> 儀器知識(shí) > 技術(shù)參數(shù) > 超聲波測(cè)厚儀的基本分類工作原理及應(yīng)用領(lǐng)域 測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。
位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變；
該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。
利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂鍍層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式：
連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
1.具有存貯功能：
可存貯300個(gè)測(cè)量值；
2.具有刪除功能：
對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除涂層測(cè)厚儀存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
3.可設(shè)置限界：
對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
4.具有與PC機(jī)通訊的功能：
可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī)，以便涂層測(cè)厚儀對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；
5.具有電源欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；具有錯(cuò)誤提示功能；具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
【導(dǎo)讀】測(cè)厚儀指的是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的一種常見儀器，通常根據(jù)裁量對(duì)象的不同，也采用相應(yīng)的測(cè)厚儀，例如超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、激光測(cè)厚儀等，雖然他們的種類
測(cè)厚儀指的是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的一種常見儀器，通常根據(jù)裁量對(duì)象的不同，也采用相應(yīng)的測(cè)厚儀，例如超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、激光測(cè)厚儀等，雖然他們的種類比較繁多，但是其使用方法大致是一樣。 儀器網(wǎng)-專業(yè)分析儀器服務(wù)平臺(tái),實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備交易網(wǎng),儀器行業(yè)專業(yè)網(wǎng)絡(luò)宣傳媒體。 相關(guān)熱詞： 等離子清洗機(jī),反應(yīng)釜,旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀,高精度溫濕度計(jì),露點(diǎn)儀,高效液相色譜儀價(jià)格,霉菌試驗(yàn)箱,跌落試驗(yàn)臺(tái),離子色譜儀價(jià)格,噪聲計(jì),高壓滅菌器,集菌儀,接地電阻測(cè)試儀型號(hào),柱溫箱,旋渦混合儀,電熱套,場(chǎng)強(qiáng)儀萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)價(jià)格,洗瓶機(jī),勻漿機(jī),耐候試驗(yàn)箱,熔融指數(shù)儀,透射電子顯微鏡。
1、測(cè)厚儀在使用的過(guò)程中，應(yīng)當(dāng)注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
2、在測(cè)量的過(guò)程中，應(yīng)當(dāng)注意側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3、在測(cè)量時(shí)，應(yīng)當(dāng)注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4、在測(cè)量的過(guò)程中，應(yīng)當(dāng)注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。
5、在使用時(shí)，應(yīng)當(dāng)確保周圍的其他電器不回產(chǎn)生磁場(chǎng)，從而干擾了磁性測(cè)厚法。
6、測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
8、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
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