超聲波測(cè)厚儀，是一款根據(jù)超聲波脈沖反射原理設(shè)計(jì)的儀器設(shè)備，可用于生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器的厚度測(cè)量，以此檢測(cè)設(shè)備多次使用后的受腐蝕及減薄程度。另外，儀器還可實(shí)現(xiàn)金屬及其他材料聲速的測(cè)量，目前已被廣泛應(yīng)用于冶金、航空航天、石油化工等多個(gè)領(lǐng)域的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是設(shè)備安全運(yùn)行及現(xiàn)代化管理中的重要監(jiān)管者。
因此，為保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，并預(yù)判相關(guān)儀器設(shè)備的使用壽命，我們還應(yīng)牢記超聲波測(cè)厚儀的正確使用手法。
先，超聲波測(cè)厚方法可分為以下四種：
1、一般測(cè)量方法：
(1)在一點(diǎn)處用探頭進(jìn)行兩次測(cè)厚，在兩次測(cè)量中探頭的分割面要互為90°，取較小值為被測(cè)工件厚度值。
(2)30mm多點(diǎn)測(cè)量法：當(dāng)測(cè)量值不穩(wěn)定時(shí)，以一個(gè)測(cè)定點(diǎn)為中心，在直徑約φ30mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，取小值為被測(cè)工件厚度值。
2、測(cè)量法：在規(guī)定的測(cè)量點(diǎn)周圍增加測(cè)量數(shù)目，厚度變化用等厚線表示。
3、連續(xù)測(cè)量法：用單點(diǎn)測(cè)量法沿指定路線連續(xù)測(cè)量，間隔不大于5mm。
4、網(wǎng)格測(cè)量法：在指定區(qū)域劃上網(wǎng)格，按點(diǎn)測(cè)厚記錄。此方法在尿素高壓設(shè)備、不銹鋼襯里腐蝕監(jiān)測(cè)中廣泛使用。
另外，在超聲波測(cè)厚儀的使用過(guò)程，工件表面粗糙度過(guò)大、工件曲率半徑過(guò)小、檢測(cè)面與底面不平行、探頭接觸面有磨損、被測(cè)物體內(nèi)有沉積、被測(cè)材料存在內(nèi)部缺陷、聲速選擇錯(cuò)誤等問(wèn)題，均可引發(fā)超聲波測(cè)厚儀示值失真的現(xiàn)象。
漆膜涂層測(cè)厚儀可直接測(cè)量總涂層厚度或單獨(dú)涂層厚度， 如底漆或面漆，適合于任何基材，如：鋁、鐵、塑料、木材、混凝土或玻璃。
使用原理：
用刀具從涂層到基材之間切割一個(gè)V形槽， 帶標(biāo)尺放大鏡在LED光源照明下測(cè)量涂層的厚度。
漆膜測(cè)厚儀——原理方法
磁性測(cè)厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量，導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測(cè)量精度高。
渦流測(cè)厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量，此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。
超聲波測(cè)厚法
此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的應(yīng)用較少，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合，但一般價(jià)格昂貴測(cè)量精度也不高。
電解測(cè)厚法
此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高，測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩。
放射測(cè)厚法
此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上)，適用于一些特殊場(chǎng)合。
漆膜測(cè)厚儀用磁性傳感器測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
超聲波測(cè)厚儀所測(cè)工件表面粗糙度過(guò)大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無(wú)法接收到回波信號(hào)。
對(duì)于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過(guò)砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理，降低粗糙度，同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過(guò)耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
超聲波測(cè)厚儀如何校準(zhǔn)
選擇與被測(cè)物的材料、聲速及曲率相同的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊，其中一個(gè)試塊的厚度等于或略高于測(cè)量范圍的上限；另一個(gè)試塊的厚度盡可能接近測(cè)量范圍的下限，進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)可以提高測(cè)量精度。
2.進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)之前應(yīng)先關(guān)閉zui小值捕捉功能。
3.一定要?jiǎng)h除以前的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
操作如下：選擇功能菜單存儲(chǔ)管理中的刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)功然后將二點(diǎn)校準(zhǔn)功能打開(kāi)。
4.打開(kāi)二點(diǎn)校準(zhǔn)功能。
5.按鍵返回主顯示界面。
6.在測(cè)量厚度的狀態(tài)下按進(jìn)入兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式，
屏幕提示校準(zhǔn)薄片ThinCalibration。
7.測(cè)量薄片。用或調(diào)整測(cè)量值到標(biāo)準(zhǔn)值。
然后按鍵屏幕提示校準(zhǔn)厚片ThickCalibration.
8.測(cè)量厚片。用或調(diào)整測(cè)量值到標(biāo)準(zhǔn)值。
9.按鍵兩點(diǎn)校準(zhǔn)過(guò)程完成，即可進(jìn)行測(cè)量狀態(tài)。
注意：測(cè)量管材時(shí)，由于聲阻抗的匹配和耦合的情況會(huì)影響測(cè)量誤差，為了準(zhǔn)確測(cè)量管材的厚度，在測(cè)量管材時(shí)我們盡量選擇與被測(cè)物的材料、聲速及曲率相同的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)。
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