,將其定位鎖緊。

    4、鎖緊門(mén)的同時(shí),電機(jī)會(huì)自動(dòng)啟動(dòng),若發(fā)現(xiàn)異常情況,應(yīng)及時(shí)開(kāi)啟倉(cāng)門(mén),電機(jī)會(huì)自動(dòng)停止。

    5、在儀器工作前可旋轉(zhuǎn)均質(zhì)器后面的行程調(diào)節(jié)旋鈕,設(shè)定所需的均質(zhì)行程。

    6、工作過(guò)程中,可調(diào)節(jié)拍擊速度的快慢和更改設(shè)定的均質(zhì)時(shí)間。

    7、可從窗口觀察樣品狀態(tài),待定時(shí)時(shí)間結(jié)束時(shí)取出樣品即可。

    8、工作結(jié)束若不打開(kāi)倉(cāng)門(mén),拍擊式均質(zhì)器的蜂鳴器會(huì)提示報(bào)警10秒鐘。

    拍擊式均質(zhì)器廣泛用于動(dòng)物組織、生物樣品等均質(zhì)處理,在食品、藥品、化妝品、臨床、分子學(xué)、毒素及細(xì)菌檢測(cè)等領(lǐng)域均可應(yīng)用,特別適合于微生物檢測(cè)樣本的制備。

    也適合腫瘤組織(如肝癌、腸癌、胃癌、乳腺癌)的勻漿,既可得到大量的單細(xì)胞,必要時(shí),可通過(guò)延長(zhǎng)均質(zhì)時(shí)間,對(duì)組織細(xì)胞(如肝臟等)實(shí)現(xiàn)柔軟的破碎。

    拍擊式均質(zhì)器也可有效地分離固體樣品表面和被包含在內(nèi)的微生物均一樣品,樣品裝在一次性無(wú)菌均質(zhì)袋中,不與儀器接觸,運(yùn)行快速、結(jié)果準(zhǔn)確、重復(fù)性好的要求。

標(biāo)簽: 膜厚儀
膜厚儀 膜厚儀的操作使用_膜厚儀
2.膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明

膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明

  膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備,它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高,但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生,除了儀器本身的一些故障以外,環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”,本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明:  1、基體金屬磁性質(zhì)  磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)?! ?、基體金屬電性質(zhì)  基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)?! ?、基體金屬厚度  每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響?! ?、邊緣效應(yīng)  本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的?! ?、曲率  試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的?! ?、試件的變形  測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)?! ?、表面粗糙度  基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)?! ?、磁場(chǎng)  周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。  9、附著物質(zhì)  本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸?! ?0、測(cè)量頭壓力  測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定?! ?1、測(cè)量頭的取向  測(cè)量頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測(cè)量頭與試樣表面保持垂直?! ∑鋵?shí)任何一種設(shè)備儀器都會(huì)有影響誤差,尤其對(duì)于比較精密的儀器,所有不當(dāng)?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來(lái)很大的影響,提高專(zhuān)業(yè)素養(yǎng)是避免不當(dāng)操作的關(guān)鍵。

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膜厚儀 膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明_膜厚儀
3.膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明



    膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備,它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高,但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生,除了儀器本身的一些故障以外,環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”,本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明:
    1、基體金屬磁性質(zhì)
    磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
    2、基體金屬電性質(zhì)
    基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
    3、基體金屬厚度
    每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
    4、邊緣效應(yīng)
    本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
    5、曲率
    試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
    6、試件的變形
    測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
    7、表面粗糙度
    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
    8、磁場(chǎng)
    周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
    9、附著物質(zhì)
    本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
    10、測(cè)量頭壓力
    測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
    11、測(cè)量頭的取向
    測(cè)量頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測(cè)量頭與試樣表面保持垂直。
    其實(shí)任何一種設(shè)備儀器都會(huì)有影響誤差,尤其對(duì)于比較精密的儀器,所有不當(dāng)?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來(lái)很大的影響,提高專(zhuān)業(yè)素養(yǎng)是避免不當(dāng)操作的關(guān)鍵。








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