熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。
X熒光光譜儀的工作原理：
X熒光光譜儀主要由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。其原理就是：X射線管通過產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），來激發(fā)被測樣品。 受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。 元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此，可以進行元素定量分析。用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X熒光光譜儀。由于X熒光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發(fā)射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質中的原子，使之產(chǎn)生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態(tài)研究。
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。
技術原理：
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長與元素的原子序數(shù)有關。
根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量。因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此，可以進行元素定量分析
產(chǎn)品應用：
X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得較多也較為廣泛泛,它已然成為這些領域的常用檢測設備了。
手持式X熒光光譜儀可以直接用于從鉆井中的樣品進行分析，不需要對樣品進行任何進一步的準備。對爆破孔鉆屑，就可直接分析孔的表面，或直接分析收集袋中的樣品，無需對其做處理準備。
像這樣獲得瞬時數(shù)據(jù)可以節(jié)省大量的時間，否則會花掉把樣本搬到實驗室的時間。
實時指導操作能夠提高生產(chǎn)效率，進而提高利潤。大量的研究證明手持式X熒光光譜儀是一個精確、高效的測量工具。
X熒光光譜儀的操作介紹
1、本儀器采用X光管產(chǎn)生激發(fā)源，因此，在不使用時，儀器會自動將X光管的高壓斷掉，使X光管的電源處理待機狀態(tài)。
此時，儀器將不會產(chǎn)生任何射線，同時大大延長X光管的壽命。
2、在放置樣品時，只要開啟防護罩，儀器也自動將X光管停止，不再產(chǎn)生X射線，完全可以保護使用者的人身安全。
3、開啟、關閉儀器蓋子時，應輕開輕放。
4、設備使用的操作人員，必須要接受安全和操作培訓后，才可上機，以確保設備的安全操作與正確使用。
5、養(yǎng)成正確使用設備的習慣
(1)開機順序：開穩(wěn)壓電源——開測試儀及外部設備(顯示器、打印機)——開計算機主機。
(2)關機順序：退出測試程序——關計算機主機——關測試儀及外設——關穩(wěn)壓電源。
(3)不要頻繁地開關機，電源的頻繁通斷給儀器造成的沖擊不容忽視。
(4)在使用中嚴格按照操作規(guī)程來對儀器進行操作.
手持式X光譜儀的獨特之處在于它能對每個讀數(shù)提供誤差估計值。分析時間越長分析的結果越精確。
儀器即能顯示分析值，也能顯示標準偏差值，這樣，操作員就可繼續(xù)測量以得到期望值。這可應用在礦體表面，節(jié)省時間和金錢，使你有信心在它的指導下進行操作。
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