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儀器儀表與測(cè)量中的應(yīng)用前景 儀器儀表常見(jiàn)問(wèn)題解決方法

時(shí)間:2020-07-10    來(lái)源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     

首先,智能自動(dòng)化技術(shù)為儀器儀表與測(cè)量的相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用開辟了廣闊的前景。運(yùn)用智能化軟硬件,使每臺(tái)儀器或儀表能隨時(shí)準(zhǔn)確地分析、處理當(dāng)前的和以前的數(shù)據(jù)信息,恰當(dāng)?shù)貜牡?、中、高不同層次上?duì)測(cè)量過(guò)程進(jìn)行抽象,以提高現(xiàn)有測(cè)量系統(tǒng)的性能和效率,擴(kuò)展傳統(tǒng)測(cè)量系統(tǒng)的功能,如運(yùn)用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、遺傳算法、進(jìn)化計(jì)算、混沌控制等智能技術(shù),使儀器儀表實(shí)現(xiàn)高速、、多功能、高機(jī)動(dòng)靈活等性能。

其次,也可在分散系統(tǒng)的不同儀器儀表中采用微處理器、微控制器等微型芯片技術(shù),設(shè)計(jì)模糊控制程序,設(shè)置各種測(cè)量數(shù)據(jù)的臨界值,運(yùn)用模糊規(guī)則的模糊推理技術(shù),對(duì)事物的各種模糊關(guān)系進(jìn)行各種類型的模糊決策。其優(yōu)勢(shì)在于不必建立被控對(duì)象的數(shù)學(xué)模型,也不需大量的測(cè)試數(shù)據(jù),只需根據(jù)經(jīng)驗(yàn),總結(jié)合適的控制規(guī)則,應(yīng)用芯片的離線計(jì)算、現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試,按我們的需要和度產(chǎn)生準(zhǔn)確的分析和準(zhǔn)時(shí)的控制動(dòng)作。

特別是在傳感器測(cè)量中,智能自動(dòng)化技術(shù)的應(yīng)用更為廣泛。用軟件實(shí)現(xiàn)信號(hào)濾波,如快速傅立葉變換、短時(shí)傅立葉變換、小波變換等技術(shù),是簡(jiǎn)化硬件,提高信噪比,改善傳感器動(dòng)態(tài)特性的有效途徑,但需要確定傳感器的動(dòng)態(tài)數(shù)學(xué)模型,而且高階濾波器的實(shí)時(shí)性較差。運(yùn)用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù),可實(shí)現(xiàn)高性能的自相關(guān)濾波和自適應(yīng)濾波。充分利用人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)強(qiáng)有力的自學(xué)習(xí)、自適應(yīng)、自組織能力,聯(lián)想、記憶功能以及對(duì)非線性復(fù)雜關(guān)系的輸入、輸出間的黑箱映射特性,無(wú)論在適用性和快速實(shí)時(shí)性等各方面都將大大超過(guò)復(fù)雜函數(shù)式,可充分利用多傳感器資源,綜合獲取更準(zhǔn)確、更可信的結(jié)論。其中實(shí)時(shí)與非實(shí)時(shí)的、快變與緩變的、模糊和確定性的數(shù)據(jù)信息,可能相互支持,也可能相互矛盾,此時(shí),對(duì)象特征的提取、融合,直至終決策,作出正確的判斷,將成為難點(diǎn)。于是神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)或模糊邏輯將成為值得選用的方法。

例如,氣體傳感陣列用于混合氣體識(shí)別,在信號(hào)處理方法上可采用自組織映射網(wǎng)絡(luò)和BP網(wǎng)絡(luò)相結(jié)合,先進(jìn)行分類,再識(shí)別組分,將傳統(tǒng)方法的全程擬合轉(zhuǎn)化為分段擬合,以降低算法的復(fù)雜度,提高識(shí)別率。又如,食品味覺(jué)信號(hào)的檢測(cè)和識(shí)別的難度,曾一度是研究與開發(fā)單位的主要障礙所在。如今可利用小波變換進(jìn)行數(shù)據(jù)壓縮和特征提取,然后將數(shù)據(jù)輸入用遺傳算法訓(xùn)練過(guò)的模糊神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),則大大提高了對(duì)簡(jiǎn)單復(fù)合味的識(shí)別率。再如,在布匹面料質(zhì)量的評(píng)定,柔性*作手對(duì)觸覺(jué)信號(hào)的處理,機(jī)器的故障診斷領(lǐng)域,智能自動(dòng)化技術(shù)也都取得了大量的成功實(shí)例。

 

 

