涂層測(cè)厚儀的故障主要有示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定、測(cè)量差錯(cuò)較大、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)。

    致使這些毛病的要素既有來(lái)自儀器本身，也有被測(cè)工件的要素；

    還有即是來(lái)自人為的影響，下面為大家介紹一下涂層測(cè)厚儀常見(jiàn)故障及解決方法

    1.示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定

    致使涂層測(cè)厚儀示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來(lái)自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性；

    比方工件本身是不是為導(dǎo)磁性資料，假如是導(dǎo)磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測(cè)厚儀；

    假如工件為導(dǎo)電體，咱們就得挑選渦流涂層測(cè)厚儀。

    再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素；

    測(cè)厚儀的探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)極其靈敏。

    有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。

    因而，掃除此種毛病的關(guān)鍵即是：

    測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

    再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí)，所運(yùn)用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的。

    如感受測(cè)量成果差錯(cuò)比較大時(shí)，請(qǐng)先用儀器裝備的塑料校準(zhǔn)片做一輪測(cè)驗(yàn)；

    如違背答應(yīng)差錯(cuò)較遠(yuǎn)則有也許是儀器本身出了問(wèn)題，需返廠家檢修。

    在體系校按時(shí)沒(méi)有挑選適宜的基體。

    基體最小平面為7mm，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

    2.測(cè)量成果差錯(cuò)大

    探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。

    而且探頭的放置時(shí)刻不宜過(guò)長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。

    測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到精確的測(cè)量成果。

    別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過(guò)小、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常；

    假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。

    3.屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)

    最簡(jiǎn)略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值；

    可以思考是不是有測(cè)頭及連線有松動(dòng)、斷開(kāi)或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。

    小編在實(shí)際作業(yè)中就碰到過(guò)因測(cè)頭運(yùn)用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。

    4.人為要素

    涂層測(cè)厚儀之所以可以測(cè)量到微米級(jí)就由于它可以采納磁通量的細(xì)小改動(dòng)，并把它轉(zhuǎn)化變成數(shù)字信號(hào)。

    運(yùn)用者在測(cè)量過(guò)程中假如對(duì)儀器不熟悉就也許使探頭違背被測(cè)體，使磁通量發(fā)作改動(dòng)形成錯(cuò)誤測(cè)量。

    運(yùn)用者初度運(yùn)用儀器時(shí)，要先認(rèn)真研讀說(shuō)明書(shū)，把握好測(cè)量辦法。

    5.儀器本身發(fā)作毛病

    長(zhǎng)時(shí)間處于作業(yè)狀況的測(cè)厚儀，極有也許發(fā)作轟動(dòng)、下跌、等意外；

    或所在的作業(yè)環(huán)境有磁場(chǎng)攪擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受攪擾至損，又是由于經(jīng)多人次、多地址運(yùn)用；

    致使儀器測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠、屏幕數(shù)據(jù)顯現(xiàn)呈亂碼、乃至無(wú)法開(kāi)機(jī)等；

    所以主張盡量確保專人運(yùn)用和保管儀器，發(fā)作毛病及時(shí)返廠修理，不得私行拆機(jī)查看。

    測(cè)厚儀其實(shí)是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中廣泛運(yùn)用。這類涂層測(cè)厚儀，根據(jù)其測(cè)量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個(gè)種類：運(yùn)用α 射線、β 射線、y 射線穿透特性的放射性厚度計(jì);選用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)以及選用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有電容式厚度計(jì)等。

    此外，運(yùn)用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì)，現(xiàn)在還處在研發(fā)、試驗(yàn)期間。涂層測(cè)厚儀可測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如：搪瓷、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精細(xì)測(cè)量，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地運(yùn)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開(kāi)發(fā)等范疇，是企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量、商查看控、必不可少的查看儀器。

    一、作業(yè)原理

    膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

    a) 磁性法(F 型測(cè)量頭)

    當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

    b) 渦流法(N 型測(cè)量頭)

