超聲波測厚儀產(chǎn)生誤差原因分析
下面小編來說一下，超聲波測厚儀產(chǎn)生誤差原因分析
1、層疊材質(zhì)、復(fù)合（非均質(zhì)）材質(zhì)。要測量未經(jīng)耦合的層疊材質(zhì)是不可能的，因超聲波無法穿透未經(jīng)耦合的空間，而且不能在復(fù)合（非均質(zhì)）材質(zhì)中勻速傳播。對于由多層材質(zhì)包扎制成的設(shè)備（像尿素高壓設(shè)備），測厚時要特別注意，測厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材質(zhì)厚度。
2、聲速選擇錯誤。測量部件前，根據(jù)材質(zhì)種類預(yù)置其聲速或根據(jù)標準塊反測出聲速。當(dāng)用一種材質(zhì)校正儀器后（常用試塊為鋼）又去測量另一種材質(zhì)時，將產(chǎn)生錯誤的結(jié)果。
3、溫度的影響。一般固體材質(zhì)中的聲速隨其溫度升高而降低，有試驗數(shù)據(jù)表明，熱態(tài)材質(zhì)每增加100°C，聲速下降百分之一。對于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。
4、耦合劑的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測物體之間的空氣，使超聲波能有效地穿入部件達到檢測目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)，將造成誤差或耦合標志閃爍，無法測量。實際使用中由于耦合劑使用過多，造成探頭離開部件時，儀器示值為耦合劑層厚度值。
薄膜厚度測厚儀不僅用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測量，還用于以下厚度測量：
?。?）對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測量；
?。?）接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值；
?。?）通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試；
薄膜測厚儀的技術(shù)優(yōu)勢：
1、微電腦控制、大液晶顯示
2、進口高精度傳感器，保證了測試精度
3、嚴格按照標準設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持 各種非標定制
4、測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
5、手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇
6、配備微型打印機，數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印， 方便快捷地獲取測試結(jié)果
7、打印最大值、最小值、平均值及每次測量結(jié)果，方便 用戶分析數(shù)據(jù)
8、儀器自動保存較多100組測試結(jié)果，隨時查看并打印
9、標準量塊標定,方便用戶快速標定設(shè)備
10、測厚儀配備專用自動進樣器，可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量，人為誤差最小
11、專業(yè)軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析，準確直觀地將 測試結(jié)果展示給用戶
12、配備標準RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和 數(shù)據(jù)傳輸
塑料包裝材料厚度是否均勻，是檢測其各項性能的基礎(chǔ)。包裝材料厚度不均勻，會影響到材料的阻隔性能、拉伸強度等性能；對材料厚度實施高精度控制也是確保質(zhì)量與控制成本的重要手段，采用濟南三泉中石研發(fā)生產(chǎn)的薄膜測厚儀CHY-U有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量。
我們是世界的測厚儀生產(chǎn)企業(yè)，我們的測厚儀可以對幾乎任何材料進行的測量。這些測厚儀功能齊備，可極大地提高儀器的測量性能。超聲測厚儀幾乎可以對大部分材料進行測量，其中包括塑料、金屬、金屬復(fù)合材料、橡膠及內(nèi)部腐蝕的材料。
45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款獨特的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭相兼容。
用途廣泛的38DL PLUS既可與雙晶探頭一起使用，測量腐蝕的管道，也可與單晶探頭一起使用對薄材料或多層材料進行極為的厚度測量。
35RDC是一款簡單的Go/No-Go（快速確定產(chǎn)品合格/不合格）的超聲測厚儀，用于探測飛行器復(fù)合結(jié)構(gòu)材料受到撞擊而產(chǎn)生的近表面缺陷。
Magna-Mike是一款使用磁性探頭對塑料瓶等非鐵性薄材料進行厚度測量的霍爾效應(yīng)測厚儀。
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