許多用戶買了高低溫沖擊測(cè)試儀后，不知道怎么保養(yǎng)，為了能夠處長(zhǎng)使用壽命，用戶在使用的過程中，請(qǐng)按照以下七點(diǎn)來操作。
一、高低溫沖擊測(cè)試儀供水確認(rèn)：
1.水箱內(nèi)之存水量是否足夠。
2.水箱蓋子是否蓋妥。
3.排水開關(guān)是否復(fù)歸。
二、濕球測(cè)試布確認(rèn)：
1.是否清潔?﹝每月清洗一次，每三個(gè)月?lián)Q新的測(cè)試棉布﹞
2.是否潤(rùn)濕?﹝供水槽中有水，且水位控制器水位正常時(shí)，而測(cè)試布不能潤(rùn)濕，請(qǐng)即更換新的測(cè)試布﹞
三、高低溫沖擊測(cè)試儀電源及接地線確認(rèn)： 電源線是否依照規(guī)格妥善連接，并確實(shí)接地
四、排水管確認(rèn)：排水管是否接妥。
五、檢查干球超溫保護(hù)開關(guān)是否設(shè)定于最高溫加(20℃~30℃)
超溫保護(hù)器溫度設(shè)定點(diǎn)=溫度設(shè)定點(diǎn)(20℃~30℃)
六、加濕器之加濕水盤確認(rèn)
1.水位是否正常﹝加濕器供水后三至五分鐘后，檢查水位控制盒之水位是否正常。
2.加濕器用水器是否清潔(加濕器之加濕水盤應(yīng)定期排水，并以刷子清洗，以保持清潔)。
七、檢查濕球超溫保護(hù)開關(guān)是否設(shè)定于120℃
高低溫沖擊測(cè)試儀只做溫度時(shí)應(yīng)取下測(cè)試布。若測(cè)試布于85℃以上高溫情況下運(yùn)轉(zhuǎn)后，下次運(yùn)轉(zhuǎn)前，應(yīng)更換測(cè)試布，否則可能無法再吸水。換裝新測(cè)試布時(shí)，請(qǐng)先洗手，否則易使測(cè)試布喪失功能，無法吸水。(測(cè)試布包裝時(shí)，皆經(jīng)殺菌處理)
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電容電壓（C-V）特性測(cè)試儀是測(cè)試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測(cè)試儀器。專用于測(cè)量半導(dǎo)體器件PN結(jié)勢(shì)壘在不同偏壓下的電容量，也可測(cè)試其它電容。
儀器有較高的分辨率，電容量是四位讀數(shù)，可分辨到0.001pF，偏置電壓分辨率為0.01V，漏電流小分辨率為0.01μA或0.1μA（可選）。
該測(cè)試儀器性能穩(wěn)定可靠，功能齊全，精度高，操作簡(jiǎn)單，適用于元件生產(chǎn)廠家，科研部門，高等院校等單位。
2. 原理
CV法利用PN結(jié)或肖特基勢(shì)壘在反向偏壓時(shí)的電容特性，可以獲得材料中雜質(zhì)濃度及其分布的信息，這類測(cè)量成為C-V測(cè)量技術(shù)。這種測(cè)量可以提供材料橫截面均勻性及縱向雜質(zhì)濃度的分布信息。
組成半導(dǎo)體器件的基本結(jié)構(gòu)的PN結(jié)具有電容效應(yīng)（勢(shì)壘電容），加正向偏壓時(shí)，PN結(jié)勢(shì)壘區(qū)變窄，勢(shì)壘電容變大；加反向偏壓時(shí)，PN結(jié)勢(shì)壘區(qū)變寬，勢(shì)壘電容變小。
該儀器采用電流電壓測(cè)量方法，它用微處理器通過8 次電壓測(cè)量來計(jì)算每次測(cè)量后要求的參數(shù)值。用一個(gè)相敏檢波器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器順序快速完成電壓測(cè)量。正交測(cè)量通過交換測(cè)量信號(hào)的相位來進(jìn)行，而不是參考相位檢測(cè)。因而不需要精密的模擬相位轉(zhuǎn)換成電壓矩形波電路。通過從同一個(gè)高頻信號(hào)源形成測(cè)試信號(hào)和參考信號(hào)，來保證正確的相位關(guān)系。由微處理器根據(jù)已知的頻率和測(cè)試信號(hào)相位，用ROM 存儲(chǔ)器內(nèi)的程序和所存儲(chǔ)的按鍵選擇來控制測(cè)量順序，以及存儲(chǔ)在RAM 中的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來計(jì)算被測(cè)元件數(shù)值。
