紐扣測試儀/紐扣檢測儀  型號；MHY-19868

鈕扣測試儀，可配置NK、HF推拉力計和專用夾具，專用于測量鈕扣的扣合力或脫離衣物破壞力。檢測鈕扣、按鈕等固定強度是很重要的一項標準，尤其是在嬰兒和兒童服裝設(shè)計及制造中為重要。在鈕扣固定裝飾件上使用一定力的測量需要通過力度儀器來記錄。

目 的：

MHY-19868鈕扣測試儀，可配置NK、HF推拉力計和專用夾具，專用于測量鈕扣的扣合力或脫離衣物破壞力。檢測鈕扣、按鈕等固定強度是很重要的一項標準，尤其是在嬰兒和兒童服裝設(shè)計及制造中為重要。在鈕扣固定裝飾件上使用一定力的測量需要通過力度儀器來記錄。

意義及作用：

此儀器的測試方法用作量度對鈕扣及衣物進行垂直拉力測試的力度，而鈕扣及按鈕并不拉扯至脫離衣物。 
此方法所要求鈕扣縫紉規(guī)格應(yīng)該按照鈕扣制造商所定的標準。
此測試方法用于建立不同穿著環(huán)境的關(guān)連性，以及對不同鈕的各類和品牌作出比較。 
此標準可能包含危險物料，操作及儀器，而標準內(nèi)沒有列出所有可能在使用上出現(xiàn)的安全問題。故此標準的使用者責任建立有關(guān)的安全和建康的規(guī)則，以及在使用前決定適當?shù)囊?guī)條。
所有鈕扣都需要用鎖鏈針步縫緊在布料上。
按照測試要求，當大的鈕扣尺寸是大于6mm或小于/等于6mm，鈕扣就改須能分別承受90N有50N的拉力。 

　　集成芯片測試儀器是使用在不同的工藝中，在不同的工況要求下，集成芯片測試儀器在使用的時候需要注意一些使用知識，那么，集成芯片測試儀器在使用需要注意哪些呢？

　　芯片上的溫度變化會顯著地影響芯片功耗、速度和可靠性。特別是泄漏功率與溫度呈指數(shù)關(guān)系，如果不能正確地處理，將導(dǎo)致熱失控。而像壓降和時鐘偏移等性能因素也特別容易受空間溫度變化的影響，并導(dǎo)致性能下降。集成芯片測試儀器在器件性能劣化過程中也扮演著重要角色，這是由于偏置溫度不穩(wěn)定等現(xiàn)象引起的，這在模擬電路中更加明顯。封裝和相關(guān)冷卻系統(tǒng)的冷卻效率會由于上的熱點而降低。在許多情況下，片上熱傳感器需要正確放置于高溫度的區(qū)域。

　　盡可能早地通過集成芯片測試儀器分析檢測和消除設(shè)計中的熱點，應(yīng)該早在底層規(guī)劃階段就了解物理版圖和功耗狀況，此時也是進行早期熱規(guī)劃的好時機。集成芯片測試儀器運行時充分考慮封裝和金屬化效應(yīng)。忽略這些結(jié)構(gòu)、使用功率或功率密度圖去估計溫度，都會導(dǎo)致不準確的功率估計和其它對溫度敏感的分析結(jié)果。

　　集成芯片測試儀器在每次可能改變芯片功率分布的設(shè)計反復(fù)階段中，認真檢查熱效應(yīng)。在器件的一些重要工作模式下作的熱分析通常足夠用來提供熱點和其它關(guān)注點的反饋信息。集成芯片測試儀器在對片上變化敏感的時鐘樹和關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)設(shè)計中充分利用分散的溫度信息。時序和信號完整性分析也將受益于準確的溫度和壓降信息。如果集成芯片測試儀器傳感器放置位置不正確，那么它們可能捕捉不到芯片的溫度，也就可能導(dǎo)致過于樂觀的反饋結(jié)果。

　　集成芯片測試儀器在使用的時候需要注意以上使用常識，多多注意保養(yǎng)，使得集成芯片測試儀器保持在穩(wěn)定的狀態(tài)。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，請聯(lián)系刪除，謝謝。）