    利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

    二、常見(jiàn)毛病及掃除辦法

    涂層測(cè)厚儀的毛病主要有示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定、測(cè)量差錯(cuò)較大、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)。致使這些毛病的要素既有來(lái)自儀器本身，也有被測(cè)工件的要素，還有即是來(lái)自人為的影響，下面咱們介紹一下掃除這些毛病的辦法。

    1.示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定

    致使涂層測(cè)厚儀示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來(lái)自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性，比方工件本身是不是為導(dǎo)磁性資料，假如是導(dǎo)磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測(cè)厚儀，假如工件為導(dǎo)電體，咱們就得挑選渦流涂層測(cè)厚儀。再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素，測(cè)厚儀的探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關(guān)鍵即是：測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí)，所運(yùn)用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的。如感受測(cè)量成果差錯(cuò)比較大時(shí)，請(qǐng)先用儀器裝備的塑料校準(zhǔn)片做一輪測(cè)驗(yàn)，如違背答應(yīng)差錯(cuò)較遠(yuǎn)則有也許是儀器本身出了問(wèn)題，需返廠家檢修。在體系校按時(shí)沒(méi)有挑選適宜的基體。基體最小平面為7mm，最小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

    2.測(cè)量成果差錯(cuò)大

    探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過(guò)長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到精確的測(cè)量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過(guò)小、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常，假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。

    3.屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)

    最簡(jiǎn)略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值，可以思考是不是有測(cè)頭及連線有松動(dòng)、斷開(kāi)或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。小編在實(shí)際作業(yè)中就碰到過(guò)因測(cè)頭運(yùn)用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。

    4.人為要素

    涂層測(cè)厚儀之所以可以測(cè)量到微米級(jí)就由于它可以采納磁通量的細(xì)小改動(dòng)，并把它轉(zhuǎn)化變成數(shù)字信號(hào)。運(yùn)用者在測(cè)量過(guò)程中假如對(duì)儀器不熟悉就也許使探頭違背被測(cè)體，使磁通量發(fā)作改動(dòng)形成錯(cuò)誤測(cè)量。運(yùn)用者初度運(yùn)用儀器時(shí)，要先認(rèn)真研讀說(shuō)明書(shū)，把握好測(cè)量辦法。

    5.儀器本身發(fā)作毛病

    長(zhǎng)時(shí)間處于作業(yè)狀況的測(cè)厚儀，極有也許發(fā)作轟動(dòng)、下跌、等意外，或所在的作業(yè)環(huán)境有磁場(chǎng)攪擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受攪擾至損，又是由于經(jīng)多人次、多地址運(yùn)用，致使儀器測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠、屏幕數(shù)據(jù)顯現(xiàn)呈亂碼、乃至無(wú)法開(kāi)機(jī)等，所以主張盡量確保專人運(yùn)用和保管儀器，發(fā)作毛病及時(shí)返廠修理，不得私行拆機(jī)查看。

    因而，在運(yùn)用測(cè)厚儀測(cè)量的時(shí)分要注意以下幾點(diǎn)：

    (1)在測(cè)量的時(shí)分要注意側(cè)頭與測(cè)試外表堅(jiān)持筆直。

    (2)在測(cè)量時(shí)要保持壓力的穩(wěn)定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

    (3)在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意標(biāo)準(zhǔn)片基體的金屬磁性和外表粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件類似。

    (4)在測(cè)量的時(shí)分要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因而在彎曲的試件外表上測(cè)量時(shí)不可靠的。

    (5)測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)發(fā)作磁場(chǎng)，假如會(huì)，將會(huì)攪擾磁性測(cè)厚法的測(cè)厚儀。

    (6) 在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意基體金屬的臨界厚度，假如大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

    (7)在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)驗(yàn)件的要直接接觸，因而超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭鏟除附著物質(zhì)。

    (8)測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和接近試件邊際處測(cè)量，由于通常的測(cè)厚儀對(duì)試件外表形狀的遽然改動(dòng)很靈敏。