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高性能示波器應(yīng)對光通信測試 示波器技術(shù)指標(biāo)

時間:2020-07-30    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
整個電子行業(yè)對速度和性能的不懈追求,正不斷改變著高端示波器的標(biāo)準(zhǔn)。雖然在評估示波器時,帶寬曾經(jīng)是客戶和銷售商關(guān)注的“關(guān)鍵指標(biāo)”,但捕獲和分析當(dāng)今較快串行和光信號所需要的精確度(即測量精確度和信號完整性),已經(jīng)成為當(dāng)前較為重要的因素。

那么,什么是測量精確度?帶寬是一種用來比較一臺儀器與另一臺儀器差別的簡單方式。具有最高帶寬的那臺一定是可以的,對吧?可以肯定的是,帶寬非常重要,對于高速應(yīng)用而言,高帶寬是必需的要素。不過,示波器的真正目的,是要盡可能準(zhǔn)確地反映出感興趣的信號。這實現(xiàn)起來非常復(fù)雜,涉及到儀器的基本設(shè)計、探頭架構(gòu)和連接配件,以及帶寬之外的參數(shù)(包括上升時間、采樣率和抖動本底噪聲)。

當(dāng)選擇示波器時,工程師應(yīng)評估的關(guān)鍵參數(shù)概述如表1所示。

市場驅(qū)動因素:更好的信號完整性

高速信號很容易產(chǎn)生信號完整性問題,因為它們涉及到極快的邊沿和極窄的單位時間間隔或位時間。隨著通信鏈路數(shù)據(jù)速率的增加,將發(fā)生兩件事:用戶界面(UI)縮小及信號的上升時間縮短。例如,將5Gb/s脈沖與8Gb/s脈沖進行比較可得,位寬將從200ps下降到125ps。這使得設(shè)計的裕量或誤差預(yù)算降低了38%。此外,這也使接收機的工作更加困難,因為它試圖以更小的裕量和非??斓臄?shù)據(jù)速率將1和0進行區(qū)分。同時,上升時間也從約30ps減少到剛好超過28ps。8GB/s信號如圖1所示。

使問題復(fù)雜化的事實是,當(dāng)傳輸信號進入接收機時,可能產(chǎn)生多個信號的完整性問題。這些信號的完整性問題可能包括:當(dāng)此信號流經(jīng)電路板或從硅裸片進入封裝引腳再進入電路板時產(chǎn)生的信號衰減。通道內(nèi)的信號衰減是一個非常嚴(yán)重的問題,必須予以解決。PCB材料(如FR-4)內(nèi)的信號損失隨路徑長度的增加及數(shù)據(jù)速率的提高而增大。由于信號幅度縮小,噪聲和反射正成為一個更大的影響因素??蛻粜枰诮邮諜C中采用去嵌入策略,以打開閉合的眼圖。

隨著第三代串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的出現(xiàn),8~10Gb/s正逐漸成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。在光通信市場中,隨著以太網(wǎng)發(fā)展到4×25G(100GbE),設(shè)計人員需要能夠使用高達32Gb/s的比特率對信號進行測試。同時,高速FPGA和寬帶射頻也推動了極限值的擴大。泰克公司的DPO/DSA73304D能夠為這些高端應(yīng)用提供業(yè)界比較精確的測量性能。

技術(shù)平臺與突破

為提供業(yè)界比較好的DPO/DSA73304D示波器性能,泰克采用了IBM的8HP鍺化硅技術(shù)。這是一種130納米鍺化硅雙極互補金屬氧化物半導(dǎo)體(BiCMOS)工藝,利用200GHz的FT轉(zhuǎn)換速度提供了兩倍上一代產(chǎn)品的性能。

鍺化硅(SiGe)技術(shù)利用可靠性高且成熟的制造工藝,提供了能與特殊材料(如磷化銦(InP)和砷化鎵(GaAs))性能相媲美的性能水平。與其它方案不同的是,鍺化硅BiCMOS工藝提供了在一塊芯片上同時制備高速雙極型晶體管和標(biāo)準(zhǔn)CMOS的途徑,從而使一系列同時具備高集成度和杰出性能的電路成為可能。