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影響儀器儀表差熱的因素

  差熱分析操作簡(jiǎn)單,但在實(shí)際工作中常常發(fā)現(xiàn)同一試樣在不同上測(cè)量,或不同的人在同一儀器上測(cè)量,所得到的差熱曲線結(jié)果有差異。峰的最高溫度、形狀、面積和峰值大小都會(huì)發(fā)生一定變化。其主要原因是因?yàn)闊崃颗c許多因素有關(guān),傳熱情況比較復(fù)雜所造成的。一般說(shuō)來(lái),一是儀器,二是樣品。雖然影響因素很多,但只要嚴(yán)格控制某種條件,仍可獲得較好的重現(xiàn)性。

  1.氣氛和壓力的選擇

  氣氛和壓力可以影響樣品化學(xué)反應(yīng)和物理變化的平衡溫度、峰形。因此,必須根據(jù)樣品的性質(zhì)選擇適當(dāng)?shù)臍夥蘸蛪毫?,有的樣品易氧化,可以通入N2、Ne等惰性氣體。

  2.升溫速率的影響和選擇

  升溫速率不僅影響峰溫的位置,而且影響峰面積的大小,一般來(lái)說(shuō),在較快的升溫速率下峰面積變大,峰變尖銳。但是快的升溫速率使試樣分解偏離平衡條件的程度也大,因而易使基線漂移。更主要的可能導(dǎo)致相鄰兩個(gè)峰重疊,分辨力下降。較慢的升溫速率,基線漂移小,使體系接近平衡條件,得到寬而淺的峰,也能使相鄰兩峰更好地分離,因而分辨力高。但測(cè)定時(shí)間長(zhǎng),需要儀器的靈敏度高。一般情況下選擇8度·min-1~12度·min-1為宜。

  3.試樣的預(yù)處理及用量

  試樣用量大,易使相鄰兩峰重疊,降低了分辨力。一般盡可能減少用量,較多大至毫克。樣品的顆粒度在100目~200目左右,顆粒小可以改善導(dǎo)熱條件,但太細(xì)可能會(huì)破壞樣品的結(jié)晶度。對(duì)易分解產(chǎn)生氣體的樣品,顆粒應(yīng)大一些。參比物的顆粒、裝填情況及緊密程度應(yīng)與試樣一致,以減少基線的漂移。

  4.紙速的選擇

  在相同的實(shí)驗(yàn)條件下,同一試樣如走紙速度快,峰的面積大,但峰的形狀平坦,誤差?。蛔呒埶俾市?,峰面積小。因此,要根據(jù)不同樣品選擇適當(dāng)?shù)淖呒埶俣?。不同條件的選擇都會(huì)影響差熱曲線,除上述外還有許多因素,諸如樣品管的材料、大小和形狀、熱電偶的材質(zhì)以及熱電偶插在試樣和參比物中的位置等。市售的差熱儀,以上因素都已固定,但自己裝配的差熱儀就要考慮這些因素。

  5.參比物的選擇

  要獲得平穩(wěn)的基線,參比物的選擇很重要。要求參比物在加熱或冷卻過(guò)程中不發(fā)生任何變化,在整個(gè)升溫過(guò)程中參比物的比熱、導(dǎo)熱系數(shù)、粒度盡可能與試樣一致或相近。

  常用α-三氧化二鋁Al2O3)或煅燒過(guò)的氧化鎂(MgO)或石英砂作參比物。如分析試樣為金屬,也可以用金屬鎳粉作參比物。如果試樣與參比物的熱性質(zhì)相差很遠(yuǎn),則可用稀釋試樣的方法解決,主要是減少反應(yīng)劇烈程度;如果試樣加熱過(guò)程中有氣體產(chǎn)生時(shí),可以減少氣體大量出現(xiàn),以免使試樣沖出。選擇的稀釋劑不能與試樣有任何化學(xué)反應(yīng)或催化反應(yīng),常用的稀釋劑有SiC、鐵粉、Fe2O3、玻璃珠Al2O等。

標(biāo)簽: 儀器儀表
儀器儀表 影響儀器儀表差熱的因素_儀器儀表   儀器儀表電路維修在電子類的公司里從來(lái)都是不可缺少的一部分。因?yàn)橹挥型ㄟ^(guò)它才能讓原本不合格的產(chǎn)品zui終出廠。然而,維修儀器儀表也是電子公司中zui為復(fù)雜的一部分。因?yàn)樗粌H要運(yùn)用到許多電子專業(yè)知識(shí),有時(shí)也需要有豐富的現(xiàn)場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)。
  
  1、敲擊手壓法
  
  經(jīng)常會(huì)遇到儀器儀表運(yùn)行時(shí)好時(shí)壞的現(xiàn)象,這種現(xiàn)象絕大多數(shù)是由于接觸不良或虛焊造成的。對(duì)于這種情況可以采用敲擊與手壓法。
  
