影響磁性涂層測厚儀測量因素有哪些
1，基體金屬磁性變化。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
2，測量基體金屬厚度，基體金屬有一定臨界厚度，超過厚度測量就不受基體厚度的影響。
3，邊緣效應(yīng)，在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不的，校對(duì)試片盡量在試片中間以減少誤差。
3，測量件曲率，試件的曲率對(duì)測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
5，被測物體表面粗糙度，基體金屬和表面粗糙度對(duì)測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時(shí)，在不同位置上增加測量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
6，磁場，被測物體周圍磁場會(huì)干擾磁性測量，影響涂層測厚儀精度。
7，附著物質(zhì)，本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
8，測量過程中探頭的放置，探頭的放置方式對(duì)測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。這是涂層測厚儀（其他測厚儀，如超聲波測厚儀也是這樣）測量中要注意的問題。
9，試片的變形及試片本身的誤差，探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)一定的誤差。
10，測量次數(shù)，對(duì)于數(shù)據(jù)要求經(jīng)度比較高的測量要實(shí)行多次測量求平均值，精度要求更高的可以多臺(tái)儀器測量求平均值。
11，還有一些其它不確定因素。
覆層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889─95《磁阻法測厚儀》。
覆層測厚儀主要功能：
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正：
具有兩種測量方式地：連續(xù)測量方式（continue）和單次測量方式（single）;
具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
具有刪除功能：對(duì)測量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；
具有打印功能，或打印測量值、統(tǒng)計(jì)值；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能；
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
覆層測厚儀技術(shù)參數(shù)：
測頭類型：F。
測量原理：磁感應(yīng)。
測量范圍：0-1250um。
低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
探頭連接方式：一體化。
示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）±[3%H 1]。
兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1]。
測量條件：小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
基體小面積的直徑（mm）：ф7。
小臨界厚度（mm）：0.5。
溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。
工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。
存儲(chǔ)能力：15 個(gè)測量值。
打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電腦。
關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)。
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
外形尺寸：150×55.5×23mm。
重量：150g。
基本配置：主機(jī)。
標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
鐵基體。
充電器。
可選附件。
TA230打印機(jī)。
基本配置：
TT220主機(jī) 一臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒
標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊
充電器 1個(gè)
覆層測厚儀優(yōu)點(diǎn)：
測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
精度高 ：本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場上為數(shù)不多能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；
穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。
覆層測厚儀功能特點(diǎn)：
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。
基本原理：
本儀器采用了磁性測厚法，可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。 基本工作原理是：當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時(shí)。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計(jì)算覆層的厚度。
特點(diǎn)：
性價(jià)比優(yōu)勢：同類進(jìn)口產(chǎn)品中具有很高的價(jià)格性能比。
服務(wù)優(yōu)勢：具有zui多的服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和強(qiáng)大的。
探頭：配備有世界上zui優(yōu)秀的檢測探頭。
簡介：
該儀器應(yīng)用于噴涂電鍍、涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)中的表面涂層及各種薄膜厚度的測量，CMI 200型測厚儀是高科技電子技術(shù)和軟件的zui佳組合，多功能、耐用的設(shè)計(jì)，專為適應(yīng)zui惡劣的工作環(huán)境而制造，典型應(yīng)用于表面處理工業(yè)。
參數(shù)：
測量方法：磁感應(yīng)或渦流式
分辨率：0.1μm/0.01mil
適用標(biāo)準(zhǔn)：磁感應(yīng)遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178BS 5411 PART9&11有關(guān)規(guī)定。渦流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360BS 5411 PART3有關(guān)規(guī)定
存儲(chǔ)量：12，400條讀數(shù)
低鐵和無鐵層厚度：12 mils（305μm）
尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含電池）
單位：英制和公制，可轉(zhuǎn)換
電池：9伏干電池或充電電池
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，zui高值，zui低值，由打印機(jī)或連續(xù)輸出支持的直方圖和CPK圖
接口：RS-232串行輸出端口
顯示：1/2英寸背光液晶顯示屏
鍵區(qū)：密封膜?；?9鍵；增強(qiáng)-16鍵
掃描特征：在指定掃描時(shí)間內(nèi)自動(dòng)平均讀數(shù)（或可提供實(shí)際高低值）
品牌及產(chǎn)地：英國牛津；產(chǎn)地：美國
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)和指定型號(hào)的探頭·9伏干電池·標(biāo)準(zhǔn)膜片2片·操作手冊
應(yīng)用范圍：
磁感應(yīng)：鐵/鋼等磁性基材上的非磁性涂層，例如鋅、鉻、鎘、錫、銅、聚四氟乙烯、環(huán)氧樹脂、油漆、粉末涂料或亞鐵基底的搪瓷上的琺瑯。
渦流：鋁/銅等導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電性涂層，例如陽極電鍍、油漆、琺瑯/瓷釉、粉末涂料或在非亞鐵基底上的環(huán)氧化物。
漆膜測厚儀用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)
漆膜測厚儀的校驗(yàn)方法：
1、取以上各種厚度的校準(zhǔn)箔片在未涂層的基體上，各測量5次，計(jì)算出測量平均值。
2、顯示值與標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”鍵改變顯示值直到顯示值與標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度一致。
3、按CAL鍵，校正結(jié)束。
判定示值誤差，在±1%范圍內(nèi)為合格。
對(duì)校驗(yàn)過程進(jìn)行記錄并將記錄填寫在《監(jiān)視和測量設(shè)備校驗(yàn)記錄》上。
對(duì)校驗(yàn)合格的漆膜測量儀貼合格證標(biāo)簽，不合格的則進(jìn)行修理、調(diào)試，完后重新校驗(yàn)。
校驗(yàn)周期為一年。
該儀器測定油漆涂料干膜厚度。試驗(yàn)技術(shù)特征：通過涂覆前后的比較測量干膜厚度。
校驗(yàn)條件
1、溫度20±5℃，相對(duì)濕度50%-80%。
2、標(biāo)準(zhǔn)箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。
449717568
