水質(zhì)分析儀器的校準(zhǔn)，在經(jīng)典儀表管理中一直使用"校驗(yàn)"這一名詞，現(xiàn)在在計(jì)量管理中，稱(chēng)為"校準(zhǔn)"。

    校準(zhǔn)(Calibration)是確定計(jì)量器具示值誤差(必要時(shí)也包括確定其他計(jì)量性能)的全部工作。

    1.校準(zhǔn)與檢定的異同

    校準(zhǔn)和檢定是兩個(gè)不同的概念，但兩者之間有密切的聯(lián)系。

    校準(zhǔn)一般是用比被校計(jì)量順具精度高的計(jì)量器具(稱(chēng)為標(biāo)準(zhǔn)器具)與被校計(jì)量器具進(jìn)行比較，以確定被校計(jì)量器具的示值誤差；

    有時(shí)也包括部分計(jì)量性能，但往往進(jìn)行校準(zhǔn)的計(jì)量器具只需確定示值誤差，如果校準(zhǔn)是檢定工作中示值誤差的檢定內(nèi)容；

    那樣準(zhǔn)可說(shuō)是檢定工作中的一部分，但校準(zhǔn)不能視為檢定，況且校準(zhǔn)對(duì)條件的要求亦不如檢定那么嚴(yán)格；

    校準(zhǔn)工作可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行，而檢定則須在檢定室內(nèi)進(jìn)行。

    有人把校準(zhǔn)理解為將計(jì)量器具調(diào)整到規(guī)定誤差范圍的過(guò)程，這是不夠確切的。雖然校準(zhǔn)過(guò)程中可以調(diào)整，但調(diào)整又不等于校準(zhǔn)。

    ?2.校準(zhǔn)的基本要求

    校準(zhǔn)應(yīng)滿(mǎn)足的基本要求如下：

    (1)環(huán)境條件校準(zhǔn)如在檢定(校準(zhǔn))室進(jìn)行，則環(huán)境條件應(yīng)滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室要求的溫度、濕度等規(guī)定。

    校準(zhǔn)如在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行，則環(huán)境條件以能滿(mǎn)足儀表現(xiàn)場(chǎng)使用的條件為準(zhǔn)。

    (2)儀器作為校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)儀器其誤差限應(yīng)是被校表誤差限的1/3~1/10。

    (3)人員校準(zhǔn)雖不同于檢定，但進(jìn)行校準(zhǔn)的人員也應(yīng)經(jīng)有效的考核，并取得相應(yīng)的合格證書(shū)；

    只有持證人員方呆出具校準(zhǔn)證書(shū)和校準(zhǔn)報(bào)告，也只有這種證書(shū)和報(bào)告才認(rèn)為是有效的。

    合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。
    每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電微粒）運(yùn)行在核子周?chē)能壍郎?。而且其電子的?shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對(duì)應(yīng)固定的元素名稱(chēng)。能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了最里層三個(gè)電子軌道即K，L，M上的活動(dòng)情況，其中K軌道較為接近核子，每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。
    在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將最里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中，它們會(huì)釋放出能量，稱(chēng)之為二次X射線光子。而整個(gè)過(guò)程則稱(chēng)為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來(lái)的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。