超聲波探傷儀是一種便攜式工業(yè)無(wú)損探傷儀器，它能夠快速便捷、無(wú)損傷、**地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷（焊縫、裂紋、夾雜、折疊、氣孔、砂眼等）的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。
既可以用于實(shí)驗(yàn)室，也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。
超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高，對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn)。
其主要特性有：
（1）超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長(zhǎng)時(shí);
則超聲波在缺陷上反射回來(lái)，探傷儀可將反射波顯示出來(lái)；
如缺陷的尺寸甚至小于波長(zhǎng)時(shí)，聲波將繞過(guò)缺陷而不能反射；
（2）波聲的方向性好，頻率越高，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置.
（3）超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（1兆赫茲）的超聲波所傳播的能量，相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬(wàn)倍。
超聲波探傷儀具有電池電量檢測(cè)能力，當(dāng)電池電量太低時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)?？梢韵葘?duì)電池充電一段時(shí)間，或者直接接入電源適配器，然后再開機(jī)。
超聲波探傷儀常見故障排除方法
1、不能開機(jī)或開機(jī)后馬上又自動(dòng)關(guān)機(jī)，電池電量不足，進(jìn)行充電。
2、使用過(guò)程中出現(xiàn)顯示異常，某種原因引起內(nèi)存混亂，恢復(fù)出廠設(shè)置，重新開機(jī)后打開另外正常的探傷通道。
3、沒(méi)有信號(hào)或有信號(hào)時(shí)有時(shí)無(wú)探頭，連線接觸不良重新插拔。
4、死機(jī)，按電源鍵無(wú)法關(guān)機(jī)，可能收到強(qiáng)磁場(chǎng)等干擾，連續(xù)按【電源】鍵 4 秒鐘強(qiáng)制關(guān)機(jī)，然后一分鐘后重新開機(jī)。
5、隨著電子技術(shù)和軟件技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，超聲波探傷儀在不斷地更新?lián)Q代。
相信不久的將來(lái)，更加先進(jìn)的新一代數(shù)字智能化超聲探傷儀將逐步取代傳統(tǒng)的模擬探傷儀，以圖像顯示為主的探傷儀將會(huì)在工業(yè)檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。
無(wú)回波
(1)探頭是否連接正確；
(2)探頭方式設(shè)置是否恰當(dāng)，如果探頭設(shè)置為雙晶或者穿透探頭，而接入的是單探頭，則不會(huì)有回波；
(3)探頭線是否正常，探頭與探頭線接觸是否正常，可用一個(gè)鑷子(金屬)以接觸探頭座的內(nèi)芯，如果有雜波，則儀器良好，應(yīng)該是探頭線損壞；
(4)增益、顯示平移、探頭零點(diǎn)、信號(hào)抑制等參數(shù)設(shè)置是否恰當(dāng)；
(5)無(wú)回波時(shí)的簡(jiǎn)單處理方法：將系統(tǒng)參數(shù)恢復(fù)到出廠狀態(tài)，然后用一根新探頭線連接直探頭，在耦合良好的薄試塊上探測(cè)，如有回波則可能為原參數(shù)設(shè)置不當(dāng)或者探頭線接觸不良。
超聲波探傷儀死機(jī)
(1)參數(shù)設(shè)置是否合乎探傷工藝，若參數(shù)設(shè)置有誤，在探傷過(guò)程中會(huì)造成運(yùn)算錯(cuò)誤，導(dǎo)致超聲波探傷儀死機(jī)。
(2)電池幾乎用光的瞬間，因?yàn)殡妷汉艿?，屏幕可能顯示混亂或被凍結(jié)，如同死機(jī)。此時(shí)將儀器關(guān)機(jī)充電，或者接上電壓適配器后再開機(jī)使用，一般能恢復(fù)正常。
如果發(fā)現(xiàn)未進(jìn)入探傷界面即顯示混亂，可能是參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤或者經(jīng)過(guò)強(qiáng)烈的震動(dòng)，可以先關(guān)機(jī)，30秒后再開機(jī)觀察。
在規(guī)定探傷靈敏度下，從探傷面至能沒(méi)出缺陷的最小距離。
一、水平線性
1）測(cè)準(zhǔn)零點(diǎn)；
2）聲程標(biāo)度設(shè)為Y或S；總聲程范圍設(shè)為125mm（即每格聲程設(shè)為12.5mm）；
3）使25mm厚試塊的一至五次回波依次出現(xiàn)在第二、四、六、八和十格，保持探頭不動(dòng)，調(diào)整增益、進(jìn)波門位，使進(jìn)波門內(nèi)回波高為50%，依次讀出一至五次回波聲程值（Y或S）。
二、分辨力測(cè)試
1）用戶在CSK-IA試塊上移動(dòng)直探頭，當(dāng)85mm和91mm兩處的回波波峰等高且調(diào)至50%，記下增益值A(chǔ)。
2）穩(wěn)住探頭，將85mm和91mm兩處的回波波谷調(diào)至50%，記下增益值B。
3）分辨力=A-B
三、垂直線性
1）在CS-1-5試塊上移動(dòng)直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為100%。
2）增益步長(zhǎng)調(diào)至2dB，增益每次比上次減2dB。
3）每減一次增益記下當(dāng)前波幅值%。
四、動(dòng)態(tài)范圍
1）在CS-1-5試塊上移動(dòng)直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為100%。
記下增益值A(chǔ)。
2）使200mm深F2平底孔處的回波高調(diào)對(duì)剛剛能看到波幅，
記下增益值B。
3）動(dòng)態(tài)范圍=A-B。
五、靈敏度余量測(cè)試
1）在CS-1-5試塊上移動(dòng)直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為50%。
記下增益值A(chǔ)。
2）除去探頭，增加增益，使噪聲電平達(dá)10%，記下增益B。
3）靈敏度余量=A-B。
449717568