圖2所示的器件是采用SiGe BiCMOS的DPO/DSA70000D示波器新型33GHz、100GS/s前端。該器件稱為多芯片模塊或MCM,包含用于兩條通道的前置放大器(2塊小裸片)及一塊100GS/s采樣保持集成電路(較大裸片)。泰克通過將前置放大器和采樣/保持功能集成到單一封裝之中來提高通道之間的匹配能力,并減少由其他示波器使用單獨的采樣/保持電路和ADC器件引起的交叉失真。

泰克能夠把更多的功能封裝到同一芯片上,減少了元器件和接口的數(shù)量,進而降低了噪聲和定時的不確定度,提高了產(chǎn)品性能。

IBM的8HP技術(shù)是一種130納米(nm)SiGe雙極互補金屬氧化物半導(dǎo)體(BiCMOS)工藝,其性能是上一代工藝的2倍。SiGe技術(shù)采用了擁有50年歷史的硅行業(yè)相關(guān)的高度可靠、成熟的鑄造工藝,而其性能水平相當(dāng)于特殊材料的性能,如磷化銦(InP)和砷化鎵(GaAs)。與替代材料不同,SiGe BiCMOS可以接入到與標(biāo)準(zhǔn)CMOS相同的晶粒上的高速雙極型晶體管,這實現(xiàn)了一種既有優(yōu)異性能、又有大規(guī)模集成能力的電路。

為保證最高階測量級信號的完整性,從DPO/DSA70000D探頭接口輸入的電信號使用高性能電纜直接傳送到多芯片模塊(圖3)。通過利用這種前所未有的方式,只有在采樣保持芯片捕獲測試信號后,測試信號才接觸示波器采集電路的PCB,從而實現(xiàn)了100GS/s的采樣率和行業(yè)比較好的噪聲性能。

我們?yōu)榇朔N前端設(shè)計提供的另一項創(chuàng)新是較大的偏移范圍和終端性能。該性能通過前置放大器芯片上的分離路徑輸入結(jié)構(gòu)和多芯片模塊上的AC接地端接電阻器來實現(xiàn),可以更加輕松地對大型直流偏置或直流偏置終端信號作出準(zhǔn)確的測量。

由于實現(xiàn)了向8HP技術(shù)的轉(zhuǎn)變,DPO/DSA73304D示波器可以提供卓越的信號采集性能和分析能力。它幫助設(shè)計人員利用全部四個通道前所未有的捕獲功能捕捉實時信號,并且利用業(yè)界最高的波形捕獲能力來捕捉更多的信號細節(jié)。利用一套工具集(為提供更快的設(shè)計和一致性測試而設(shè)計)實現(xiàn)高速串行數(shù)據(jù)信號的自動設(shè)置、捕獲及分析。

示波器主要性能包括:雙通道高達33GHz和100GS/s,四通道高達23GHz和50GS/s;小于9ps的上升時間(通常為20/80);低于0.56%的垂直噪聲,≥5.5的有效位數(shù);30多個可定制特殊應(yīng)用軟件分析包。

示波器性能考慮

由于示波器是設(shè)計方面(尤其是信號完整性方面)至關(guān)重要的工具,設(shè)計人員應(yīng)熟悉示波器的指標(biāo)及它們影響測量的方式。讓我們觀察一下較為重要的三大因素:上升時間、采樣率和帶寬,從而對它們進行更深入的了解。

上升時間:示波器的上升時間越快,測量到的上升時間就越準(zhǔn)確。但是,當(dāng)示波器的帶寬或上升時間和信號的上升時間彼此更接近時,會怎樣呢?有人曾用經(jīng)驗法則(如:0.35/上升時間)來計算所需的示波器帶寬,但這種經(jīng)驗法則只適用于某些示波器的前端設(shè)計,并且通常不適用于當(dāng)今為高速串行數(shù)據(jù)速率和伴隨的快速上升時間而優(yōu)化的前端設(shè)計。

應(yīng)當(dāng)注意的是,具有相同帶寬性能的兩臺示波器可以具有完全不同的上升時間、幅度和相位響應(yīng)。所以,僅了解示波器的帶寬無法可靠地揭示出其測量性能。此外,通過計算確定的上升時間可能也不準(zhǔn)確。了解示波器上升和下降時間響應(yīng)的較為可靠方法是,使用一個比被測示波器信號快得多的理想的階躍信號對其進行測量。

