保持光學(xué)元件的清潔對于保證好的光學(xué)性能來說非常重要，當(dāng)顯微鏡不用時，顯微鏡應(yīng)當(dāng)用儀器提供的防塵罩蓋住。若光學(xué)表面及儀器有灰塵和污物，在擦清表面前應(yīng)當(dāng)先用吹氣球吹去灰塵或用柔軟毛刷去污物。
光學(xué)表面應(yīng)當(dāng)用無絨棉布，鏡頭紙或用專用的鏡頭清潔液沾濕的棉花簽來清潔。清避免使用過多的溶劑，擦鏡紙或棉花簽應(yīng)恰當(dāng)沾濕溶劑但不要因為使用太多溶劑而滲透到物鏡內(nèi)，造成物鏡清晰度下降及物鏡損壞。
顯微鏡中目鏡物鏡的表面鏡頭最容易受到灰塵和污物及油的粘污，當(dāng)發(fā)現(xiàn)襯度，清晰度降低，霧狀發(fā)生時，則需要用放大鏡仔細檢查目鏡，物鏡前面鏡頭的狀況。
低倍物鏡有相當(dāng)大的前組鏡片，能用纏在手指上的棉布或棉簽及擦鏡紙上用乙醇沾濕來擦拭。40X、100X需多加小心地用放大鏡仔細檢查。高倍鏡中為了達到高的平坦度，應(yīng)用了一個有小曲率半徑凹面的前組鏡頭，在擦拭這組鏡頭時用帶有棉球的牙簽或棉花簽清潔。擦拭鏡頭表面要輕。不要過度用力和有刮擦動作，并確信棉簽觸到鏡頭的凹面。在清理后用放大鏡檢查物鏡是否損傷，如果必須要去開觀察鏡筒，小心不要接觸到鏡筒下面的外露鏡頭，鏡頭表面如有手指印會降低成像的清晰度，用清潔物目鏡的方法進行擦拭。
當(dāng)顯微鏡使用100X油鏡使用完時，請及時將油鏡表面擦拭清楚并檢查40X物鏡是否沾上油，如有請及時擦清。使顯微鏡始終保持成像清晰。
金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計算機（數(shù)碼相機）通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機（數(shù)碼相機）顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
為保證系統(tǒng)的使用壽命及可靠性，注意以下事項：
1、試驗室應(yīng)具備三防條件：防震（遠離震源）、防潮（使用空調(diào)或干燥器）、防塵；電源：220V±10%，50HZ；溫度：0°C—40°C。
2、調(diào)焦時注意不要使物鏡碰到試樣，以免劃傷物鏡。
3、當(dāng)載物臺墊片圓孔中心的位置遠離物鏡中心位置時不要切換物鏡，以免劃傷物鏡。
4、亮度調(diào)整切忌忽大忽小，也不要過亮，影響燈泡的使用壽命，同時也有損視力。
5、所有（功能）切換，動作要輕，要到位。
6、關(guān)機時要將亮度調(diào)到最小。
7、非專業(yè)人員不要調(diào)整照明系統(tǒng)（燈絲位置燈），以免影響成像質(zhì)量。
8、更換鹵素?zé)魰r要注意高溫，以免灼傷；注意不要用手直接接觸鹵素?zé)舻牟Ａw。
9、關(guān)機不使用時，將物鏡通過調(diào)焦機構(gòu)調(diào)整到最低狀態(tài)。
10、關(guān)機不使用時，不要立即該蓋防塵罩，待冷卻后再蓋，注意防火。
11、不經(jīng)常使用的光學(xué)部件放置于干燥皿內(nèi)。
12、非專業(yè)人員不要嘗試擦物鏡及其它光學(xué)部件。目鏡可以用脫脂棉簽蘸1:1比例混合液體甩干后擦拭，不要用其他液體，以免損傷目鏡。
倒置金相顯微鏡配置優(yōu)良的平場消色差物鏡與大視野平場目鏡，照明系統(tǒng)采用柯勒照明方式，視場照明均勻。產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，操作方便舒適。
適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。
攝像型三目倒置金相顯微鏡成像清晰，操作靈活，性價比極高。主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，或用于觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等。廣泛應(yīng)用在工廠、實驗室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域。
總放大倍數(shù)：100X-1250X攝像型金相顯微鏡是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與電腦及工業(yè)攝像機通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察;
還可在電腦顯示器上實時顯示顯微圖像，可單張、定時、連續(xù)采集顯微圖像，可對顯微圖像定倍縮放，疊加比例尺。
倒置金相顯微鏡功能與特點：
1、采用平場物鏡和平場目鏡，視場平坦，清晰度高。
2、兩路光路輸出，一路用于觀察，一路用于連接攝像裝置。
3、采用帶有刻度標(biāo)尺的雙層機械載物臺和落射照明裝置，帶可變光欄，亮度均勻可調(diào)。
倒置金相顯微鏡適用于研究人員制作標(biāo)準(zhǔn)定倍定標(biāo)顯微圖像、定倍定標(biāo)圖譜比對及論文發(fā)表。
同時系統(tǒng)也可對所采集的圖像內(nèi)目標(biāo)進行直線、折線、圓、角度、面積等多種測量，可為研究檢驗人員研究電子元器件，芯片線路板、紡織印刷，農(nóng)林牧種子形態(tài)，固體粉末及液體中微顆粒，薄膜微孔提供精確的分析檢驗數(shù)據(jù)。
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