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鍍層測厚儀的檢測是怎樣的 測厚儀技術(shù)指標(biāo)

時間:2020-07-06    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
【導(dǎo)讀】無損檢測技術(shù)它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面。 在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中,為了實現(xiàn)對各類材料的保護



    無損檢測技術(shù)它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面。


    在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中,為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用,通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法;


    這樣,便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念,我們稱之為“覆層”。

 


    覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質(zhì)量檢測必備的重要的工序。是產(chǎn)品達到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準的必備手段。


    目前,國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的國際標(biāo)準測定涂鍍層厚度,覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要。


    有關(guān)覆層無損檢測方法,主要有:


    楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。


    這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,系有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。


    X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量,但裝置復(fù)雜昂貴,測量范圍小。


    因有放射源,故使用者必須遵守射線防護規(guī)范,一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。


    電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測試上應(yīng)用。


    磁性測量法及渦流測量法,隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微處理機技術(shù)后,測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。


    測量的分辨率已達0.1μm,精度可達到1%。又有適用范圍廣,量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用廣泛的儀器。


    采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。





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薄膜測厚儀的技術(shù)優(yōu)勢

  薄膜厚度測厚儀不僅用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測量,還用于以下厚度測量:

 ?。?)對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測量;

 ?。?)接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值;

  (3)通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積,完整各種紙張、紙板材料厚度測試;

  薄膜測厚儀的技術(shù)優(yōu)勢:

  1、微電腦控制、大液晶顯示

  2、進口高精度傳感器,保證了測試精度

  3、嚴格按照標(biāo)準設(shè)計的接觸面積和測量壓力,同時支持 各種非標(biāo)定制

  4、測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

  5、手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇

  6、配備微型打印機,數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印, 方便快捷地獲取測試結(jié)果

  7、打印最大值、最小值、平均值及每次測量結(jié)果,方便 用戶分析數(shù)據(jù)

  8、儀器自動保存較多100組測試結(jié)果,隨時查看并打印

  9、標(biāo)準量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備

  10、測厚儀配備專用自動進樣器,可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量,人為誤差最小

  11、專業(yè)軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析,準確直觀地將 測試結(jié)果展示給用戶

  12、配備標(biāo)準RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和 數(shù)據(jù)傳輸

  塑料包裝材料厚度是否均勻,是檢測其各項性能的基礎(chǔ)。包裝材料厚度不均勻,會影響到材料的阻隔性能、拉伸強度等性能;對材料厚度實施高精度控制也是確保質(zhì)量與控制成本的重要手段,采用濟南三泉中石研發(fā)生產(chǎn)的薄膜測厚儀CHY-U有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量。

標(biāo)簽: 薄膜測厚儀
薄膜測厚儀 薄膜測厚儀的技術(shù)優(yōu)勢_薄膜測厚儀

涂鍍層測厚儀的測量是怎樣的呢?

    涂鍍層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。

    位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變;

    該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。

    利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。

    涂鍍層測厚儀具有兩種測量方式:

    連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);

    具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);

    設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準偏差(S.DEV)

    可進行零點校準和二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正;

    1.具有存貯功能:

    可存貯300個測量值;

    2.具有刪除功能:

    對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除涂層測厚儀存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量;

    3.可設(shè)置限界:

    對限界外的測量值能自動報警;

    4.具有與PC機通訊的功能:

    可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC機,以便涂層測厚儀對數(shù)據(jù)進行進一步處理;

    5.具有電源欠壓指示功能;

    操作過程有蜂鳴聲提示;具有錯誤提示功能;具有自動關(guān)機功能。

標(biāo)簽: 涂鍍層測厚儀
涂鍍層測厚儀 涂鍍層測厚儀的測量是怎樣的呢?_涂鍍層測厚儀

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