在使用DPO/DSA73304D的情況下,使用這種方法確定出9ps的上升時間。但是,信號速度可以被測量的意思是什么呢?根據(jù)正確的經(jīng)驗法則,信號上升時間與示波器上升時間的比值為2x或>18ps。事實證明,對于當(dāng)今較快的FPGA設(shè)計中使用的28Gb/s的串行解串器(SerDes)而言,這是指定的上升時間。

采樣率:因為更快的采樣率將帶來更多的波形細節(jié),所以這一因素非常重要。另一方面,對較快的信號而言,采樣率不足可能導(dǎo)致欠采樣。DPO/DSA73304D提供了一流的采樣率性能。利用交錯技術(shù)提供的采樣率性能可將雜散高頻的影響降至最低,該技術(shù)采用的是8路采樣/保持方法。參見圖4中的數(shù)據(jù),可得出成功和失敗執(zhí)行的交錯技術(shù)的差異。

奈奎斯特定理(Nyquist theorem)指出,采樣系統(tǒng)應(yīng)以輸入信號最高頻率的2倍以上進行采樣。雖然這是最低的起點,但是在任何情況下,采樣率越高,結(jié)果越準(zhǔn)確。通過使用2.5倍于輸入頻率的較高采樣率或更高的采樣率,可以提供更多的感興趣信號上的采樣點,且能避免混疊。對于極高速信號的表征而言,這將特別重要。

圖5顯示了較高的采樣率值。黃 色跟蹤線(C1)在50GS/s上,而白色跟蹤線(R1)在100GS/s上。過采樣的原因包括:為確保信號中已知和未知的高頻部分被捕獲,且沒有混疊;為實現(xiàn)卓越的定時分辨率(特別是快速瞬態(tài)信號或邊緣上的定時分辨率);作為一種減少測量中噪聲的手段,采樣過密會減少示波器模數(shù)轉(zhuǎn)換時附帶產(chǎn)生的量化噪聲。

帶寬:示波器必須有足夠的帶寬來捕捉高頻部分,以便準(zhǔn)確地顯示信號的轉(zhuǎn)換。但是,當(dāng)銷售商為帶寬需求進行善意提示,推薦5次諧波時,事情在不斷發(fā)生變化。邊沿速率(上升/下降時間)的變化并沒有與數(shù)據(jù)速率的變化同步。這意味著,所需的最大帶寬受上升時間的影響更大。例如,目前第三代規(guī)格的上升時間在30ps的范圍內(nèi)。隨著速率的不斷提高,這似乎并沒有很大變化,這表明,相對于數(shù)據(jù)速率的信號諧波含量正在下降。

設(shè)定垂直量程:除帶寬、采樣率和上升時間外,對高性能示波器來說,觀察當(dāng)前高頻信令中常見的低壓信令非常重要。在這一領(lǐng)域中,DPO/DSA70000D系列提供了無可比擬的靈活設(shè)定垂直量程的能力,是唯一提供可變端接電壓(Vterm)的高性能示波器。在傳統(tǒng)上,示波器輸入一直是接地的,而被測信號通常沒有參考地電平。多種現(xiàn)代應(yīng)用(包括DC耦合信號應(yīng)用)現(xiàn)在要求具有正或負的端接電壓才能運行和檢測。把這些高速信號引到大地至少會損害測量結(jié)果,要求專用夾具電平移位和/或衰減信號,則可能會損壞被測器件(DUT)。

過去,調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)的端接電壓需要采用專用探頭或定制衰減器網(wǎng)絡(luò),這引入了額外的測量噪聲,需要額外的成本。DPO/DSA70000D系列為DUT提供了高達±3.4V的可變Vterm,并在前端MCM采用了分路電路設(shè)計,支持較大的偏置范圍。

用戶可以調(diào)節(jié)示波器、鏡像DUT的條件和特點,在其最終運行的類似環(huán)境中測量高速信號,而沒有引入衰減或可能使信號失真的定制電路。

隨著現(xiàn)代高速信號的電壓范圍下降,工程師還需要具有廣闊靈活的測量視角。DPO/DSA70000D系列與Vterm功能相結(jié)合,提供了±3.4V的擴展偏置范圍。這不僅是一種放大功能,還可以在全部動態(tài)范圍查看和測量可變電壓。通過結(jié)合使用Vterm和偏置,把示波器的參考點中心放在DUT工作范圍的參考點上,可以使可用的動態(tài)范圍達到最大,并使測量系統(tǒng)的噪聲達到最小。

