粘度測(cè)試儀用于測(cè)定高分子溶液特性粘度,適用于合成纖維工業(yè)、印染、橡膠工業(yè)及石油化工工業(yè)的特性粘度測(cè)定
粘度測(cè)試儀在使用過(guò)程中的注意事項(xiàng):
1、玻璃缸內(nèi)未注水時(shí),不得通電。
2、浴缸中的浴液不能有雜質(zhì)與飄浮物,以免堵塞測(cè)試孔,新?lián)Q浴液在加熱時(shí)常常有氣泡,對(duì)測(cè)試有影響,尤其是測(cè)試孔內(nèi)有氣泡,影響最嚴(yán)重。放毛細(xì)管后檢查測(cè)試孔內(nèi)是否有氣泡。如果有氣泡則用膠管吹氣將氣泡除掉或用干凈的牙刷將氣泡刷掉。
3、儀器為自動(dòng)檢測(cè),選擇毛細(xì)管后,應(yīng)確認(rèn)在所選毛細(xì)管上吸油。吸油和測(cè)試時(shí)不要搖動(dòng)毛細(xì)管。
4、使用一段時(shí)間或發(fā)現(xiàn)油位測(cè)一不靈敏,應(yīng)及時(shí)清洗試驗(yàn)夾上的檢測(cè)孔。
5、儀器在使用前,必須可靠接地。
6、儀器再次啟動(dòng)使用時(shí)間間隔在15分鐘以上,儀器上冷浴狀態(tài)下開(kāi)機(jī),需45分鐘后才能使用。
7、使用全浸式溫度計(jì)校正溫度時(shí),溫度計(jì)的有效刻度不得露出恒溫浴的液面。
8、粘度測(cè)試儀不允許在潮濕、有腐性氣體的環(huán)境中存放或使用。儀器使用時(shí),應(yīng)避免陽(yáng)光直射,需在光線穩(wěn)定的地方試驗(yàn)。避免用手電筒等光源照射光電管。
9、毛細(xì)管上夾時(shí)要注意上口吭度,避免試管進(jìn)水。
10、儀器在使用過(guò)程中,若出現(xiàn)故障,應(yīng)請(qǐng)專業(yè)人員進(jìn)行維修,并及時(shí)與我們聯(lián)系。一年內(nèi)確屬產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題,免費(fèi)保修。
11、電源必須做好良好接地。
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1、繼電保護(hù)測(cè)試儀裝置內(nèi)置了工控機(jī)和Windows操作系統(tǒng),請(qǐng)勿過(guò)于頻繁地開(kāi)關(guān)主機(jī)電源。 2、裝置面板或背板裝有USB插口,允許熱撥插USB口設(shè)備(如U盤等),但注意撥插時(shí)一定要在數(shù)據(jù)傳輸結(jié)束后進(jìn)行。 3、為了保證工控機(jī)內(nèi)置的Windows操作系統(tǒng)能穩(wěn)定可靠運(yùn)行,請(qǐng)不要隨意刪除或修改硬盤上的文件和桌面上的圖標(biāo),請(qǐng)不要隨意操作、更改、增加、刪除、使用內(nèi)置Windows系統(tǒng),以免導(dǎo)致操作系統(tǒng)損壞。使用USB盤拷貝數(shù)據(jù)時(shí)請(qǐng)一定保證U盤干凈無(wú)病毒,也請(qǐng)不要利用U盤在本系統(tǒng)中安裝其它軟件程序。 4、外接鍵盤或鼠標(biāo)時(shí),請(qǐng)勿插錯(cuò)端口,否則Windows操作系統(tǒng)不能正常啟動(dòng)。 5、請(qǐng)勿在輸出狀態(tài)直接關(guān)閉電源,以免因關(guān)閉時(shí)輸出錯(cuò)誤以致保護(hù)誤動(dòng)作。 6、繼電保護(hù)開(kāi)入量兼容空接點(diǎn)和電位(0-250VDC),使用帶電接點(diǎn)時(shí),接點(diǎn)電位高端(正極)應(yīng)接入公共端子COM端。 7、使用本儀器時(shí),請(qǐng)勿堵住或封閉機(jī)身的通風(fēng)口,一般將儀器站立放置或打開(kāi)支撐腳稍傾斜放置。 8、禁止將外部的交直流電源引入到測(cè)試儀的電壓、電流輸出插孔。否則,測(cè)試儀將被損壞。 9、如果現(xiàn)場(chǎng)干擾較強(qiáng)或安全要求較高,試驗(yàn)之前,請(qǐng)將電源線(3芯)的接地端可靠接地或裝置接地孔接地。 10、繼電保護(hù)如果在使用過(guò)程中出現(xiàn)界面數(shù)據(jù)出錯(cuò)或設(shè)備無(wú)法連接等問(wèn)題,可以這樣解決:向下觸按復(fù)位按鈕鍵,使DSP復(fù)位;或退出運(yùn)行程序回到主菜單,重新運(yùn)行程序,則界面所有數(shù)據(jù)均恢復(fù)至默認(rèn)值。
MX(SL)三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試??ū环诺綑C(jī)器中,測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次,芯片前方滾動(dòng)50次,芯片后方滾動(dòng)50次,循環(huán)頻率為0.5Hz,向下的壓力為8N。經(jīng)過(guò)測(cè)試,檢查芯片情況,芯片應(yīng)該是完好無(wú)損且功能正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試。