繼電保護(hù)測(cè)試儀是在參照電力部頒發(fā)的《微機(jī)型繼電保護(hù)試驗(yàn)裝置技術(shù)條件(討論稿)》的基礎(chǔ)上，廣泛聽取用戶意見；
總結(jié)目前國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品優(yōu)缺點(diǎn)，充分使用現(xiàn)代先進(jìn)的微電子技術(shù)和器件實(shí)現(xiàn)的一種新型小型化微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀。
試驗(yàn)注意事項(xiàng)
1.測(cè)試儀裝置內(nèi)置了工控機(jī)和Windows操作系統(tǒng)，請(qǐng)勿過于頻繁地開關(guān)主機(jī)電源。
2.裝置面板或背板裝有USB插口，允許熱撥插USB口設(shè)備(如U盤等)，但注意撥插時(shí)一定要在數(shù)據(jù)傳輸結(jié)束后進(jìn)行。
3.裝置配有專用自還原CF卡，避免因?yàn)榉欠P(guān)機(jī)，刪除或修改硬盤上的文件和桌面上的圖標(biāo)等導(dǎo)致的操作系統(tǒng)損壞。
如確需在本機(jī)內(nèi)存放數(shù)據(jù)，請(qǐng)將數(shù)據(jù)存在D盤。使用USB盤拷貝數(shù)據(jù)時(shí)請(qǐng)一定保證U盤干凈無病毒，也請(qǐng)不要利用U盤在本系統(tǒng)中安裝其它軟件程序。
4.外接鍵盤或鼠標(biāo)時(shí)，請(qǐng)勿插錯(cuò)端口，否則Windows操作系統(tǒng)不能正常啟動(dòng)。
5.請(qǐng)勿在輸出狀態(tài)直接關(guān)閉電源，以免因關(guān)閉時(shí)輸出錯(cuò)誤以致保護(hù)誤動(dòng)作。
6.開入量兼容空接點(diǎn)和電位(0~250VDC)，使用帶電接點(diǎn)時(shí)，接點(diǎn)電位高端(正極)應(yīng)接入公共端子COM端。
7.使用本儀器時(shí)，請(qǐng)勿堵住或封閉機(jī)身的通風(fēng)口，一般將儀器站立放置或打開支撐腳稍傾斜放置。
8.禁止將外部的交直流電源引入到測(cè)試儀的電壓、電流輸出插孔。否則，測(cè)試儀將被損壞。
9.如果現(xiàn)場(chǎng)干擾較強(qiáng)或安全要求較高，試驗(yàn)之前，請(qǐng)將電源線(3芯)的接地端可靠接地或裝置接地孔接地。
10.如果在使用過程中出現(xiàn)界面數(shù)據(jù)出錯(cuò)或設(shè)備無法連接等問題，可以這樣解決:向下觸按復(fù)位按鈕鍵，使DSP復(fù)位;
或退出運(yùn)行程序回到主菜單，重新運(yùn)行程序，則界面所有數(shù)據(jù)均恢復(fù)至默認(rèn)值。
繼電保護(hù)測(cè)試儀采用單機(jī)獨(dú)立運(yùn)行，亦可聯(lián)接筆記本電腦運(yùn)行的先進(jìn)結(jié)構(gòu)。
主機(jī)內(nèi)置新一代高速數(shù)字信號(hào)處理器微機(jī)、真16位DAC模塊、新型模塊式高保真大功率功放，自帶大屏幕液晶顯示器以及靈活方便的旋轉(zhuǎn)鼠標(biāo)控制器。
單機(jī)獨(dú)立操作即已具有很強(qiáng)的功能，可進(jìn)行大多數(shù)試驗(yàn)，聯(lián)接電腦運(yùn)行則具有更強(qiáng)大的操作功能。體積小、精度高。
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