精確性和強大的捕獲能力

高性能技術(shù)應(yīng)用正在推動現(xiàn)代測試設(shè)備的發(fā)展。硅檢定、串行數(shù)據(jù)一致性測試、光學(xué)調(diào)制分析、雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)存儲器和寬帶RF檢驗等任務(wù),不僅要求具有杰出的帶寬、采樣率和信號保真度,還要求具有巨大的靈活性,來調(diào)節(jié)示波器的測量條件和視角。

泰克DPO/DSA70000D系列示波器在實時示波器中同時實現(xiàn)了行業(yè)比較好的信號完整性和定時精度,使用戶能夠更準(zhǔn)確的、以更高的信心來完成設(shè)計,設(shè)計人員能夠:利用業(yè)界精準(zhǔn)的采集系統(tǒng),發(fā)現(xiàn)感興趣的重要信號。此類采集系統(tǒng)的特征是采用了在示波器和探頭中使用的可靠鍺化硅技術(shù);使用市場上廣泛的觸發(fā)系統(tǒng),捕獲高速信號評估所需的精確的信號事件;利用高采樣率搜尋記錄,以確定關(guān)鍵事件/誤差,用于系統(tǒng)驗證;評估要求正或負端接電壓的DC耦合信號,而不會把信號牽引到地或損壞被測器件;利用30GHz以上的示波器中最高的信噪比,快速分析關(guān)鍵測量結(jié)果。它能夠提供高靈敏度、低噪聲的測量結(jié)果,從而為進行精確的高速光學(xué)、能量和串行數(shù)據(jù)測量定性分析提供依據(jù)。

尖端軟件與DPO/DSA70000系列平臺上的用戶界面工具相結(jié)合,為復(fù)雜測量方案(包括調(diào)試/分析)提供了最短的快速響應(yīng)時間。DPO/DSA73304D通過與高帶寬、高采樣率和快速上升時間相結(jié)合,可以為現(xiàn)今最高的信號完整性測量需求而進行特別的量身定做。
示波器基本故障問題解決方案

  示波器的應(yīng)用非常的廣泛,尤其受到一些工程師的鐘愛,對于一些新操作者來說,遇到的問題層出不窮,小編也是深有體會的,為此根據(jù)一些資料,整理了六條使用常見問題,希望能夠在給小白的您帶來一些幫助?

  1、在高速串行測試時,對測試所需示波器有什么樣的要求?哪幾個指標(biāo)是最關(guān)鍵的?

  基本來說對帶寬和采樣率要滿足串行信號的要求,接下來就需要考察是否是差分信號,以及示波器對串行測試的分析功能,比如說碼型的觸發(fā)和解碼等等。

  2、在測量高速數(shù)字信號時,示波器的帶寬是不是一定要是信號頻率的5倍以上?為什么?

  選擇示波器的帶寬,一般是被測信號的速率的2.5倍或信號最高頻率的5倍,這樣可以看到高速信號的5次諧波。

  3、測試時的帶寬是如何影響測試結(jié)果?對測試的帶寬有何要求?

  首先,帶寬不足會損失掉信號的高頻諧波分量,導(dǎo)致時間和幅度測試的不準(zhǔn)確。然而即使帶寬相同的示波器會表現(xiàn)出不同的上升時間,對應(yīng)用來說,測量上升沿上發(fā)生的錯誤非常關(guān)鍵,另外在數(shù)據(jù)信號中,對眼圖的張開度影響也很大。正因如此,上升時間指標(biāo)對在時域中執(zhí)行測量的設(shè)備(示波器)非常重要。

  4、帶寬是否越高越好?

  前面提到,目前廣泛使用的電路板、連接器、電纜和集成模塊的上升時間非常有限,以至于高速信號經(jīng)過傳輸之后高頻分量損耗嚴(yán)重。許多新的第三代標(biāo)準(zhǔn)(USB3.0, PCIE Gen3, 10G-KR)已經(jīng)考慮到這一點,要求的帶寬比以前低得多。當(dāng)然,也有一些例外情況,要求更高的帶寬。比如100G以太網(wǎng)方案,它采用復(fù)雜的調(diào)制技術(shù)(DP-PSK),要求四個模擬輸入及超過20 GHz的帶寬進行分析。鑒于這些應(yīng)用,泰克已經(jīng)宣布,其帶寬超過30GHz的示波器將于今年下半年晚些時候推出。

  5、怎樣才能提高測試的靈敏度呢?

