操作注意事項：
1、近紅外熒光光譜儀光譜區(qū)范圍，是介于可見光和中紅外光之間的電磁波，在檢測樣品前我們首先需要了解測試光譜范圍
2、在使用前還需要對儀器進行校正，近紅外熒光光譜儀的校正相對比較麻煩，為了得出準(zhǔn)確的數(shù)值，一般需要80個以上的代表性樣品用來進行校正，這一步驟我們通常稱為模型建立
3、在檢測過程中，首先用近紅外熒光光譜儀測定樣品的光譜區(qū)，通過軟件自動對模型庫進行檢索，選擇正確模型計算待測樣品質(zhì)量參數(shù)
近紅外熒光光譜儀可以分為固定波長濾光片、光柵色散、快速傅立葉變換、聲光可調(diào)濾光器和陣列檢測五中類型。不同類型都有其自身的有缺點，另外近紅外光譜儀重要的是模型庫建立和光譜范圍，用戶在選擇前一定要搞清楚自己使用要求再進行購買，否則容易花冤枉錢。
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X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。
熒光光譜儀的性能特點：
1、專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
2、電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
3、內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
4、抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
5、針對不同樣品可自動切換準(zhǔn)直器和濾光片。
6、任意多個可選擇的分析和識別模型
7、相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
8、多變量非線性回歸程序
9、智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
該技術(shù)的主要特征為：
利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率;
采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比; 采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性;
利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度;
采用相似自動分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響;
采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的消除。
熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等；
以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。
X熒光分析快速，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。
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