覆層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量。

    可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

    本儀器符合以下標準：GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法JB/T8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG889─95《磁阻法測厚儀》。

    覆層測厚儀優(yōu)點：

    測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；

    精度高：本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上*能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高；

    穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品；

    功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

    覆層測厚儀功能特點：

    采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

    覆層測厚儀基本原理：

    本儀器采用了磁性測厚法，可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。

    基本工作原理是：當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆層的厚度。