  選擇合適的帶寬,帶寬過大會增加噪聲,在垂直設(shè)置上,盡可能讓信號填滿屏幕,好充分利用示波器的AD位數(shù),可以采用波形平均,合適的探頭的帶寬,選擇高分辨率 (Hi-res) 采集模式等等。

  6、在對系統(tǒng)設(shè)計進行調(diào)試時,確認異?,F(xiàn)象并在短時間內(nèi)弄清電路的運行條件,如何增加捕捉異常現(xiàn)象的機會?

  使用DPX技術(shù),并打開無限余輝,幾秒鐘就可以看到平時可能數(shù)小時看不到的異常信號。該性能提高了見證數(shù)字系統(tǒng)中出現(xiàn)的瞬態(tài)事件的幾率,這些瞬態(tài)事件包括短脈沖、毛刺和轉(zhuǎn)換誤差等。

標(biāo)簽: 示波器
示波器 示波器基本故障問題解決方案_示波器
示波器的應(yīng)用原理如何?

    示波器是利用電子示波管的特性,將人眼無法直接觀測的交變電信號轉(zhuǎn)換成圖像,顯示在熒光屏上以便測量的電子測量儀器。

    它是觀察數(shù)字電路實驗現(xiàn)象、分析實驗中的問題、測量實驗結(jié)果必不可少的重要儀器。

    示波器由示波管和電源系統(tǒng)、同步系統(tǒng)、X軸偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、Y軸偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、延遲掃描系統(tǒng)、標(biāo)準(zhǔn)信號源組成。

    1.1示波管

    陰極射線管(CRT)簡稱示波管,是示波器的核心。它將電信號轉(zhuǎn)換為光信號。電子槍、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)和熒光屏三部分密封在一個真空玻璃殼內(nèi),構(gòu)成了一個完整的示波管。

    1.熒光屏

    現(xiàn)在的示波管屏面通常是矩形平面,內(nèi)表面沉積一層磷光材料構(gòu)成熒光膜。在熒光膜上常又增加一層蒸發(fā)鋁膜。高速電子穿過鋁膜,撞擊熒光粉而發(fā)光形成亮點。

    鋁膜具有內(nèi)反射作用,有利于提高亮點的輝度。鋁膜還有散熱等其他作用。

    當(dāng)電子停止轟擊后,亮點不能立即消失而要保留一段時間。亮點輝度下降到原始值的10%所經(jīng)過的時間叫做“余輝時間”。

    余輝時間短于10μs為極短余輝,10μs—1ms為短余輝,1ms—0.1s為中余輝,0.1s-1s為長余輝,大于1s為極長余輝。一般的示波器配備中余輝示波管,高頻示波器選用短余輝,低頻示波器選用長余輝。

    由于所用磷光材料不同,熒光屏上能發(fā)出不同顏色的光。一般示波器多采用發(fā)綠光的示波管,以保護人的眼睛。

    2.示波管的電源

    為使示波管正常工作,對電源供給有一定要求。規(guī)定第二陽極與偏轉(zhuǎn)板之間電位相近,偏轉(zhuǎn)板的平均電位為零或接近為零。

    陰極必須工作在負電位上。柵極G1相對陰極為負電位(—30V~—100V),而且可調(diào),以實現(xiàn)輝度調(diào)節(jié)。

    陽極為正電位(約+100V~+600V),也應(yīng)可調(diào),用作聚焦調(diào)節(jié)。

    第二陽極與前加速極相連,對陰極為正高壓(約+1000V),相對于地電位的可調(diào)范圍為±50V。由于示波管各電極電流很小,可以用公共高壓經(jīng)電阻分壓器供電。

    3.偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)

    偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)控制電子射線方向,使熒光屏上的光點隨外加信號的變化描繪出被測信號的波形。

    Y1、Y2和Xl、X2兩對互相垂直的偏轉(zhuǎn)板組成偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)。Y軸偏轉(zhuǎn)板在前,X軸偏轉(zhuǎn)板在后,因此Y軸靈敏度高(被測信號經(jīng)處理后加到Y(jié)軸)。

