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快來學習粒度分析儀的校準 分析儀如何操作

時間:2020-08-06    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
粒度分析儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數(shù)器、電阻式顆粒計數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。其廣泛應用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農(nóng)藥、炸藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀物料。
此處要談到了粒度分析儀校準不單單是對儀器采用國家標準物質(zhì)進行儀器準確度的校正,儀器校準應包括以下幾方面的內(nèi)容:
粒度分析儀校準:
1、儀器光學基準
只有在保證儀器光學系統(tǒng)工作正常的情況下,儀器的校準才有意義。光學窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分,因此測試前應保證光學窗口內(nèi)外表面光潔,無劃痕,清潔,無缺損。光學基準譜平滑依次過渡,無明顯突起或凹陷。
2、外界條件對儀器的影響
外界條件主要包括環(huán)境的濕度,溫度和電源電壓的波動對儀器測試結(jié)果的影響。
3、儀器測量重復性
將儀器預熱到規(guī)定時間,采用一種國家標準物質(zhì)進行多次測試,一般測試樣品6-10次,記錄每次D50,計算測量平均值,標準偏差和相對標準偏差。
4、儀器測量相對誤差
與儀器重復性測量不同的是,儀器相對誤差的測試要采用至少三種樣品以上的國家標準物質(zhì)進行測試,每種樣品獨立測量3次并分別求其平均值,獲得多個粒度測量的平均值,分別計算儀器測量平均值與粒度表標準物質(zhì)標準值間的相對誤差。
5、儀器分辨力
儀器分辨力的判斷是采用測試兩種樣品混合測試的方法,兩種粒度標準物質(zhì)的移取量要根據(jù)其質(zhì)量濃度而定,確?;旌虾蟮臉悠分袠藴饰镔|(zhì)的質(zhì)量濃度比為1:2,將樣品混合均勻后加入儀器進行測量。應能夠從儀器測量粒度分布曲線圖中能夠觀察出2個獨立不相連的峰形,則認為雙峰已分



    數(shù)顯式鐵離子分析儀是供火力發(fā)電廠、核發(fā)電廠、石油、化工等相關(guān)行業(yè)對其鍋爐給水、蒸汽、凝結(jié)水、水內(nèi)冷發(fā)電機冷卻水和爐水中的鐵離子濃度測定的必備儀表。


    測定依據(jù)GB/T14427-93“鍋爐用水和冷卻水分析方法——鐵的測定”,即采用1,10-菲羅啉光度法。本系列儀器具有不工作時的待機功能,對光源采取了有效的保護,可以連續(xù)的運行在現(xiàn)場環(huán)境。檢測元件的恒溫環(huán)境使得儀器的穩(wěn)定性更具極佳的保證。

 


    參數(shù)


    測量范圍 0?~199.9μg/L Fe


    基本誤差 ≤±2.5%FS


    重復性誤差 ≤±0.5%FS


    短期漂移


    (30分鐘) ≤±0.5%FS


    長期漂移


    (24小時) ≤±2.5%FS


    化學方法 1,1.0-菲羅啉光度法


    GB/T 14427— 93


    電源/功率 220V/40W


    外型尺寸 長×寬×高:430×415×160(mm)


    重量 10kg


    防水便攜數(shù)顯鐵離子測定儀之所以要監(jiān)測水中鐵的濃度,是因為鐵超過一定含最后是非常有害的。


    例如,鐵可以改變飲用水的味道產(chǎn)生怪味,使洗衣房的衣服沾上污點,損壞廚房設(shè)備且有助于某些細菌的生長。鐵也作為工廠或水加熱/冷卻系統(tǒng)腐蝕情況的指標。此外監(jiān)測采礦廢水中鐵的濃度,可避免污染。


    防水便攜數(shù)顯鐵離子測定儀性能特點


    優(yōu)良的光學系統(tǒng)設(shè)計,人性化確認操作,保證儀器的良好校準;


    雙行易讀LCD顯示屏,人性化顯示界面,操作簡單、快捷;


    *功能,試劑與樣品反應時間-致性,確保測量精確度;


    操作簡單,定期內(nèi)置標準曲線標定功能,確保儀器性能*** ;


    出廠前內(nèi)置標準曲線標定,具有CAL CHECK性能核查功能,GLP功能,隨時更新、查閱標定數(shù)據(jù)、日期、標準等信息;


    高精度測量結(jié)果,光源防塵測量系統(tǒng),自動關(guān)機節(jié)電模式


    優(yōu)良防水性能,適用于實驗室和現(xiàn)場快速樣品分析測量。


    性能核查功能


    儀器在使用一-段時間后,儀器光學系統(tǒng)將會衰減,造成內(nèi)部設(shè)置的標準曲線會出現(xiàn)漂移,影響測量數(shù)據(jù)可靠性和準確性。


    獨有CAL CHECKTM性能核查功能,鐵NIST測量曲線標定組可定期(頻繁使用,1-3個月標定一次,常規(guī)情況下,半年標定- -次 )儀器內(nèi)部曲線進行標定和校正,修訂內(nèi)部標準曲線漂移,確保測量數(shù)據(jù)正確可靠。







    合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認物質(zhì)里的特定元素, 同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。


    每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負電微粒)運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。

 


    從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱。


    能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應用了*里層三個電子軌道即K,L,M上的活動情況,其中K軌道*為接近核子,每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層。


    在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將*里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。


    這時,原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中,它們會釋放出能量,稱之為二次X射線光子。


    而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。


    特定元素在一定時間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度,能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。







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