  所謂的“敲擊”就是對(duì)可能產(chǎn)生故障的部位,通過(guò)小橡皮鎯頭或其他敲擊物輕輕敲打插件板或部件,看看是否會(huì)引起出錯(cuò)或停機(jī)故障。所謂“手壓”就是在故障出現(xiàn)時(shí),關(guān)上電源后對(duì)插的部件和插頭和座重新用手壓牢,再開機(jī)試試是否會(huì)消除故障。如果發(fā)現(xiàn)敲打一下機(jī)殼正常,再敲打又不正常時(shí),先將所有接頭重插牢再試,若傷腦筋不成功,只好另想辦法了。
  
  2、觀察法
  
  利用視覺(jué)、嗅覺(jué)、觸覺(jué)。某些時(shí)候,損壞了的元件會(huì)變色、起泡或出現(xiàn)燒焦的斑點(diǎn);燒壞的器件會(huì)產(chǎn)生一些特殊的氣味;短路的芯片會(huì)發(fā)燙;用肉眼也能觀察到虛焊或脫焊處。
  
  3、排除法
  
  所謂的排除法是通過(guò)拔插機(jī)內(nèi)一些插件板、器件來(lái)判斷故障原因的方法。當(dāng)拔除某一插件板或器件后儀表恢復(fù)正常,就說(shuō)明故障發(fā)生在那里。
  
  4、替換法
  
  要求有兩臺(tái)同型號(hào)的儀器或有足夠的備件。將一個(gè)好的備品與故障機(jī)上的同一元器件進(jìn)行替換,看故障是否消除。
  
  5、對(duì)比法
  
  要求有兩臺(tái)同型號(hào)的儀器儀表,并有一臺(tái)是正常運(yùn)行的。使用這種方法還要具備必要的設(shè)備,例如,萬(wàn)用表、示波器等。按比較的性質(zhì)分有,電壓比較、波形比較、靜態(tài)阻抗比較、輸出結(jié)果比較、電流比較等。
  
  具體方法是:讓有故障的儀表和正常儀表在相同情況下運(yùn)行,而后檢測(cè)一些點(diǎn)的信號(hào)再比較所測(cè)的兩組信號(hào),若有不同,則可以斷定故障出在這里。這種方法要求維修人員具有相當(dāng)?shù)闹R(shí)和技能。
  
  6、升降溫法
  
  有時(shí),儀器儀表工作較長(zhǎng)時(shí)間,或在夏季工作環(huán)境溫度較高時(shí)就會(huì)出現(xiàn)故障,關(guān)機(jī)檢查正常,停一段時(shí)間再開機(jī)又正常,過(guò)一會(huì)兒又出現(xiàn)故障。這種現(xiàn)象是由于個(gè)別IC或元器件性能差,高溫特性參數(shù)達(dá)不到指標(biāo)要求所致。為了找出故障原因,可采用升降溫法。
  
  所謂降溫,就是在故障出現(xiàn)時(shí),用棉纖將無(wú)水酒精在可能出故障的部位抹擦,使其降溫,觀察故障是否消除。所謂升溫就是人為地將環(huán)境溫度升高,比如用電烙鐵放近有疑點(diǎn)的部位(注意切不可將溫度升得太高以致?lián)p壞正常器件)試看故障是否出現(xiàn)。
  
  7、騎肩法
  
  騎肩法也稱并聯(lián)法。把一塊好的IC芯片安在要檢查的芯片之上,或者把好的元器件(電阻電容、二極管、三極管等)與要檢查的元器件并聯(lián),保持良好接觸,如果故障出自于器件內(nèi)部開路或接觸不良等原因,則采用這種方法可以排除。
  
  8、電容旁路法
  
  當(dāng)某一電路產(chǎn)生比較奇怪的現(xiàn)象,例如顯示器混亂時(shí),可以用電容旁路法確定大概出故障的電路部分。將電容跨接在IC的電源和地端;對(duì)晶體管電路跨接在基極輸入端或集電極輸出端,觀察對(duì)故障現(xiàn)象的影響。如果電容旁路輸入端無(wú)效而旁路它的輸出端時(shí)故障現(xiàn)象消失,則確定故障就出現(xiàn)在這一級(jí)電路中。
  
  9、狀態(tài)調(diào)整法
  
  一般來(lái)說(shuō),在故障未確定前,不要隨便觸動(dòng)電路中的元器件,特別是可調(diào)整式器件更是如此,例電位器等。但是如果事先采取復(fù)參考措施(例如,在未觸動(dòng)前先做好位置記號(hào)或測(cè)出電壓值或電阻值等),必要時(shí)還是允許觸動(dòng)的。也許改變之后有時(shí)故障會(huì)消除。
  
  10、隔離法
  
  故障隔離法不需要相同型號(hào)的設(shè)備或備件作比較,而且安全可靠。根據(jù)故障檢測(cè)流程圖,分割包圍逐步縮小故障搜索范圍,再配合信號(hào)對(duì)比、部件交換等方法,一般會(huì)很快查到儀器儀表的故障之所在。
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