    兩對偏轉(zhuǎn)板分別加上電壓,使兩對偏轉(zhuǎn)板間各自形成電場,分別控制電子束在垂直方向和水平方向偏轉(zhuǎn)。

    4.電子槍及聚焦

    電子槍由燈絲(F)、陰極(K)、柵極(G1)、前加速極(G2)(或稱第二柵極)、陽極(A1)和第二陽極(A2)組成。它的作用是發(fā)射電子并形成很細的高速電子束。燈絲通電加熱陰極,陰極受熱發(fā)射電子。

    柵極是一個頂部有小孔的金屬園筒,套在陰極外面。由于柵極電位比陰極低,對陰極發(fā)射的電子起控制作用,一般只有運動初速度大的少量電子,在陽極電壓的作用下能穿過柵極小孔,奔向熒光屏。

    初速度小的電子仍返回陰極。如果柵極電位過低,則全部電子返回陰極,即管子截止。

    調(diào)節(jié)電路中的W1電位器,可以改變柵極電位,控制射向熒光屏的電子流密度,從而達到調(diào)節(jié)亮點的輝度。

    陽極、第二陽極和前加速極都是與陰極在同一條軸線上的三個金屬圓筒。前加速極G2與A2相連,所加電位比A1高。G2的正電位對陰極電子奔向熒光屏起加速作用。

    電子束從陰極奔向熒光屏的過程中,經(jīng)過兩次聚焦過程。次聚焦由K、G1、G2完成,K、K、G1、G2叫做示波管的電子透鏡。

    第二次聚焦發(fā)生在G2、A1、A2區(qū)域,調(diào)節(jié)第二陽極A2的電位,能使電子束正好會聚于熒光屏上的一點,這是第二次聚焦。

    A1上的電壓叫做聚焦電壓,A1又被叫做聚焦極。有時調(diào)節(jié)A1電壓仍不能滿足良好聚焦,需微調(diào)第二陽極A2的電壓,A2又叫做輔助聚焦極。

    1.2示波器的基本組成

    從上一小節(jié)可以看出,只要控制X軸偏轉(zhuǎn)板和Y軸偏轉(zhuǎn)板上的電壓,就能控制示波管顯示的圖形形狀。

    我們知道,一個電子信號是時間的函數(shù)f(t),它隨時間的變化而變化。

    因此,只要在示波管的X軸偏轉(zhuǎn)板上加一個與時間變量成正比的電壓,在y軸加上被測信號(經(jīng)過比例放大或者縮小),示波管屏幕上就會顯示出被測信號隨時間變化的圖形。

    電信號中,在一段時間內(nèi)與時間變量成正比的信號是鋸齒波。

    它由示波管、Y軸系統(tǒng)、X軸系統(tǒng)、Z軸系統(tǒng)和電源等五部分組成。

    被測信號①接到“Y"輸入端,經(jīng)Y軸衰減器適當(dāng)衰減后送至Y1放大器(前置放大),推挽輸出信號②和③。

    經(jīng)延遲級延遲Г1時間,到Y(jié)2放大器。放大后產(chǎn)生足夠大的信號④和⑤,加到示波管的Y軸偏轉(zhuǎn)板上。

    為了在屏幕上顯示出完整的穩(wěn)定波形,將Y軸的被測信號③引入X軸系統(tǒng)的觸發(fā)電路;

    在引入信號的正(或者負)極性的某一電平值產(chǎn)生觸發(fā)脈沖⑥,啟動鋸齒波掃描電路(時基發(fā)生器),產(chǎn)生掃描電壓⑦。

    由于從觸發(fā)到啟動掃描有一時間延遲Г2,為保證Y軸信號到達熒光屏之前X軸開始掃描,Y軸的延遲時間Г1應(yīng)稍大于X軸的延遲時間Г2。

    掃描電壓⑦經(jīng)X軸放大器放大,產(chǎn)生推挽輸出⑨和⑩,加到示波管的X軸偏轉(zhuǎn)板上。

    z軸系統(tǒng)用于放大掃描電壓正程,并且變成正向矩形波,送到示波管柵極。這使得在掃描正程顯示的波形有某一固定輝度,而在掃描回程進行抹跡。

 

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示波器 示波器的應(yīng)用原理如何?_示波器

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