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選擇測(cè)厚儀的基本原因 如何挑選購(gòu)買(mǎi)測(cè)厚儀

時(shí)間:2020-07-02    來(lái)源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
【導(dǎo)讀】即使相同的涂層測(cè)厚儀,不同的人或?qū)Σ煌N類(lèi)、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別,這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面



    即使相同的涂層測(cè)厚儀,不同的人或?qū)Σ煌N類(lèi)、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別,這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的。

    使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說(shuō)明書(shū),不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同,因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說(shuō)明書(shū),避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。

    注意金屬基體材質(zhì):

    不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的,這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同,因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

    注意檢測(cè)試件形狀:

    在實(shí)際生產(chǎn)中,工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異,這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠,實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變,還可能存在不同的曲率,一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此,即使在選擇儀器時(shí)考慮了最小曲率半徑,測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。

    以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮最小曲率半徑、最小測(cè)量面積、最小基體厚度的原因。





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相關(guān)熱詞:

等離子清洗機(jī),反應(yīng)釜,旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀,高精度溫濕度計(jì),露點(diǎn)儀,高效液相色譜儀價(jià)格,霉菌試驗(yàn)箱,跌落試驗(yàn)臺(tái),離子色譜儀價(jià)格,噪聲計(jì),高壓滅菌器,集菌儀,接地電阻測(cè)試儀型號(hào),柱溫箱,旋渦混合儀,電熱套,場(chǎng)強(qiáng)儀萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)價(jià)格,洗瓶機(jī),勻漿機(jī),耐候試驗(yàn)箱,熔融指數(shù)儀,透射電子顯微鏡。

關(guān)于涂層測(cè)厚儀的選型

    涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

 

    選型方法

    用戶(hù)可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀,磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米,這類(lèi)儀器又分探頭與主機(jī)一體型,探頭與主機(jī)分離型,前者操作便捷,后者適用于測(cè)非平面的外形。

    更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè),測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線(xiàn)上面電鍍的金,銀等金屬的厚度。

    兩用型

    儀器由德國(guó)生產(chǎn),集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能,可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

    如:

    鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

    鋁、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度。

    銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

    鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。

    各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

    儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

    儀器特點(diǎn)

    采用雙功能內(nèi)置式探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行精確測(cè)量。

    符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

    采用手機(jī)菜單式功能選擇方式,操作十分簡(jiǎn)便。

    可設(shè)定上下限值,測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí),儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。

    穩(wěn)定性極高,通常不必校正便可長(zhǎng)期使用。

    技術(shù)規(guī)格

    量 程: 0~2000μm ,

    電 源: 兩節(jié)5號(hào)電池

    標(biāo)準(zhǔn)配置

    常規(guī)型

    對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層(coating)。

    覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

    覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱(chēng)重法,X射線(xiàn)熒光法,β射線(xiàn)反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。

    這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。

    X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線(xiàn)防護(hù)規(guī)范。X射線(xiàn)法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。

    β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

    隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。

    測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。

    采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。

    涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

標(biāo)簽: 涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀標(biāo)簽: 關(guān)于涂層測(cè)厚儀的選型_涂層測(cè)厚儀組合標(biāo)題:

超聲波測(cè)厚儀測(cè)量誤差產(chǎn)生分析

  超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。在實(shí)際檢測(cè)工作中,經(jīng)常碰到超聲波測(cè)厚儀示值與設(shè)計(jì)值(或預(yù)期值)相比,明顯偏大或偏小等問(wèn)題,文章針對(duì)上述這些為大家做了一些原因分析。

  在實(shí)際檢測(cè)工作中,經(jīng)常碰到超聲波測(cè)厚儀示值與設(shè)計(jì)值(或預(yù)期值)相比,明顯偏大或偏小,原因分析如下:

  1、層疊材料、復(fù)合(非均質(zhì))材料。要測(cè)量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的,因超聲波無(wú)法穿透未經(jīng)耦合的空間,而且不能在復(fù)合(非均質(zhì))材料中勻速傳播。對(duì)于由多層材料包扎制成的設(shè)備(像尿素高壓設(shè)備),測(cè)厚時(shí)要特別注意,超聲波測(cè)厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度。

  2、聲速選擇錯(cuò)誤。測(cè)量工件前,根據(jù)材料種類(lèi)預(yù)置其聲速或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)塊反測(cè)出聲速。當(dāng)用一種材料校正后(常用試塊為鋼)又去測(cè)量另一種材料時(shí),將產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié)果。

  3、溫度的影響。一般固體材料中的聲速隨其溫度升高而降低,有試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,熱態(tài)材料每增加100°C,聲速下降1%。對(duì)于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。

  4、耦合劑的影響。耦合劑是用來(lái)排除探頭和被測(cè)物體之間的空氣,使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類(lèi)或使用方法不當(dāng),將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍,無(wú)法測(cè)量。實(shí)際使用中由于耦合劑使用過(guò)多,造成探頭離開(kāi)工件時(shí),儀器示值為耦合劑層厚度值。

  5、被測(cè)物體(如管道)內(nèi)有沉積物,當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí),超聲波測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。

  6、金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層,雖與基體材料結(jié)合緊密,無(wú)名顯界面,但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的,從而造成誤差,且隨覆蓋物厚度不同,誤差大小也不同。

  7、當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時(shí),顯示值約為公稱(chēng)厚度的70%(此時(shí)要用超聲波探傷儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè))。

  8、應(yīng)力的影響。在役設(shè)備、管道大部分有應(yīng)力存在,固體材料的應(yīng)力狀況對(duì)聲速有一定的影響,當(dāng)應(yīng)力方向與傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓應(yīng)力,則應(yīng)力作用使工件彈性增加,聲速加快;反之,若應(yīng)力為拉應(yīng)力,則聲速減慢。當(dāng)應(yīng)力與波的傳播方向不一至?xí)r,波動(dòng)過(guò)程中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)軌跡受應(yīng)力干擾,波的傳播方向產(chǎn)生偏離。根據(jù)資料表明,一般應(yīng)力增加,聲速緩慢增加。

標(biāo)簽: 超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀 超聲波測(cè)厚儀測(cè)量誤差產(chǎn)生分析_超聲波測(cè)厚儀

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