超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。那么，影響超聲波測厚儀示值的因素究竟有哪幾種呢?
影響超聲波測厚儀示值的因素有：
1.耦合劑的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測物體之間的空氣，使超聲波能有效地穿入工件達到檢測目的。如果選擇種類或使用方法不當，將造成誤差或耦合標志閃爍，無法測量。因根據(jù)使用情況選擇合適的種類，當使用在光滑材料表面時，可以使用低粘度的耦合劑;當使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時，應(yīng)使用粘度高的耦合劑。高溫工件應(yīng)選用高溫耦合劑。其次，耦合劑應(yīng)適量使用，涂抹均勻，一般應(yīng)將耦合劑涂在被測材料的表面，但當測量溫度較高時，耦合劑應(yīng)涂在探頭上。
2.聲速選擇錯誤。測量工件前，根據(jù)材料種類預(yù)置其聲速或根據(jù)標準塊反測出聲速。當用一種材料校正儀器后(常用試塊為鋼)又去測量另一種材料時，將產(chǎn)生錯誤的結(jié)果。要求在測量前一定要正確識別材料，選擇合適聲速。
3.應(yīng)力的影響。在役設(shè)備、管道大部分有應(yīng)力存在，固體材料的應(yīng)力狀況對聲速有一定的影響，當應(yīng)力方向與傳播方向一致時，若應(yīng)力為壓應(yīng)力，則應(yīng)力作用使工件彈性增加，聲速加快;反之，若應(yīng)力為拉應(yīng)力，則聲速減慢。當應(yīng)力與波的傳播方向不一至時，波動過程中質(zhì)點振動軌跡受應(yīng)力干擾，波的傳播方向產(chǎn)生偏離。根據(jù)資料表明，一般應(yīng)力增加，聲速緩慢增加。
4.金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層，雖與基體材料結(jié)合緊密，無名顯界面，但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的，從而造成誤差，且隨覆蓋物厚度不同，誤差大小也不同。
5.工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備 、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理，降低粗糙度，同時也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果。
6.工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測厚時，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點接觸或線接觸，聲強透射率低(耦合不好)?？蛇x用小管徑專用探頭(6mm ),能較精確的測量管道等曲面材料。
7.檢測面與底面不平行，聲波遇到底面產(chǎn)生散射，探頭無法接受到底波信號。
8.鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，超聲波在其中穿過時產(chǎn)生嚴重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，造成不顯示?？蛇x用頻率較低的粗晶專用探頭(2.5MHz)。
9.探頭接觸面有一定磨損。常用測厚探頭表面為丙烯樹脂，長期使用會使其表面粗糙度增加，導致靈敏度下降，從而造成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨，使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定，則考慮更換探頭。
10.被測物背面有大量腐蝕坑。由于被測物另一面有銹斑、腐蝕凹坑，造成聲波衰減，導致讀數(shù)無規(guī)則變化，在極端情況下甚至無讀數(shù)。
11.被測物體(如管道)內(nèi)有沉積物，當沉積物與工件聲阻抗相差不大時，測厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
12.當材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時，顯示值約為公稱厚度的70%，此時可用超聲波探傷儀進一步進行缺陷檢測。
13.溫度的影響。一般固體材料中的聲速隨其溫度升高而降低，有試驗數(shù)據(jù)表明，熱態(tài)材料每增加100°C，聲速下降1%。對于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。應(yīng)選用高溫專用探頭(300-600°C)，切勿使用普通探頭。
14.層疊材料、復(fù)合(非均質(zhì))材料。要測量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的，因超聲波無法穿透未經(jīng)耦合的空間，而且不能在復(fù)合(非均質(zhì))材料中勻速傳播。對于由多層材料包扎制成的設(shè)備(像尿素高壓設(shè)備)，測厚時要特別注意，測厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度。
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覆層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。
覆層測厚儀參數(shù)
測頭類型：F。
測量原理：磁感應(yīng)。
測量范圍：0-1250um。
低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
探頭連接方式：一體化。
示值誤差：一點校準（um）±[3%H 1]。
兩點校準（um）： ±[（1～3）%H 1]。
測量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
基體zui小面積的直徑（mm）：ф7。
zui小臨界厚度（mm）：0.5。
溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
統(tǒng)計功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、
標準偏差（S．DEV）。
工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。
存儲能力：15 個測量值。
打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦。
關(guān)機方式：自動。
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
外形尺寸：150×55.5×23mm。
重量：150g。
基本配置：主機。
標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
鐵基體。
充電器。
可選附件。
TA230打印機。
覆層測厚儀基本原理
本儀器采用了磁性測厚法，可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。 基本工作原理是：當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆層的厚度。
覆層測厚儀基本配置
TT220主機 一臺
標準樣片 1盒
標準基體 1塊
充電器 1個
覆層測厚儀主要功能
可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正：
具有兩種測量方式地：連續(xù)測量方式（continue）和單次測量方式（single）;
具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量；
設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值地（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO.）、標準偏差（S.DEV）；
具有打印功能，或打印測量值、統(tǒng)計值；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能；
具有自動關(guān)機功能。
覆層測厚儀優(yōu)點
測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
精度高 ：簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上為數(shù)不多能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高；
穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品；
功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。
涂層測厚儀的使用步驟
正確裝上電池，注意電池極性。
市場上流通的涂層測厚儀功能都簡單，就是只能測厚度值，所以開機基本上都可以直接使用，不需要設(shè)置。
測厚儀出廠的時候都附帶基準片，基準片是用來標定的。當數(shù)值不準的時候要進行數(shù)據(jù)校準。
在測量之前先測附帶的基準片，如果數(shù)值都準那就不需要再校準。不準的話就要進行校準，各個廠家測厚儀的校準步驟不一樣，按其說明書步驟進行校準即可。
測量的時候，測厚儀的探頭要放平，放平測量才能得到精確的數(shù)值。
鐵門的涂層厚度值。
覆層測厚儀功能上采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。
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