濕膜測(cè)厚儀：

濕膜測(cè)厚儀又叫濕膜梳、測(cè)厚規(guī)、濕膜卡、濕膜測(cè)厚規(guī)是測(cè)量色漆、清漆等各種涂料在施工時(shí)涂層厚度的工具。各種涂料施工后，立即將濕膜測(cè)厚儀穩(wěn)定垂直地放在平整的工件涂層表面．立即可測(cè)得涂層厚度。

濕膜厚度儀測(cè)量原理：

濕膜厚度測(cè)定一般是涂覆者用于指導(dǎo)人們確定獲得預(yù)期干膜厚度需要涂覆的規(guī)定涂料用量。濕膜測(cè)厚儀一般有兩種：濕膜厚度輪規(guī)和濕膜厚度梳規(guī)。采用濕膜厚度測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于可以在涂覆過程中檢查和改正不適當(dāng)?shù)耐磕ず穸?。如果涂覆者知道了濕膜厚度，?dāng)以此數(shù)據(jù)乘以涂料固體份的體積百分率，就可估算出干膜厚度。 　　干膜厚度（μm）＝濕膜厚度（μm）*涂料固體分（體積%） 　　涂料實(shí)際用量（kg）＝（1＋α）*涂料理論涂布量（kg/m2）*涂裝面積（m2）（α為涂料消耗系數(shù)） 　　在實(shí)際施工中，由于被涂物表面不平整，涂裝過程中的消耗，環(huán)境條件中風(fēng)速等影響，以及施工工具種類不同等影響，涂料必然存在不同程度的損耗，α值不是一個(gè)常數(shù)，由各種因素綜合決定。一般高壓無氣噴涂平整表面α為0.6—0.8；噴涂復(fù)雜表面0.8—1.0；手工涂裝平整表面α為0.3—0.4；手工涂裝復(fù)雜表面α值為0.4—0.6。 　　涂裝作業(yè)人員可利用濕膜厚度計(jì)邊檢測(cè)、邊施工、隨時(shí)調(diào)整濕膜厚度。在施工中，溫膜厚度的檢測(cè)頻數(shù)可以是任意的，在噴涂大而平整的表面，操作熟練時(shí)，檢測(cè)頻數(shù)可小些。在被涂物面結(jié)構(gòu)復(fù)雜，操作不熟練的情況下，檢測(cè)頻數(shù)可大些。一般要求在每10 m2的涂覆表面均勻分布測(cè)量點(diǎn)，一般1 m2分布5個(gè)測(cè)量點(diǎn)，各測(cè)量三次，測(cè)平均值，以提高濕膜厚度的可靠性。在建筑涂料中，鋼筋水泥的表面，不可要求也不允許進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，則濕膜厚度的測(cè)定可用于取代干膜厚度測(cè)定。 　　大多情況下，濕膜厚度的測(cè)定，只是保證干膜膜厚的輔助手段，對(duì)無機(jī)富鋅涂料和一些快揮發(fā)性的涂料，干、濕膜比例變化很大，僅用濕膜厚度估算干膜厚度，可能會(huì)帶來錯(cuò)誤的結(jié)果，評(píng)價(jià)總厚度，還是以干膜厚度為準(zhǔn)。

測(cè)厚儀的主要類型有哪些

測(cè)厚儀用于測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時(shí)必須測(cè)量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時(shí)則要測(cè)定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)安全。根據(jù)測(cè)定原理的不同，常用測(cè)厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。
超聲波測(cè)厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射，測(cè)量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測(cè)厚儀。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測(cè)厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材，大測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。
磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。